Рефрактометр

 

324560

О П И С А Н И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 09.V11.1968 (№ 1255391/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

iiI. Кл. G Oln 21/46

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 535.322.4(088.8) Опубликовано 23.XII.1971. Бюллетснь ¹ 2 за 1972

Дата опубликования описания 18.II.1972

Лвтор изобретения

Ю. A. Степин

Заявитель

РЕФРАКТОМЕТР

Изобретение относится к оптико-мехашгческой технике и может быть использовано прп разработке рефрактометров и призменпых монохроматоров.

Всем призменным спектральным приборам присущ общий недостаток — кривизна спектральных линий. В рефрактометрах этот недостаток обусловливает погрешности измерения углов выхода лучей из призмы, «Радиусные» щели позволяют уменьшить влияние кривизны на точность измерения показателей преломления (только в очень узком интервале спектра), но не увеличивают точности определения дисперсии.

Цель изобретения — устранение искривления спектральных линий в рефрактометрах.

Цель достигается тем, что в предлагаемом рефрактометре применены вторичная входная щель, расположенная на фокальной поверхности камерного объектива, и оптическая система, состоящая из объектива, аналогичного камерному, установленного так, что его фокальная поверхность в местах расположения промежуточных изображений совпадает с фокальной поверхностью камерного объектива, а оптические оси их разнесены на половину расстояния между основной и вторичной входными щелями, и уголкового отражателя.

На чертеже приведена принципиальная схема предлагаемого рефрактометра (угломерпое устройство — лимб и система отсчета по нему — па чертеже не показаны).

Реф оактометр имеет основную входную щель прибора 1, внеосевой параболопд (объектив) 2, дпспергирующую призму 8, вспомогательный внеосевой параболоид (объектив)

4, уголковый отражатель 5 с регулировкой угла, вторичную входную щель б, предназначенную для диафрагмпрования пучков, моду1О лятор 7, плоское зеркало 8, предназначенное для излома оптической осп прибора, выходную щель прибора 9, эллиптическое зеркало

10, приемник излучения 11. Щели 1, б, 9 расположены на фокальной поверхности объек15 тпва 2.

Действует прибор следующим образом.

Свет через входную щель 1 прибора попадает па объектив 2 и идет параллельным пучком на призму 8. Дпспергированный призмой свет

2О вновь попадает на объектив 2, который создает на своей фокальной поверхности изображение спектра (все спектральные лшши пскривлепы и выпуклостью обращены в сторону длинных волн, на рисунке — влево). С фо25 кальной поверхностью объектива 2 совпадает фокальная поверхность объектива 4. Изображение спектра, полученное с помощью объектива 2, является предметом для объектива

4, который вместе с отражателем 5 дает изоб3О ражеппе первичного спектра в плоскости ще324560

15 го

Предмет изобретения зо

Рефрактометр, содержащий входную и выходную щели, коллиматорный и камерный объективы, диспергирующую призму, приемпик излучения, отличающийся тем, что, с целью устранения искривления спектральных 35 линий, он содержит вторичную входную щель, расположенную на фокальной поверхности камерного объектива, и оптическую систему, состоящую из объектива, аналогичного камерному, установленного так, что его фокальная 4О поверхность в местах расположения промежуточных изображений совпадает с фокальСоставитель Е. Афанасьев

Техред Е. Борисова Корректор Е. Зимина

Редактор И. Орлова

Заказ 228/13 Изд. № 66 Тираж 448 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж,-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 ли б. Участок спектра, совмещенный со щелью б, можно назвать вторичной входной щелью прибора (эта щель в отличие от основной щели 1 является не механической, а «световой» и в данном случае играет роль ограничивающей диафрагмы). «Световая» щель имеет переменную кривизну, равную кривизне спектральных линий первичного спектра. Свет, прошедший через щель б, попадает на объектив 2, параллельным пучком направляется на призму 8, проходит через призму и вновь попадает на объектив 2, который дает вторичное изображение участка спектра, прошедшего через щель б, в плоскости выходной щели прибора 9, Спектральные линии во вторичном спектре оказываются выпрямленными.

Одновременно со вторичным изображением спектральных линий, пропущенных щелью 6, на выходную щель прибора 9 попадает какойто участок первичного спектра, Модуляция света, только прошедшего через щель б, модулятором / позволяет выделить полезный сигнал и устраняет влияние засветки приемitø<à 11. ной поверхностью камерного объектива, а оптические оси их разнесены на половину расстояния между основной и вторичной входными щелями, и уголкового отражателя.

5 ф

Рефрактометр Рефрактометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к способам и устройствам для определения показателя преломления окружающей среды, находящейся в жидкой или газовой фазе, по изменению характеристик поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ)

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к способам определения оптических параметров (показателя преломления, показателя поглощения и толщины) проводящих образцов по значениям характеристик поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) и может быть использовано в металлооптике, при производстве металлодиэлектрических волноведущих структур, металлических зеркал и подложек, а также в других областях науки и техники

Изобретение относится к аналитическому приборостроению, в частности к способам осуществления массообменных процессов с применением оптоволоконных химических датчиков

Изобретение относится к области технической физики, а точнее, к рефрактометрическим приборам, предназначенным для измерения показателя преломления и других связанных с ним параметров твердых и жидких сред

Изобретение относится к области передачи и получения информации посредством поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) терагерцового (ТГц) диапазона (частота от 0,1 до 10 ТГц) и может найти применение в спектроскопии поверхности твердого тела, в электронно-оптических устройствах передачи и обработки информации, в инфракрасной (ИК) технике

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к, микроэлектронным датчикам - химическим и биосенсорам, предназначенным для одновременных акустических на поверхностно-акустических волнах (ПАВ) и оптических исследований физико-химических и (или) медико-биологических свойств тонких порядка 0.1 мкм (100 нм) и менее нанопленок

Изобретение относится к спектрофотометрии и может быть использовано для исследования пространственного распределения комплексного показателя преломления по поверхности сильно поглощающих материалов

Изобретение относится к модуляционным способам спектральных измерений, в частности оптических постоянных, и предназначено для определения параметров поверхности и слоев тонких пленок, например, полупроводниковых гетероструктур
Наверх