Устройство для определения точности шлифовки образца, стрелы прогиба образца и т.п.

 

- АВТОРСКОЕ СВИДЕТЕЛЬСТВО HA ИЗОБРЕТЕНИЕ

K 29278

ОПИСАНИЕ устройства для определения точности шлифовки образца, стрелы прогиба образца и т. п.

К авторскому свидетельству Б. В. Гальфтера, заявленному

15 января 1931 года (спр. о перв. № 81827), с присоединением заявки от 26 февраля 1931 года (ваяв. свид. № 840?О).

О выдаче авторского свидетельства онубликовано 28 февраля 1933 года.

Изобретение касается устройства для определения точности шлифовки образца, стрелы прогиба и т. п. путем применения в качестве измерителя электрического конденсатора с изменяющейся емкостью.

В предлагаемом устройстве одна из пластин конденсатора закреплена на неподвижной державке параллельно испытуемому образцу; роль же второй пластины выполняет сам образец.

На чертеже фиг. 1 изображает вид устройства сверху; фиг. 2 †электрическ схему устройства; фиг. 3 †схе устройства для измерения прогиба валов.

Предлагаемое устройство (фиг. 1) состоит из пластины а конденсатора, укрепленной на державке b, выполненной из диэлектрика (фибра, эбонит). Державка Ь сидит в пазу штатива с, прикрепленного наглухо к супорту станка. Второй-пластиной конденсатора является обрабатываемый предмет d . Пластина а устанавливается так, чтобы между нею и предметом d образовался зазор в 11/z — 2 -дш.

Как уже сказано выше, пластину а и предмет d рассматривают как емкость.

Включают эту емкость в мостик Соти (фиг. 2) как конденсатор С и подстраивают емкость Сэт так, чтобы стрелка галванометра g пришла, примерно, в нулевое положение (С1 и С2 †постоянн конденсаторы, емкость которых должна быть того же порядка, что и Сх и Сэт). Затем начинают шлифовать предмет до его полной готовности (первый предмет проверяют обычными измерительными инструментами). Когда шлифовка предмета окончена, снова изменяют емкость н добиваются того, что стрелка гальванометр а устанавливается точно на нуль. После этого начинают обрабатывать (шлифовать) следующие идентичные первому предметы, пока стрелка гальванометра не станет снова на нуль.

Точность этого способа увеличивается при включении гальванометра не непосредственно в мостик, а через усилитель.

Наличие около емкости Сх больших-масс металла не должно влиять на точность измерений, так как относительная отдаленность позволяет считать их влияние постоянным.

Устройство может быть использовано прн обработке как внешних, так и вну-. тренних поверхностей.

Для измерения прогиба валов предлагается устройство по фиг. 3. В опорах В

78 фиг.2 фиг.!

Тип. «Искра». и С вращается вал А, прогиб которого желательно определить. На прочной, не дрожащей опоре подводится к валу пластина конденсатора Д. В случае, если вал А не доформирован, емкость эта должна быть постоянной.

Изменение емкости фиксируется мостиком Соти, в который она включена, как неизвестная переменная величина.

По величине изменения емкости воз. можно судить о степени прогиба.

Предмет изобретения.

Устройство для определения точности шлифовки образца, стрелы прогиба образца и т. п. с применением электрического конденсатора с изменяющейся емкостью в качестве измерителя, отличающееся тем, что одна Hs пластин конденсатора закреплена в неподвижной державке параллельно испытуемому образцу, а в качестве второй пластины конденсатора служит сам испытываемый образец.

Устройство для определения точности шлифовки образца, стрелы прогиба образца и т.п. Устройство для определения точности шлифовки образца, стрелы прогиба образца и т.п. 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области абразивной обработки и может быть использовано на окончательных операциях обработки рабочей поверхности цилиндров, преимущественно длинномерных гильз

 // 155615

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх