Способ определения глубины
— — 1
p,сесо.o -", qQQив " у1А
404004
СПИ НИЕ
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
Союз Советскими
Сациалистииеских
Республик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 17.111.1965 (№ 947744/26-25) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 26.Х.1973. Бюллетень № 43
Дата опубликования описания 19.111.1974
М. Кл. G 01п 23/18
G 01Ь 15/02
Государственной комитет
Соввтв Мкннотров СССР оо делом изобретении н откре тни
УДК 621.039.84(088.8) Автор изооретения
Заявитель
О. И. Недавний
Томский ордена Трудового Красного Знамени политехнический институт
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЛУБИНЫ
ЗАЛЕГАНИЯ ДЕФЕКТА
ПУТЕМ ПРОСВЕЧИВАНИЯ ИЗДЕЛИЯ
ИОНИЗИРУЮЩИМ ИЗЛУЧЕНИЕМ
Изобретение относится к интроскопии, а именно к использованию радиоактивных излучений для определения качества материалов и изделий, например для определения глубины залегания дефекта или неоднородности в материале, изделии.
Известен способ определения глубины залегания дефекта при помощи двухканального иопизационного дефектоскопа.
Однако известный способ не позволяет автоматизировать процесс определения.
Целью изобретения является автоматизация процесса определения глубины залегания дефекта.
Для этого в двухканальном ионизационном дефектоскопе оси коллиматоров детекторов располагают под острым углом, в вершине которого помещают источник излучения, и при перемещении изделия в направлении, перпендикулярном биссектрисе острого угла, измеряют время между моментами регистрации дефекта первым и вторым детекторами излучения, по величине которого судят о глубине залегания дефекта.
На чертеже приведена схема устройства, ри помощи которого можно реализовать предложенный способ.
В расходящемся пучке излучения источника
1 устанавливают два коллимировацных детектора 2, 3> оси коллиматоров которых пересекаются в точке расположения источника излучения 1 и составляют угол а.
Контролируемое изделие 4 перемещают со скоростью V между источником излучения 1 и детекторами 2, 3 в направлении, перпендикулярном биссектрисе угла а.
Коллиматоры детекторов вырезают из потока излучения узкие пучки, и детекторы 2, 3 регистрируют прохождение (пересечение) де10 фектом 5 пучков излучения. Сигналы с детекторов 2, 3 подают на блок измерения 6.
При различной глубине а залегания дефекта 5 при постоянной скорости V перемещения изделия 4 за время t между моментами реги1о страции дефекта 5 первым 2 и вторым 3 детекторами излучения изделие пройдет различные пути b.
Глубина залегания дефекта
2 а = — ctg — — с, 2 2 где а — глубина залегания дефекта, 2> b --- путь, пройденный изделием за время между моментами регистрации дефекта и детекторами 2 и 3, и — угол между осями коллиматоров, с — - расстояние от источника излучения до
30 изделия.
-404004
Yt а а= ctg — — с, 2 2 (2) Предмет изобретения
Составитель В. Лындин
Техред A. Камышникова
Редактор А. Зиньковский
Корректор 3. Тарасова
Заказ 604/10 Изд. № 187 Тираж 755 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр, Сапунова, 2
Введя скорость перемещения изделия, получим где V — скорость перемещения изделия, 1 — время между моментами регистрации дефекта.
Способ может быть реализован при использовании большинства существующих дефектоскопов, а процесс определения глубины залегания дефекта автоматизирован известными средствами.
Способ определения глубины залегания дефекта путем просвечивания изделия ионизирующим излучением при помощи двухканального ионизационного дефектоскопа, отпичаои1ийся тем, что, с целью автоматизации процесса определения, в двухканальном ионизационном дефектоскопе оси коллиматоров детекторов располагают под острым углом, в вершине которого помещают источник излучения, и при перемещении изделия в направлении, перпендикулярном биссектрисе острого угла, измеряют время между моментами регистрации дефекта первым и вторым детекторами излучения, а глубину залегания дефекта
10 определяют по формуле
Vt a а= ctg — — с, 2 2.где а — глубина залегания дефекта, 15 V — скорость перемещения изделия, t — время между моментами регистрации дефекта первым и вторым детекторами излучения, а — — угол между осями коллиматоров, 20 с — расстояние от источника излучения до изделия.
