Патент ссср 302856

 

О П

ИЗОБРЕТЕНИЯ

302856

Саюа Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства Ке

Заявлено 20.11.1970 (№ 1405979, 26-9) с присоединением заявки гче

Приоритет

Опубликовано 28.IV.1971. Бюллетень М 15

Дата опубликования описания 1Л П.1371

МПК Н 05k 3/00

Комитет по делам иаобретепкй и открытий при Совете Мпиистров

СССР

УДК 621.3.049.75 (088.8) Лвторы изооретения В. A. Григорьев, H. Ф. Карантирсв, А. Б. Невский и И. Д. Зайцева

Заявитель

ФОТО ШЛЬАО Н

Предмет из о бр етения

10,Известен фотошаблон, выполненный в виде прозрачной стеклянной подложки с нанесенным на ее поверхность маскирующим непрозрачным слоем по заданному рисунку схемы.

Цель .изобретения — увеличение срока службы фотошаблонов.

Для этого в качестве материала маскирующего слоя, использована пленка борида металла, например циркония с равномерно распределенными по толщине слоя микрогранулами циркония и бора, 11рименение борида металла определяет высокую адгезию максирующего слоя к подложке, а гранулы чистого металла и бора служат

KBK бы армирующим звеном, снимающим внутренние напряжения и предотвращающим лоявление микротрещин при тепловых ударах.

Существенную роль играют размеры гранул, определяющие разрезашающую способность фотошаблона. Это особенно важно в микроэлектронике, где размеры отдельных элементов весьма малы. Наилучшее разрешение может быть получено при размерах гранул вещества пленки, близких к молекулярным.

Фотошаблон, выполненный в виде прозрачной стеклянной подложки с нанесенным на ее поверхность маскирующим непрозрачным слоем по заданному рисунку схемы, отличаюитийся тем, что, с целью повышения срока службы фотошаолонов, в качестве материала маскирующего слоя использована пленка борида металла, например, циркония с равномерно распределенными,по толщине слоя микрогранулами цирконня и бора.

Патент ссср 302856 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике газофазной химической модификации приповерхностного слоя полимерных пленок, в частности фоторезистных, и может быть использовано на операциях контроля фотолитографических процессов, а также любых других пленок, прозрачных в видимой области спектра на отражающих подложках

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике технологических процессов производства изделий микроэлектроники, в частности к контролю фотолитографических процессов с использованием газофазной химической модификации приповерхностного слоя пленок фоторезистов
Изобретение относится к технологии изготовления полупроводниковых приборов, в частности к способам удаления слоя фоторезиста с поверхности кремниевых подложек методом плазмохимического травления
Изобретение относится к технологии изготовления полупроводниковых приборов, в частности к удалению резистивной маски с поверхности кремниевых пластин после фотолитографических операций
Изобретение относится к способам допроявления фоторезистов и может быть использовано в области микроэлектроники интегральных пьезоэлектрических устройств на поверхностных акустических волнах (фильтры, линии задержки, резонаторы)

Изобретение относится к способу освещения, по меньшей мере, одной среды для быстрого прототипирования (СБП), в котором указанное освещение осуществляют, по меньшей мере, двумя одновременно индивидуально модулируемыми световыми пучками (ИМСП), проецируемыми на указанную среду для быстрого прототипирования (СБП), и в котором указанную среду для быстрого прототипирования освещают световыми пучками (ИМСП), имеющими, по меньшей мере, два различных содержания длин волн (СДВ1, СДВ2)
Наверх