Способ измерения степени поляризации излучения

 

в тс т,, г в -т — рЯ

360593

О П И С-А Е

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Соеетскик

Социалистическнз

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 01.ll.1971 (№ 1618394!26-25) с,присоединением заявки №вЂ”

Приорютет—

Опубликовано 28.Х!.1972. Бюллетень ¹ 36

Дата опубликования описания 22.1.1973

М. Кл. С Oln 21/44

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 535.518(088.8) Автор изобретения

И. Е. Залесский

Белорусский государственный университет им. В. И. Ленина

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СТЕПЕНИ ПОЛЯРИЗАЦИИ

ИЗЛУЧЕНИЯ

Изобретение относипся .к методике измерения степени поляризации излучения частично поляризованных световых потоков,,которые представляют собой смесь неполяризова нного естественного и поляри30IB31HHîãо света.

Известные фотоэлектрические способы измерения степени поляриза|ции излучения не

îбес печи вают высокой то вности при больших интвнсивностях исследуемых излучений, а точность о ко нчательного результата зависит от м ногих фа кторов.

Предлагаемый способ и змерения о бес печивает абсолютные измерения степени поляризации излу чений минимальной интенси внос ти.

Это достигается тем, что из мерение максимальной и минимальной интенси в ностей излучения, прошедшего через оптико-меха нический модулятор (ОММ) излучения и падающего на фо токатод ФЭУ, осуществляют квазиодно време нно,,причем за время од ного о борота ОММ максим альну ю и минималыную интенсивности и злучения измеряют дважды, т. е. осу щесввляют четыре измерения. Эта ос о бенность позволяет ослабить влияние .нестабилыности инTBHlcHBHocTH излучения исследуемого объекта на результат измерения, На фиг. 1 представлена упрощенная блоксхема цифрового электронного иамерительного устройства, ооуществляющего предлагаемый способ; на фиг. 2 — временные диаграммы, где а — интенсивности временного исследуемого излучения, прошедшего ОММ и регистрируемого фотоумножителем, б — стро5 бирующих импульсов, которые задают временные интеpiBBJlbl, в те чение которых производится суммирование или вычитание «одноэлектронных» импульсов ФЭУ цифровым электрolHíûì устрGéñòüîì.

Параллельный пучок< исследуемого излучения проходит через ОММ, состоявший из вращающихся в общей ollpaBe поляри зацион ной призмы (или поляроида) и расположенной под азимутом 45 к нему фазовой пласти|нки в чепверть волны, и разлагается в спектр монохроматором. Монохроматор выделяет из прошедшего через ОММ излучения узкий спектральный интервал, который регистрируется фотоумножителем I. ФЭУ работает,в режиме счетчика фотонов, т. е. кажды > пер вич ный фотоэлектрон, вылетевший с фотокатода ФЭУ, вызывает на его аноде импульс тока. Количество таки х «одноэлектронных» илппульсов проопорционалыно интенсивности излучения, падающего на фотокатод ФЭУ.

Эти H>11lllgTlb cbI усиливаются широкополосным усилителем, дискри ми нируют ся по амплитуде и формируются в импульсы стандартной фор мы с помощью электрон ной cxBMbl 2. Ста ндартные электрические импульсы по кабелю

360593 поступают на вход .цифрового электронного устройства, состоящего из схем 3 со впадений, блока 4 а втомати ки, двух электро нных счетчиков 5 и реверси внoIro счетчика 6. На олраве ОММ установлен фотоэлектр1ический датчик 7, электрические импульсы которого упра вляют работой блока 4 автоматики.

Когда ОММ при водится во вращение с частотой, поляризо ва нная часть исследуемого излучения модулируется по и нтенсивно сти с удвоенной ча стотой 2 . Временная диаграмма HHTeIHIcHIBHocTH излучения,,прошедшего через ОММ и падающего на фотокатод

ФЭУ, представлена на фиг. 2, а. Бланк 4 автоматики генерирует стробирующие лм пулысы, синхро низирован1ные во времени с ма ксимальной I,T и минимальной 1 интенсивностями этого излучения (см. фиг. 2, б). Стробирующие импульсы у правляют работой схем 3 совпадений и электронных счетчика в 5 и 6.

Когда стробирующий им(пулыс с длительностью, равенной <, синхрони зирован с ма ксимумом интенси в ности излучения, про шедшего через, модулятор и измеряемого ФЭУ, то схе,мы Я со впадений пропускают N; «одноэлектрон ных» импульсов ФЭУ. Эти им пулысы поступают на вход суммирующего счет чика 5 и на вход «сложение» реверсивного счетчика 6 и регистрируются им и. Таким образом, измеряется среднее за время строб-им пульса значение HIHTeIHicHIBIHocTH в,ма ксимуме. Ко гда стробирующий импульс той же длительности синхронизирован с ми нимумом интенсивности излучения, прошедшего через ОММ и измеряемого ФЭУ, что схемы совпадений лропускают и; «одноэлектронных» импульсов ФЭУ.

Эти импульсы посту пают,на вход суммирующего счетчика 5 и на вход «вычитание» реверсивного счетчика 6. После этих даух измерений количество импульсов, зарегистриро- 40 ванных счетчиком 5, равно (N;+n;). Количество импульса в, зарегистрированное реверсивным счетчиком 6, и равное (N; — n;), ггропорционалыно разности иа ксимальной и минимальной значений и нтенси1вностей иссле- 45 дуемого излучения (In< — I ) .

У помянутый лроцесс измерения многократно повторяют .в течение интервала времени, выбранного по желанию исследователя.

Степень поляризации излучения P олределяют по формуле:, ., N; — -и,)

I (N„. + а;) где (N; — n;) — количество элек грических ижпулысов, наколленных в реверсивном счет-! чике 6, à > (N;+n;) — количество электрических им пульсов, на коплен ных,в суммирующем счетчике 5, за время измерения.

Предмет изобретения

Спасо|6 измерения степени поляризации излучения, за ключающийся:в том, что исследуемое излучение модулируют оптико-механи ческым модулятором, выделяют необходи

:мый спектральный и нтер вал, когорый детектируют .фотоумножителем и регистрируют электронным устройством, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствителыно сти и получения абсолютных значений степени поляризации исследуемого:излучения, максимальную и .ми нималыную интенсивности излучения, прошед шего:через о птико-механический модулятор, измеряют два раза за оди н оборот модулятора в течение одинаковых интервалов времени, которые расположены симметри чно во времени относительно этих макси мума в и мвнимумов, совпадая с Hèmè, при этом уд|военное значение амллитуды переменной составляющей и нтенси вности излучения о пределяют вычитанием ми н имальной и нтенсивности этого излучения из максимальной с помощью пересчетного устройства и уд военное значение средней интенсивности йзлучения определяют сложением максималыной и ми нимальной интенсивностей и злуче ния с помощью второго пересчетного устройства, а знак и численное значение степени поляризаци1и излучения вычисляют путем деления показаяий перво го переачеиного .стройства .на показания,второго.

360593! !

I ! ! ! (1 а 1

Ig»

Irn о

Составитель С. Соколова

Техред Т. Миронова

Редактор А. Батыгин

Корректоры A. Васильева и T. Гревцова

Тип. Харьк. фил. пред. сПатент>

Заказ 686/2355 Изд. № 1799 Тираж 406 Подписное

ЫНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Способ измерения степени поляризации излучения Способ измерения степени поляризации излучения Способ измерения степени поляризации излучения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к горной автоматике и к полярископам и поляриметрам и может быть использовано для определения коэффициента линейной поляризации света при отражении от аморфных полупроводниковых покрытий для создания на этой основе светильников, которые могут быть использованы для наблюдения объектов в условиях пыли и тумана и для исследования и наблюдения деформируемости горных пород в массивах

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для исследования оптической активности жидких и твердых сред

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств поверхности и может быть использовано для измерения физических постоянных и параметров материалов

Изобретение относится к фотоэлектрическим поляриметрам и может быть использовано для измерения концентраций оптически активных веществ в медицине, химии, биологии, пищевой промышленности

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к оптикоэлектронному приборостроению и предназначено для измерения и исследования тонкопленочных структур и оптических констант поверхностей различных материалов путем анализа поляризации отраженного образцом светового пучка

Изобретение относится к методам измерения параметров электромагнитного излучения

Изобретение относится к оптическому приборостроению, конкретно к поляриметрическим устройствам для измерения оптической активности веществ, и может быть использовано для промышленного контроля и научных исследований в аналитической химии, биотехнологии и медицине

Изобретение относится к области технической физики и касается способов измерения азимута плоскости поляризации оптического излучения, вызываемых изменением поляризационных свойств поляризующих элементов либо воздействием на азимут поляризации оптически активным веществом
Наверх