Способ определения количества фотометрируемоговещества
. колко е,:,—
357845
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Совз Советск
Социалистических
Республик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”
М. Кл. G 01п 15 00
Заявлено 04.1Х.1969 (№ 1359657/26-25) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 26.Х.1973. Бюллетень № 43
Дата опубликования описания 27,III,1974
Государственный комитет
Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
УДК 576.8.095.325 (088.8) Авторы изобретения
Ю. P. Хруст и М. М. Якобашвили
Заявитель Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЛИЧЕСТВА ФОТОМЕТРИРУЕМОГО
ВЕЩЕСТВА
Изобретение относится к области исследования гетеро генных структур и может быть использовано, например, в биологии для определения количества фотометрируемого вещества в биологических клетках, внутриклеточных структурах и т. д.
Известны способы определения фотометрируемого вещества посредством сканирования малым зондом по площади объекта, многоволновой и точечный.
Однако эти способы длительны и трудоемки и требуют достаточно большого времени, а также сложной математической обработки результатов.
Цель изобретения — ускорение процесса измерения количества фотометрируемого вещества.
Цель достигается тем, что изображение, освещенное монохроматическим светом и выделенное диафрагмой объекта, подают на светоприемную поверхность ЭОПа, обладающего логарифмической световой характеристикой, после чего измеряют световой поток от объекта и фона, прологарифмированный в каждой точке, и по разности полученных значений определяют величину, пропорциональную количеству фотометрируемого вещества в объекте.
На чертеже графически показаны световые характеристики ЭОПа в зависимости от освещенности, поясняющие предлагаемый способ.
Осуществляется способ определения количества фотометрируемого вещества следующим образом.
Согласно закону Бугера — Ламберта — Беера общее количество фотометрируемого вещества в объекте пропорционально интегралу
10 по площади объекта от логарифма отношения освещенностей до и после поглощения: м= Jlg ds, Ео
j5 где М вЂ” количество фотометрируемого вещества, S — площадь объекта, Eo — освещенность до поглощения, Š— освещенность в различных точках по
20 площади объекта после прохождения света;
Ig = igE — А„
Е, так как I gEo — постоянная, величина.
Функция IgE в интервале от 1 до Е0 отличается от световой характеристики ЭОПа на некоторую постоянную величину В0.
IgE: Eppes(E) < 4„
357845
Составитель Н. Шлякова
Техред Е. Борисова
Редактор И. Орлова
Корректор Е, Миронова
Заказ 623)3 Изд. Ми 155 Тираж 755 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 где Е„,„(Е) — функция освещенности в различных точках изображения на выходном окне ЭОПа.
Для перехода к световой характеристике
ФЭУ используют пропорциональность между
Е„,(Е) и током l(E) на нагрузке ФЭУ, Функции Е„,„(Е) и 1gF делят на коэффициент пропорциональности К и получают тогда
Л= J(1gE — А,) ds I 1(E) dE — (А+ В) s.
Для получения величины, пропорциональной количеству фотометрируемого вещества, изображение объектива, окруженное диафрагмой, проецируют на светоприемную поверхность ЭОПа и измеряют ток на нагрузочном сопротивлении ФЭУ. Таким же образом измеряют ток при проецировании посредством той же диафрагмы на светоприемную поверхность фона, на котором находился объект, что соответствует величине (А+В) S. Разность этих двух отсчетов есть величина, пропорциональная количеству фотометрируемого вещества в объекте.
5 Предмет изобретения
Способ определения количества фотометрируемото вещества в гетерогенных структурах с использованием микроскопа и ФЭУ, отлича10 юи ийся тем, что, с целью ускорения процесса измерения, изображение объекта, окруженное диафрагмой, освещают монохроматическим светом, подают на светоприемную поверхность
ЭОПа, обладающего логарифмической светоl5 вой характеристикой, измеряют световой поток от объекта и фона, прологарифмированный в каждой точке в соответствии со световой характеристикой прибора, и по разности полученных значений определяют величину, 20 пропорциональную количеству фотометрируемого вещества в объекте.
