Электромагнитный дефектоскоп

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

386330

Союз Соеетския

Социалиотическиз

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 19.Х.1971 (№ 1707353/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 14.И.1973. Бюллетень № 26

Дата опубликования описания 20.IX.1973

М. Кл. G 01п 27/86

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Миниотров ссср

УДК 620.179,142(088.8) А вторы изобретения

В. А. Добнер и В. К Жуков

Научно-исследовательский институт электронной интроскопии при Томском политехническом институте

Заявитель

ЭЛЕКТРОМАГHHTHblA ДЕФЕКТОСКОП

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано при дефектоскопии труб, проволоки и др.

Известен электромагнитный дефектоскоп, содержащий два последовательно установленных датчика, два измерительных канала, связанных с выходами датчиков, логическую схему, подключенную к выходам измерительных каналов, и индикатор дефектов, соединенный с выходом логической схемы. Для повышения помехозащиты предлагаемый дефектоскоп снабжен датчиком скорости изделия, а логическая схема содержит ячейку «И» и три мультивибратора, вход первого из которых соединен с датчиком скорости и с первым измерительным каналом, а его выход — со входом второго мультивибратора, выход которого соединен со входом ячейки «И», вход третьего мультивибратора соединен со вторым измерительным каналом, а его выход — со входом ячейки «И», выход которой подключен к индикатору.

На чертеже изображена блок-схема предлагаемого электромагнитного дефектоскопа.

Дефектоскоп содержит датчики 1 и 1, установленные на изделии 2 и подключенные к измерительным каналам 3 и У. Логическая схема дефектоскопа содержит мультивибраторы 4, 5, б и ячейку «И» 7 и подключена входом к измерительным каналам, а выходом — к индикатору 8 дефектов.

Датчик 9 скорости подключен через преоб5 разователь 10 к логической схеме.

Дефектоскоп работает следующим образом.

При наличии дефекта в контролируемом изделии 2 срабатывает датчик 1, что приво10 дит к появлению сигнала сначала в первом измерительном канале 8, а через время (Х

Й= — — во втором канале 8 (где тт — расV стояние между датчиками, V — скорость дви1s жения контролируемого изделия) . В первом канале сигнал от дефекта вызывает срабатывание ждущего мультивибратора 4, который вырабатывает прямоугольный импульс длительностью 4=1ь ждущий мультивибратор 5

20 запускается задним фронтом этого импульса, и на его выходе появляется прямоугольный импульс, задержанный на время t>. Этот импульс поступает на один из входов ячейки

«И» 7, на второй вход которой в это время

25 поступает импульс с выхода ждущего мультивибратора б второго измерительного канала Т. Так как импульсы во времени совпадают, то на выходе ячейки «И» появляется сигнал о наличии дефекта, который воздей30 ствует на индикатор 8 дефектов.

386330

Предмет изобретения

t

t

Прохождени.e сигнапа

"рвхоз+сдение

l70HeXlL

Составитель Л. Савенко

Техред Л. Богданова

Редактор Л. Василькова

Корректоры: Е. Михеева и А. Васильева

Заказ 2445/14 Изд. Х 1636 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, N-35, Раушская наб., д. 4!5

Типография, пр. Сапунова, 2

Если скорость движения изделия изменяется, то это изменение фиксируется датчиком 9 скорости и после преобразования схемой 10 меняет длительность импульса мультивибратора, так, чтобы t> t>.

Если на измерительные каналы воздействуют помехи, сдвинутые на время t+t<, то на входе ячейки «и» импульсы с мультивибраторов 5 и б не совпадают, и сигнал на выходе дефектоскопа отсутствует.

Электромагнитный дефектоскоп, содержащий два последовательно установленных датчика, два измерительных канала, связанных с. выходами датчиков, логическую схему, подключенную на выход измерительных каналов, и индикатор дефектов, соединенный с выходом логической схемы, отличающийся тем, 5 что, с целью повышения помехоза1циты, он снабжен датчиком скорости изделия, а логическая схема содержит ячейку «И» и три мультивибратора, вход первого из которых соединен с датчиком скорости и с первым из10 мерительным каналом, à его выход — со входом второго мультивибратора, выход которого соединен со входом ячейки «И», вход третьего мультивибратора соединен со вторым измерительным каналом, а его выход — со

Т5 входом ячейки «И», выход которой подключен к индикатору.

Электромагнитный дефектоскоп Электромагнитный дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх