Устройство для сравнительных испытаний фотоэлементов

 

Класс 1 е,27;31

21 -а9АВТОРСКОЕ СВИДЕТЕЛЬСТВО КА ИЗОБРЕТЕКИЕ

Л 365 24

ОПИСАНИЕ

i устройства для сравнительных испытаний фотоэлементов.

К авторскому свидетельству H. О. Чечик, заявленному

26 марта 1932 года (ваяв. свид. ¹ 106150).

О выдаче авторского свидетельства опубликовано 31 мак 1934 года.

365) Одным из основных параметров фотоэлемента является его чувствительность.

Последняя зависит от рабочего напряжения, при котором определялась чувствительность, от значения светового потока, от частоты света и от спектральной характеритистики источника. Массовые испытания фотоэлементов для определения абсолютного значения чувствительности при необходимости соблюдения всех вышеуказанных условий весьма сложны.

Предлагаемое устройство позволяет производить испытания фотоэлементов, исходя из принципа производства не абсолютных испытайий, а относительных в сравнении с эталоном.

Что особенно важно, так это то, что сравнительные испытания фотоэлемен1 тов оказывается возможным в данном случае производить в условиях, почти приближающихся к тем, в которых фотоэлемент нормально должен работать.

Эталонный и сравниваемый с ним испытуемый фотоэлементы в устрой-„. стве, согласно изобретению, включаются в два плеча моста Уитстона, два других плеча коего представляют собою проградуированные активные сопротивления с подвижными контактами, к коим присоединен соответствующий индикатор. По положению указанных подвижных контактов в момент наступления равновесия моста при прерывистом синхронном освещении обоих фотоэле- ментов производится отсчет, т. е. определяются сравнительные качества испытуемого фотоэлемента.

На прилагаемом чертеже схемати чески изображено устройство согласно изобретению.

Постоянный иэточник света, например, лампа накаливания 1, через вращающиеся синхронно друг другу перфорированные диски 2 целесообразно связанные с осью общего двигателя 3, освещает прерывисто помещенные за дисками фотоэлементы 4. Фотоэлементы, один из коих является эталонным, а другой — сравниваемым с ним, испытуемым, включены в плечи моста Уитстона, двумя другими плечами коего являются проградуированные предварительно активные сопротивления 5 и 6. Сопро тивления снабжены подвижными контактами, соединенными с соответствующим индикатором, например, телефоном 7, по положению коих в момент равновесия моста производится отсчет, характеризующий степень эквивалентности испытуемого фотоэлемента эталонному.. Весьма удобно вдоль пути движения контактов (практически лишь одного) сопротивлений располагать соответствующие шкалы с нанесенными на них делениями, отвечающими пределам допусков по техническим условиям для фотоэлементов, или же просто процентам.

Для частного случая, например, определения относительной чувствительности фотоэлементов, применяемых в звуковом кино, необходимо иметь следующие данные: источник электрической энергии в цепи моста с напряжением B 250 вольт, сопротивления, равные 75 000—

100000 омов каждое, при световом потоке от источника, равном, примерно, 0,1— - 0,3 люмена. Частоту световых импульсов желательно брать равной некоторой средней или максимальной, имеющей место при нормальной работе фотоэлемента.

Конечно, предполагается, что описанному сравнительному испытанию фотоэлементов предшествует отбраковка всех испытуемых фотоэлементов по величине порога зажигания при определенной выбранной освещенности фотоэлемента.

Предмет изобретения.

Устройство для сравнительных испытаний фотоэлементов, выполненное в форме моста Уитстона, в два плеча ,которого включаются испытуемый и эталонный фотоэлементы, отличающееся тем, что два других плеча представляют собой проградуированные активные сопротивления, снабженные подвижными контактами для присоединения индикатора, по положению которых производится отсчет, причемдля освещения фотоэлементов прерывистым светом требуемой частоты применены два синхронно вращающихся перфорированных диска

Эксперт К. П. Ширэков

Редактор A. М. Сабуреиков

Гвп. „11ромлоам) раф . Тамбовскал,. 12. Зак. 4717

Устройство для сравнительных испытаний фотоэлементов Устройство для сравнительных испытаний фотоэлементов 

 

Наверх