Эталон прямолинейности

 

Союз Соввтския

Социалистическия

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 04Х.1970 (№ 1437820/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 21.1т .1972. Бюллетень № 14

Дата опубликования описания 22.V.1972

М. Кл. G 01Ь 5/28.

Ковтитвт по лелем ивобрвтвиий и открытий при Совете Мииистрсв

СССР

УДК 531.715.2(088.8) ® 1Р- ОЮЗНАя и"-. т-У6ЕЧ iQQg библиотек„а ц яд

Автор изобретения

В. Ф. Дзюба

Заявитель

Украинский научно-исследовательский институт станков и инструментов

ЭТАЛОН ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к средствам для измерения непрямолинейности в машиностроении.

Известны эталоны прямолинейности, выполненные в виде тонкой натянутой нити, Отсчет отклонений от эталона осуществляют с помощью измерительного микроскопа.

Недостатком известных эталонов является гравитационный прогиб тонкой нити, который принципиально не может быть устранен натяжением ее.

С целью повышения точности измерения нить помещена в кювету, заполненную прозрачной жидкостью, плотность которой равна плотности нити.

Кроме того жидкость и нить имеют одинаковые коэффициенты объемного расширения, что позволяет использовать эталон прямолинейности в широком интервале температур.

На чертеже изображен эталон прямолинейности.

Он состоит из кюветы 1 и натянутой внутри нее тонкой нити 2, выполненной из полимерных материалов. Толщина нити не превышает нескольких десятков микрон и соответствует толщине штрихов на измерительных шкалах, Лицевая сторона кюветы закрыта покровным стеклом 8, позволяющим наблюдать нить с помощью измерительного микроскопа. Внугренняя полость кюветы заполнена прозрачной жидкостью, плотность которой равна плотности пити. Кроме того, должно быть обеспечено равенство объемных коэффициентов расширения для жидкости и нити, вследствие чего сохраняется равенство плотностей в достаточно широком интервале температур.

Измерение прямолинейности с помощью эталона прямолинейности выполняют следующим образом: устанавливают эталон прямолинейности на контролируемую поверхность; благодаря тому, что плотность нити и плотность окружающей ее среды равны, выталки15 вающая сила и вес нити будут взаимно уравновешены и нить будет подвержена действию только внутренних сил и примет прямолинейную форму; на контролируемую поверхность устанавли20 вают каретку с измерительным микроскопом; перемещают каретку с измерительным микроскопом вдоль эталона прямолинейности и наблюдают за положением нити, смещеш|е изображения нити в поле зрения микроскопа

25 принимают за отклонение контролируемой поверхности от прямолинейности.

Предмет изобретения

1. Эталон прямолинейности, выполненный в

30 виде тонкой натянутой нити и предназначен336496

А-Д

Составитель В. Романов

Техред Е. Борисова

Корректор Т. Китаева

Редактор В. Новоселова

Заказ 1421/10 Изд. № 644 Тираж 448 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

ЛЪосква, Ж-35, Раушская наб., д. 4/6

Типография, пр. Сапунова, 2 ный для работы с измерительным микроскопом, отличающиася тем, что, с целью повышения точности измерения, нить помещена в кювету, заполненную прозрачной жидкостью, плотность которой равна плотности нити, 2. Эталон прямолинейности по п. 1, отличающийся тем, что коэффициент объемного расширения заполняющей кювету жидкости равен коэффициенту объемного расширения

5 нити.

Эталон прямолинейности Эталон прямолинейности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к строительству и эксплуатации автомобильных дорог и предназначено для контроля несущей способности и ровности дорожных конструкций

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки несущей способности поверхностных слоев изделий из различных материалов

Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек

Изобретение относится к измерениям точности формы поверхности, а именно к способам и устройствам для контроля отклонений от плоскостности

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости поверхности в заводских условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов
Наверх