Фотоэлектрический тензометр

 

Ес 6а(о !Гр1ъ 1 "

lci, н и

on

ИЗОБРЕТЕНИЯ

3150 2l

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 09.111.1970 (№ 1411519/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 21.1Х.1971. Бюллетень че 28

Дата опубликования описания 14.XII.1971

МПК G 01Ь 11/IG

Комитет по делам изобретеыий и открытий прп Совете Министров

СССР

УДК 531.781.2:539.3 (088,8) Авторы изобретения

Н. К. Пивовар, 3. Д. Вишневецкий и Ю. М. Звеков

Специальное конструкторское бюро испытательных машин

Заявитель

ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ТЕНЗОМЕТР

Изобретение относится к оптическим средствам измерения деформации в испытательной технике.

Известны устройства для измерения деформаций испытуемых образцов материалов в испытательной камере со смотровым люком, содержащие осветитель и фотоприемники, устанавливаемые против прозрачного люка испытательной камеры, и метки измерительной базы образца с отражателями и шторками, прикрепленными к образцу.

Предлагаемый фотоэлектрический тензометр отличается тем, что с двух сторон каждой шторки установлены отражательные зеркала, закрепленные на подвижных кронштейна:, установленных на оправе смотрового люка испытательной камеры, благодаря этому повышается точность измерений.

На фиг. 1 изображен описываемый тензометр; на фиг. 2 — то же, разрез по А — А на фиг. 1.

Фотоэлектрический тензометр для измерения деформаций образцов 1 материалов содержит: испытательную камеру 2 со смотровым люком 8, в который вставлено кварцевое стекло 4; осветитель 5 и фотоприемники 6, устанавливаемые против люка 8 камеры 2; жаростойкие шторки 7, закрепленные на образце; отражательные зеркала 8, установленные с двух сторон каждой шторки внутри камеры на оправе люка посредством кронштейнов 9.

Фотоэлектрический тензометр работает следующим образом. При деформации образца лучи от осветителя проходят сквозь люк в камеру, попадают на одно из зеркал и, отразившись от него, на границу шторки. Далее лучи отражаются от другого зеркала и, выходя из люка, попадают на фотоприемники, в которых отраженные лучи образуют изображение гра10 ниц шторок. Расстояние между шторками подлежит измерению.

При установке пли замене образцов положение зеркал может быть изменено в соответствии с размером и положением образца без

15 нарушения настройки тензометра, что достигается благодаря механической развязке зеркал и образца. Зеркала перестанавлпваются путем выдвижения кронштейнов.

В процессе длительных испытаний образцов

20 возможна смена люка вместе с зеркалами, не прерывая испытания.

Предмет изобретения

Фотоэлектрический тензометр для измере25 ния деформаций образцов материалов в испытательной камере со смотровым люком. содержащий осветитель и фотоприемники, устанавливаемые против прозрачного люка испытательной камеры, и две шторки, устанавливае30 мь|е на испытуемом образце на границах из315021

Составитель А. Босой

Редактор Л.,)Каворонкова Техред Л. В. Куклина Корректоры: Т. А. Бабакина и T. Китаева

Заказ 3405/10 Изд. № 1432 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д..4/5

Типография,.пр. Сапунова, 2 мерительной базы, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, с двух сторон каждой шторки установлены отражательные зеркала, закрепленные на подвижных кронштейнах, установленных на оправе смотрового люка испытательной камеры.