Фотоэлектрический дефектоскоп

Авторы патента:

Д. Д. Артамонов , О. П. Бердников

G01B11/30 - для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

ОЙ ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

406И6

Союз Советских

Социал исти меских

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 19.1.1972 (№ 1739039/25-28) слрисоеди,нением заявки №вЂ”

ПриоритетвЂ”

Опубликовано 05.Х1.1973. Бюллетень № 45

Дата опубли кова н и я описания 04Х11.1974

М. Кл. G 01Ь 11/30

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

УДК 531.717.2(088.8) Авторы изобретения

Д. Д. Артамонов и О. П. Бердников

Заявитель

ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ДЕФЕКТОСКОП

Изобретение относится к области,измерительной техники и может оыть .использовано в частности при контроле, качества поверхноспи высокоточных деталей, например по дш,ипн,иков, Известен фотоэлектрический дефектоскоп, содержащий волоконно-оптический канал, вход и выход которого предназначены соответственно для связи с поверхностью контролируемого изделия и оптикоэлектронным преобразователем изображения поверхности .изделия.

Однако надежность этого устройства при контроле тел вращения недостаточная, так как необходима периодическая балансировка волоконно-оптического канала.

С целью устранения этого недостатка пред" лагаемый дефектоскоп снабжен полупрозрачным зеркалом, установленным между источ,ником света, выходом волоконно-оптического канала,и оптико-электронным преооразователем, а вход волоконно-оптического канала сформирован по профилю контролируемой поверхности в пределах телесного угла до 2 стер.

На чертеже,изооражена схема предлагаемого фотоэлектрического дефектоскопа.

Осветительная система: осветитель 1, полупрозрачное зеркало 2, волоконно-оптический канал 8 вЂ” создает, равномерную освещенность поверхности детали 4. Проекционная

5 ветвь: волоконно-оптический канал 8,и объектив 5 вЂ”,изображает контролируемую поверхность на фотокатоде приемно-передающей трубки б типа суперортикона. Регистрирующий блок 7 анализирует изображение и дает

10 оценку .качества поверхности в сответствии с заложенными в него критерия|ми.

П р едм е т,из об р ет ения

I5 Фотоэлектрический дефектоскоп, содержащий волоконно-оптический канал, вход;и выход,которого :предназначены соответственно для связи с,поверхностью :контролируемого изделия,и оптикоэлектронным преоб разователем,изображения поверхности изделия, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности контроля поверхности тел вращения, дефектоскоп снабжен полупрозрачным зеркалом, установленным между, источником света, выходом волоконно-оптического канала и оптикоэлектронным преобразователем, а вход волоконно-оптического канала сформирован по профилю контролируемой поверхности в пределах телесного угла до 2> стер.

406116

Составитель А. Духаиии

Техред Е. Борисова

Корректор О. Тюрина

Редактор Е. Васева

Тип, Харьк. фил. пред. «Патент»

Заказ 217 Изд. № 203 Тираж 743 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб„д. 4/5

Похожие патенты:

Интерферометр // 403949

Способ измерения шероховатости поверхности // 396546

Устройство для сканирования поверхности цилиндрической заготовки // 392330

Устройство для контроля неплоскостности // 387208

Способ поверки плоскомера с помощью оптических средств // 386239

Устройство для оптического контрол|я плоскостности поверхности деталей // 386238

Прибор для автоматического выявления дефектов на движущейся поверхности // 384003

Фотоэлектрическое устройство для измерения шероховатости металлической поверхности // 381885

Оптическое сканирующее устройство // 376655

Устройство для оценки качества поверхности // 375478

Устройство для определения качества поверхности // 2104480

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Способ исследования оптического диска оригинала и устройство для его осуществления // 2107893

Устройство для измерения шероховатости и волнистости поверхности при фиксированных значениях базовой длины // 2116616

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Устройство для измерения поверхностных характеристик // 2124701

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Способ и устройство для высокоточного бесконтактного измерения расстояний поверхностей // 2148790

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Способ контроля параметров наружной резьбы и устройство для его осуществления // 2151999

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Способ контроля параметров внутренней резьбы и устройство для его осуществления // 2152000

Способ детектирования положения линии сгиба на упаковочном полотне и устройство для его осуществления // 2153160

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Устройство для определения шероховатости поверхности // 2156437

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Устройство для контроля шероховатости поверхности изделия // 2156955

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия