Патент ссср 417717

 

4I77I7

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 11.V.1971 (Xo 1658427/26-25) с присоединением заявки М

Приоритет

Опубликовано 28.02.74. Бюллетень ¹ 8

Дата опубликования описания 06.08.74

М. Кл. б 01п 23/22

Государственный комитет

Соаета Министров СССР йо делам изобретений и открытий

УДК 621.386 (008,8) Автор изобретения

Г. В. Павлинский

Заявитель

СПОСОБ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО ФЛУОРЕСЦЕНТНОГО

АНАЛИЗА

Предмет изобретения

Изобретение может быть использовано при рентганоспектральном флуоресцентном диспврсиовном и беэдисперсионном анализе материалов сложного химического состава.

При осуществлении рентгеноспектрального флуоресцентного анализа по известным способам для учета избирательных эффектов возбуждения анализируемого элемента и поглощения первичного излучения атомасеи мешающего элемента вводят поправки в интенсивности флуоресценции на присутствие мешающеDo элемента, поэтому эти способы трудоемки и требуют знания, концентрации мешающего элемента.

Цель изобретения уторостить схему, проведения количественного анализа сложных Irro химичвакому составу материалов.

С этой целью наклон образца к направлению первичного излучения и угол отбора флуоресцентного излучения выбирают с учетом спектрального состава первичного излучения таким образом, чтобы обеспеичть выполнение условия полной взаимной компенсации эффектов избирательного возбуждения атомов анализируемого элемента и избирательного поглощения атомами мешающего элемента первичного излучения, причем вышеуказанные углы при небольших содержаниях определяемого элемента устанавливают постоянными, не зависищими от химического состава проб, а при значительных содержаниях этого элемента определяют по ориентировочному значению его концентрации и предварительно найденным поглощающим характеристикам

5 проб.

Способ рентгеноспектрального флуарвсцент10 ного анализа, включающий операцию устранения влияния избирательных эффектов возбуждения анализируемого элемента и поглощения лервичното излучения атомами мешающего элемента, отл ич а ющий ся тем, что, с

15 целью упрощения схемы проведения количественного анализа сложных по химичестоому составу материалов, наклон образца к направлению первичного излучения и угол отбора флуоресцентного излучения выбирают с

20 учетом спектрального состава первичного иалучения таким образом, чтобы обеспечить выполнение условия полной взаимной компенсации эффектов избирательного, возбуждения атомов анализируемого элемента и избира25 тельного rror;.oè;åíèÿ атомами мешающего элемента первичного излучения, торичем вышеуказанные углы при небольших содержаниях определяемого элемента устанавливают постоянными, не зависящими от химического со30 става проб, а при значительных содержаниях

417717

Составитель И. Петрова

Техред 3. Тараненко Корректор T. Добровольская

Редактор И. Орлова

Заказ 1717/20 Изд. ¹ 1347 Тираж 651 Подписное

Ц1-1ИИПИ Государс-вгн ного кснгнтета Совета Министров СССР по делам изобрегепий и открытий

Москва, iК-35, Раугнская наб., д. 4 5

Типография, пр. Сапунова, 2 этого элемента определяют по предварительно найденны м поглощающим ха рактериспикам пробы и при блаженному значению кон центоации а нализируемого элемента.

Патент ссср 417717 Патент ссср 417717 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств веществ, в частности, при проведении рентгеноспектрального анализа руд после их кислотного разложения и экстракции определяемых элементов

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины лент, полотен и т.п

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, а именно к устройствам рентгеновской и изотопной дефектоскопии объектов, находящихся в труднодоступных полостях
Наверх