Способ получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопии

 

О П И С А Н И Е 290207

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

МПК G 01n 21/16

Заявлено 02.1.1969 (¹ 1295645/25-28) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Комитет по делам изобретеиий и открытий при Совете Министров

СССР

Опубликовано 22.XII.1970. 15юллетень Л 2 за 1971

Дата опубликования описан,iя 4.II.1971

УДК 620.179,6 (088.8) Авторы изобретения

О. А. Балашов, С. И. Гурбанов и В. А. Смирнов

Заявитель

СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ЭТАЛОНА ДЕФЕКТА ДЛЯ МЕТОДА

КАПИЛЛЯРНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ

Предлагаемое изобретение может найти применение в области капиллярной дефектоскопии для определения качества индикаторной хкидкости и проявляющего состава, применяемого для выявления дефектов, находящихся па поверхности деталей.

Известны способы получения эталона дефекта, в KoTopblx Hd металлическую пластину пНносят слой металла, затем подвергают сс механическому воздействию с помощью пуансона либо изгибают се так, что покрытие приходит в напря>кепное состояние EI образуется ряд трещин.

Недостатком этих способов является трудность получения эталонов дефектов опредсл-пных размеров, трещины получаются узкие и мелкие, плохо различаются кап ллярным I методами.

Предлагаемый способ позволяет получать дефекты заданных размеров.

Это достигается тем, что прп нанесении на пластину слоя металла оставляют на ней площадку заданных размеров, не покрытую слоем металла, затем соединяют две такие пластины, совмещая площадки без слоя металла, и подвергают их диффузионной сварке.

Сущность способа заключается в следующем.

Берут две металлические пластины с чистотой обработки соединяемых сторон, например, D7.

На обработанные стороны пластин наносят слой металла, например, напылением в вакууме, оставляя при этом площадки заданных размеров. не покрытые слоем металла. Затем

10 соединяют эти пластины, совмещая площадки без слоя металла, и подвергают их диффузионной сварке.

Предмет изобретения

Способ получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопип, заключающийся в том, что на металлическую пластину наносят слой металла, отличающийся тем, что, 20 с целью создания дефекта заданного размера, при нанесении на пластину слоя металла оставляют на ней площадку заданных размеров, не покрытую слоем металла, затем соединяют две такис пластины, совмещая площадки

25 без слоя металла, и подвергают их диффузионной сварке.

Способ получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопии 

 

Похожие патенты:
Изобретение относится к неразрушающим методам контроля материалов и изделий
Изобретение относится к области неразрушающих методов контроля материалов и изделий

Изобретение относится к индикаторным пенетрантам, применяемым при капиллярных методах дефектоскопии различных деталей, узлов и агрегатов, и может быть использовано в автомобильной, авиационной, космической и других отраслях промышленности
Изобретение относится к индикаторным пенетрантам, применяемым при капиллярных методах дефектоскопии различных деталей, узлов и агрегатов, и может быть использовано в автомобильной, авиационной, космической и других отраслях промышленности
Изобретение относится к индикаторным пенетрантам, применяемым при капиллярных методах дефектоскопии различных деталей, и может быть использовано в автомобильной, авиационной, космической отраслях промышленности

Изобретение относится к капиллярной дефектоскопии, а именно к составам цветных пенетрантов, применяемых для цветного контроля изделий ответственного назначения

Изобретение относится к нефтяной промышленности, а именно к процессам подготовки нефти, газа и воды, в частности, на поздней стадии разработки нефтяных месторождений

Изобретение относится к качественному и количественному составу жидких индикаторных пенетрантов для капиллярной дефектоскопии, то есть для выявления, как правило, поверхностных микродефектов в деталях машин, изготовленных преимущественно из гидрофильных материалов и работающих в условиях интенсивных и, нередко, знакопеременных (термо)механических нагрузок
Изобретение относится к измерительной технике
Изобретение относится к неразрушающему контролю изделий
Наверх