Прибор для определения толщины слоя, наносимого на металлическое изделие

 

в

Класс 42Ь, 11

A0i0PLH0E И !Д1НП6ь130 Н Fi305FEiEhgE

ОПИСАНИЕ прибора для определения толщины слоя, наносимого на металлическое изделие.

К авторскому свидетельству !4. Ф. Попова, заявленному 25 июля

1933 года (спр. о перв, ¹ 132458).

0 выдаче авторского свидетельства опубликовано 31 октябри l934 года. (525) Одним из основных требований, предьявляемых к гальваническим .покрытиям, является требование определенной толщины слоя покрытия; особенно это имеет место для покрытий хромом. Так как толщина слоя покрытия обычно заключается в пределах нескольких сотых, а иногда и тысячных долей миллиметра, то обмер должен производиться с большой точностью. Предлагаемый прибор для определения толщины покрытия на стальных деталях основан на свойствах постоянного магнита, сила взаимодействия которого с деталью меняется сообразно с изменением толщины слоя вещества, покрывающего деталь и более инертного в магнитном отношении, не. жели железо.

Если один из полюсов магнита постепенно суживается на острие, заканчивающееся однако не иглой, а перпендикулярнойос и магнита площадкой в 1 лм, то при прикосновении к этому острию стальной детали масса ее вещества, находящаяся в практической сфере действия магнита, окажетси весьма незначительной. Следствием этого будет то, что правильность весьма заметных колебаний силы притяжения, происходящих даже от незначительных (0,01 или +

+ 0,005 лм) изменений слоя покрытия, не будет нарушаться колебаниями, зави, сящими от профиля детали, ее массы, ма рки стали и т. д. Это происходит вследствие того, что эти последние ко лебания слишком незначительны в срав нении с первыми.

На чертеже фиг. 1 изображает предлагаемый прибор, а фиг. 2 дает кривую с результатами испытаний прибора.

Прибор состоит из неравноплечего коромысла 1, свободно качающегося на призме 2, поддерживаемой подставкой 3.

Винты 4 подставки не позволяют коромыслу производить слишком большие, ненужнь е колебания . На коромысле 1 при помощи призмы 5и крючка б укреплен магнит 7, нижний конец 10 которого помещен в гнезде, лишающем его возможности совершать колебания в горизонтальной плоскости. В состоянии покоя вес магнита уравновешивается длинным плечом коромысла 1 и грузом в виде ролика 8, когда этот последний касается плеча в точке 9.

Когда же к концу 10 магнита 7 подводится и прижимается стальная или железная деталь, равновесие нарушается, и чтобы его восстановить, необходимо ролик 8, при посредстве винта 11, движущегося по направляющим 12, передвигать вправо, пока магнит не оторвется от детали. Тогда прекращают вращение винта, и стрелка 13 на шкале, б предварительно проградуированной, показывает искомую толщину слоя.

Изобретателем проведено испытание предлагаемого прибора.

Испытаниям подвергались образцы стали S38-2 прямоугольного сечения (20 X 20 )C 100 мм), покрытые хромом (Cr), Несмотря на неблагоприятные условия испытаний, получены следующие результаты: толщина

Ст вял отрывная сила в гр оадиояж жомФР4

mo ac: d А

Эксперт и редактор А. Л. Элькишею

0,ОО о,о1

0,02

О,О3

О,О4

0,05

0,06

О,О7

93

74

66

47

34

29

27

Эти результаты показаны на кривой зависимости отрывной силы от толщины слоя хрома (фиг. 2). Таким образом чувствительность прибора достигает порядка нескольких граммов на 0,01 лм.

Предмет изобретения.

Прибор для определения толщины слоя, наносимого на металлическое из- делие, отличающийся применением по,стоянного магнита 7, помещенного на вдном конце поворотного на призме 2 коромысла 7, второй конец которого находится под воздействием переставного вдоль него груза 8, служащего для отрыва магнита от изделия с целью определить по размеру линейного перемещения груза разницы в силе взаимодействия магнита с металлическим изделием до покрытия последнего и после него в зависимости от толщины слоя покрывающего вещества, более инертного в магнитном отношении, чем металл изделия.

Тип „Греч Труд Зак 038 400

Прибор для определения толщины слоя, наносимого на металлическое изделие Прибор для определения толщины слоя, наносимого на металлическое изделие 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе

Изобретение относится к измерительным приборам общего назначения и может найти применение для компенсации действия веса подвижного узла прибора
Наверх