Патент ссср 374970

 

Г т

О П И-Ю А- Е

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистических е еспублик (11) 374970

К АВТОРСКОМУ СВИДВТИДЬСТВУ (61) Зависимое от авт, свидетельства (22) Заявлено 01 08,69 (21) 1353465/26 25 (51) М, Кл. с присоединением заявки ть

Я- 01 A 21/40

Гасударстоенный ноинтет

Совета Мнннстрое СССР по делам нзабретеннй н QTXpblTHN (32) ПриоритетОпубликовано 05.11.73. Бюллетень № 45 (53) УДК 535.568 (088.8) Дата опубликования описания 10.07. 75

Л. А. Тумерман и Б. О. Глотов (72) Авторы изобретения

Институт молекулярной биологии АН СССР (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ ЛИНЕЙНОГО ДИХРОИЗМА ВЕЩЕСТВ

"/= Э„(к,сОБ и 8„$üà Þ3=

=3, й- н + Q -й Ку-0082яьи) 1

Изобретение касается способа измерения линейного дихроизма веществ в проходящем свете и может найти применение в химических, биохимических, физических и других исследованиях. 5

Известны статические способы измерения; линейного дихроизма, отпичающиеся крайне низкой точностью.

Цель изобретения - повышение точности измерения линейного дихроизма.

Для измерения используют пучок линейно поляризованного света с вращающейся плоскостью поляризации, что позволяет свести измерение линейного дихроизма к измерению глубины модуляции электрического сиг- т5 нала.

На чертеже представлена схема, содержащая источник 1 света, монохроматор 2, линейный поляризатор 3, вращающийся с круговой частотой и, исследуемое вешест- .а0 во 4, фотоэлектрический приемник 5, устройство 6 измеряющее коэффициент модуляции и устройство 7 регистрации.

По предложенному способу монохроматический пучок линейно поляризованного све- 25

2 та с вращающейся плоскостью поляризации как источник 1 света проходит через исследуемое вещество 4 и попадает на катод фотоэлектрического приемника 5. Ток последнего подается на вход устройства 6, измеряющего коэффициент модуляции этого тока. Результат измерения регистрируется устройством 7.

Интенсивность света /, попадающего на фотоприемник, определяется выражением где К и К - пропускания, связанные с молярным коэффициентом поглощения 4 формулой

К10 (2) где L = длина пути, проходимого светом в веществе;

С - молярная концентрация исследуемо. го вещества.

37 4 97О

А =Яфе(ьс) дФйпъ .

Ас= Zge(i0) rn, Составитель В.Звереы

Редактор Г.Кагова Техреду.Подурушпна корректоры: A.äçeñoâà

Подписное

Тираж 651

Заказ

Изд. № {p 3$

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, 113035, Раушская наб., 4

Предприятие «Патент», Москва, Г-59, Бережковская иаб., 24

Коэффициент модуляции тока фотоприемника в соответствии с равенством 1 равен где А ц, — измеряемый линейиий дихроизм.

Отсюда измеряемый линейныи дихроизм; выражается через коэффициент модуляции по форму@э»

В случае малости это выражение можно упростить где e - основание натуральных логарифмов, Учитывая. известную в настоящее время точность измерения коэффициента модуляции

-4 -4 (10 3, получаем в случае Й= С-1 10 единиц оптической плотности.

Предмет изобретения

Способ измерения величины линейного дихроизма веществ путем облучения исследуемого вещества пучком света, о т л и ч а ю ш и и с я тем, что, с целью повышения точности и чувствительности измерения, зондирующий пучок монохроматического линейно поляризованного света с вращающейся плоскостью -поляризации пропуСкают через исследуемое вещество и измеряют глу бину модуляции интенсивности полученного пучка света, по которой судят о величине, линейного дихроизма веществ.

Патент ссср 374970 Патент ссср 374970 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к средствам для определения биологически активных веществ и может найти применение в области медицинской техники, а также молекулярной фармакологии

 // 374971

Изобретение относится к области оптических исследований и может быть использовано в лабораторной практике при измерениях вращения плоскости поляризации и кругового дихроизма оптически активных объектов

Изобретение относится к экспериментальным методам исследования дефектов структуры в прозрачных кристаллических материалах и может быть использовано в квантовой электронике, оптоэлектронике и лазерной технике
Наверх