Интерференционный фильтр
ОПИСАНИЕ 3937IS
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
Союз Советских
Социалистических
Республик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Зависимое от авт. свидетельства ¹
М Кл. G 02Ь 5/28
Заявлено 19.l.1970 (№ 1399558/26-25) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 10.Ч111.1973. Бюллетень № 33
Дата опубликования описания 27.XII.1973
Государственный комитет
Совета Министров СССР ла делам изааретений и открытий
УДК 535.8(088 8) Авторы изобретения
А, Ф. Первеев и Г. А. Муранова
Заявитель
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ ФИЛЬТР
Предмет изобретения
Изобретение относится к области создания интерференционных систем и на их основе— интерференционных светофильтров различных типов для области спектра 20 — 50 мкм.
Известны интерференционные фильтры, изготовленные путем нанесения вакуумным испарением на подложку чередующихся слоев с высоким и низким показателем преломления. 10
Однако такие интерференционные фильтры не могут быть использованы для спектральной области дальше 20 мкм, во-первых, потому, что выбор веществ, прозрачных в этой области, ограничен, во-вторых, в интерферен- 15 ционных светофильтрах слои относительно большой толщины кристаллизуются с образованием крупных кристаллов, что приводит к сильному рассеянию света слоями, а в ряде случаев к отставанию (шелушению) слоев с 20 подложки.
Предлагаемый интерференционный светофильтр позволяет расширить пропускание в области спектра до 20 — 50 мкм.
Сущность изобретения заключается в по- 2s следовательном нанесении на подложку сло- ... ев из CsI u Zn Te, KRS-5, причем слои из
ZnTe нанесены с и числом прослоек из KRS-5.
Многослойные интерференционные фильт- . ры получают следующим способом. 30
На подложку путем вакуумного испарения наносят слой ZnTe (толщиной 0,5 мкм) и тонкую прослойку KRS — 5 (толщиной 0,05 мкм), затем опять слой ZnTe (толщиной 0,5 мкм) и прослойку КК$ — 5 и т. д. После этого наносят слой CsI, затем опять ZnTe с прослойкой KRS — 5 и слой CsI и т. д.
Такие прослойки из KRS — 5, близкие по показателю преломления ZnTe, не искажают оптические характеристики слоя. Были получены слои ZnTe (с прослойками до 5 мкм), без прослоек же невозможно получить слои
ZnTe, толщиной более 1,5 мкм. Использование прослоек в фильтре позволяет уменьшить размер кристаллов, образующих тонкослойное покрытие, уменьшить его рассеяние, улучшить адгезию покрытия к подложке.
Интерференционный фильтр, состоящий из подложки с нанесенными на нее многослойными покрытиями с высоким и низким показателем преломления, отличающийся тем, что, с целью расширения области пропускания фильтра, на подложку последовательно нанесены слои из CsI и ZnTe, KRS — 5, причем слои из ZnTe нанесены с и-числом прослоек из KRS — 5.
