Способ определения величины и направления относительного смещения контуров отверстий

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБ Р ЕТ ЕН И%

330330

Союз Советских

Социалистических

Республик

К; АВтОи .кОМу-. свИдетеЛьСтвУ.

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 20.Ч!!!.1970 (№ 1470009125-27) с присоединением заявки № - Приоритет

Опубликовано 07.Ч!!.1972. Бюллетень М 8

Дата опубликования описания 12.IX.1972

М. Кл. G Olb 5/24

В 21d 371ОО

G 01b 3130

Комитет по делам изпоретеиий и. открытий. при- Совете. Мииистрев.

СССР

УД К 681.2.082/083 (088-.8) ЭСФФОЮЗНАЮ

В.-T. С. Чинчус и А. С. Ряутас

ИИЬФв Ф- < ЪИЕЮМ

4ффвффмка НЙА

Специальное конструкторское бюро вычислительных машин

Авторы изобретения

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ И НАПРАВЛЕНИЯ

ОТНОСИТЕЛЬНОГО СМЕЩЕНИЯ КОНТУРОВ ОТВЕРСТИИ

В ДВУХ ПЛ ИТАХ

Поедмет изобретения

Изобретение относится к средствам контроля взаимного расположения отверстий двух плит, в частности пуансонодержателя и матрицы разделительного штампа.

Известные способы контроля взаимного расположения отверстий двух плит осуществляются с помощью комплекта стержней, установленных в отверстия. Этот способ влечет за собой необходимость изготовления специальной дорогостоящей оснастки.

По предлагаемому способу в качестве оснастки применяются стержни, выполненные в форме плоскопараллельных пластин различной ширины;

Способ иллюстрируется чертежом.

Для проведения контроля измеряемые плиты располагают на некотором расстоянии одна от другой.

В отверстие одной из плит вводят одну из пластин и располагают таким образом, чтобы ее противоположные плоскости касались противолежащих участков поверхности, окружающей отверстие по линиям ее пересечения с противоположными плоскостями плиты, а торец пластины упирался в кромку поверхности, ограничивающей отверстие в другой плите.

Пластину удаляют и затем в это же отверстие первой плиты вводят пластину большей ширины; устанавливают ее таким образом, чтобы противоположные боковые плоскости касались тех же участков поверхности отверстия, что и первая пластина, а торец скользил по вертикальной поверхности, окружающей отверстие во второй плите, после чего определя5 ют величину смещения отверстий в обеих плитах на измеряемых участках по формуле

Z= — (Лт.+Л -01), 1

10 где Z — расстояние между участками измеряемых контуров отверстий двух плит;

h — высота первой плиты;

f — расстояние между плитами в момент замера;

15 М вЂ” разность между диаметром (шириной) отверстия первой плиты и шириной первого стержня;

Лт+1 — разность между диаметром (шириной) отверстия первой плиты и ши20 риной второго стержня.

Плиты 1 и 2 с отверстиями 8 и 4 расположены одна над другой. Для осуществления контроля в отверстия 8 и 4 вводят стержень 5, 25 а затем стержень 6.

Способ определения величины и направле30 ния относительного смещения контуров отвер330330

Ай 6

Составитель В. Нестеров

Редактор К. Шаиаурова Текред Е. Борисова

Корректор Л. Царькова

Заказ 2584 5 Изд № 1095 Тираж 448 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете М инистров СССР

Москва, Ж-35, Раушскал иаб., д, 4 5

Типографии, пр. Сапунова, 2 стий в двух плитах, расположенных последовательно с помощью комплекта стержней, устанавливаемых в отверстия, отличающийся тем, что, с целью унификации и удешевления контрольных средств, стержни выполняют в виде плоскопараллельных пластин различной ширины, плиты располагают на некотором расстоянии одну от другой, в отверстие одной из плит вводят одну из пластин и располагают ее таким образом, чтобы ее противоположные плоскости касались противолежащих участков поверхности, окружающей отверстие по линиям ее пересечения с противоположными плоскостями плиты, а торец пластины упирается в кромку поверхности, ограничивающей отверстие в другой плите, пластину удаляют, и затем в это же отверстие первой плиты вводят пластину большей ширины, устанавливают ее таким образом, чтобы противополемные боковые-- плоскости касались тех

В - ° ..: >gal. юв

4i ОВФ в .-. ° м Р Ф е и в 4" ™т м е Мффб же участков поверхности отверстия, что и первая пластина, а торец скользил по вертикальной поверхности, окружающей отверстие во второй плите, после чего определяют величи5 ну смещения отверстий в обеих плитах на измеряемых участках по формуле

Z= — (И+И+1), 2й

10 где Z — расстояние между участками измеряемых контуров отверстий двух плит;

h — высота первой плиты;

t — расстояние между плитами в момент замера;

Ai — разность между диаметром (шириной) отверстия первой плиты и шириной первого стержня;

Ж+1 — разность между диаметром (шириной) отверстия первой плиты и ши20 риной второго стержня.

Способ определения величины и направления относительного смещения контуров отверстий Способ определения величины и направления относительного смещения контуров отверстий 

 

Похожие патенты:
Наверх