Микрорефрактометр

 

Я 37891 lk. i, 56

АВТОРСКОЕ СВИДЕТЕЛЬСТВО НА ИЗОбРЕТЕНИЕ

Влаее C2h, gg

ОПИСАНИЕ микрорефрактометра.

К авторскому свидетельству Н. Е. Веденеевой и А. Н. Волкова, заявленному 5 января 1534 года (спр. о перв. № 140043).

О выдаче авторского свидетельства олу6ликовано 31 июля 1934 года. (321) Изобр-тение относится к микрореф- рактометру для измерения показателей преломления жидкостей.

На схематическом чертеже фиг. 1 изображает вид прибора сверху; фиг. 2— разрез по АВ фиг. 1; фиг. 3 — вид сверху крышки прибора, и фиг. 4 — продольный разрез фиг. 3.

Микрорефрактометр состоит из рамки r с приклеенной к ней плоско параллельной стеклянной пластинкой 8 и с двумя стеклянными призмочками Р, и Р2, наложенными друг на друга. Призмочка Р, из флинтгласа с показателем преломления от 1,75 до 1,9. Призмочка Р, из кронгласа имеет матовую грань,на которую опирается грань призмы P Между призмами помещается капля испытуемой жидкости. Рамка r опирается на полированное дно металлической чашечки t u может быть поворачиваема в ней. В двух диаметрально противоположных положениях рамка задерживается штифтами Х.

Прибор покрывается металлической крышкой, несущей небольшой футляр, в котором помещается третья призмочка Р„служащая для градуировки микрорефрактометра. При градуировке призмочка Р, помещается на пластинку S вместо призмочки P

Вводя линзу Бертрана и пользуясь светофильтрами, отсчитывают по окулярному микрометру положение границы полного внутреннего отражения и по формулам для микрозефрактометра Райта вычисляет показатель преломления жидкости.

Предмет изобретения.

1. Микрорефрактометр с призмами Райта, отличающийся тем, что прилегающие одна к другой при мы Рт и P укреплены на плоско параллельной стеклянной пластинке S, прикленной к рамке r, опирающейся на полированное дно металлической чашечки 1 и могущей быть на ней поворачиваемой между двумя лежащими диаметрально противоположно штифтами К.

2. При микрорефрактометре по п. 1 применение металлической крышки, несущей небольшой футляр с третьей призмой Р„служащей для замены призмы P при градуировке микрорефрактометра.

Фиг.3

Фиг1 Ри г.и

), Ю

Эксперт н редяктов Н. Н. Георгневскнй

Тип;,ПномволнграФ . Таибавскаа, 12. Зак 5670.

К азторекому евидетельетву Н. Е, Веденеевой; и А, Н, Водкова Я 37891

Микрорефрактометр Микрорефрактометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к способам и устройствам для определения показателя преломления окружающей среды, находящейся в жидкой или газовой фазе, по изменению характеристик поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ)

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к способам определения оптических параметров (показателя преломления, показателя поглощения и толщины) проводящих образцов по значениям характеристик поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) и может быть использовано в металлооптике, при производстве металлодиэлектрических волноведущих структур, металлических зеркал и подложек, а также в других областях науки и техники

Изобретение относится к аналитическому приборостроению, в частности к способам осуществления массообменных процессов с применением оптоволоконных химических датчиков

Изобретение относится к области технической физики, а точнее, к рефрактометрическим приборам, предназначенным для измерения показателя преломления и других связанных с ним параметров твердых и жидких сред

Изобретение относится к области передачи и получения информации посредством поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) терагерцового (ТГц) диапазона (частота от 0,1 до 10 ТГц) и может найти применение в спектроскопии поверхности твердого тела, в электронно-оптических устройствах передачи и обработки информации, в инфракрасной (ИК) технике

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к, микроэлектронным датчикам - химическим и биосенсорам, предназначенным для одновременных акустических на поверхностно-акустических волнах (ПАВ) и оптических исследований физико-химических и (или) медико-биологических свойств тонких порядка 0.1 мкм (100 нм) и менее нанопленок

Изобретение относится к спектрофотометрии и может быть использовано для исследования пространственного распределения комплексного показателя преломления по поверхности сильно поглощающих материалов

Изобретение относится к модуляционным способам спектральных измерений, в частности оптических постоянных, и предназначено для определения параметров поверхности и слоев тонких пленок, например, полупроводниковых гетероструктур
Наверх