Способ измерения фазово-частотных характеристик
1н1 4В957
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Союз Советских
Социалистичесиих
Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 16.12.71 (21) 1725582/18-10 (51) М. 1(л. G lib 5/02 с присоединением заявки
Государственнью комитет
Саввта Министров СССР на делам изобретений и открытий (32) Приоритет
Опубли овано 15.03.74. Бюллетень ¹ 10
Дата опубликования описания 05.08.74 (53) УДК 534.852(088.8) (72) Автор изобретения
А. И. Вичес (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ФАЗОВО-ЧАСТОТНЫХ
ХАРА КТЕР ИСТИ К
Изобретение относится к области приборостроения, а именно к области магнитной записи.
Известны способы измерения ф азово-частотных характеристик, основанные в большинстве своем на косвенных измерениях, что связано с большой временной задержкой между процессами записи и воспроизведения в аппаратуре магнитной записи. При этом необходимо также учитывать, что нестабильность временного масштаба также не позволяет осуществлять прямое измерение фазового сдвига в устройстве в отличие от измерений тех же видов в обычных электрических цепях. Таким образом, большинство известных способов не позволяют получать объективную оценку фазовых соотношений в тракте аппаратуры магнитной записи, а это приводит к недостаточно точным измерениям фазово-частотных характеристик при наличии повышенного на эти измерения влияния задержки сигнала между процессами записи и воспроизведения.
Целью изобретения является повышение точности измерений фазово-частотной характеристики тракта аппарата магнитной записи и уменьшение влияния на них эффекта задержки сигнала между процессами записи и воспроизведения.
Это достигается за счет того, что по предлагаемому способу первоначально измеряют мгновенные значения уровней воспроизведенного сигнала, симметрично отстоящих от точки его перехода через нуль, а далее попарно сравнивают измеренные уровни, определяют их разность, а затем — искомую характеристику путем анализа фазового спектра полученного разностного сигнала.
Способ измерения фазово-частотной характеристики тракта магнитной записи заклю10 чается в следующем, На магнитный носитель исследуемого тракта записывают импульсные сигналы с малой частотой следования, а их длительность выбирается в соответствии с полосой пропускания исследуемого устройства.
15 Для обеспечения линейности режима записи используется высокочастотное подмагничивание, прн воспроизведении же определяют центр симметрии импульсного сигнала, который соответствует центру тяжести фигуры, 20 описывающей форму воспроизведенного сигнала. Именно при соблюдении указанных условий и повышается точность измерений.
Следует отметить, что центр симметрии близко соответствует точке перехода воспро2ь изведенного импульсного сигнала через нуль.
Эта точка принимается за начало отсчета. Затем производят измерения мгновенных значений уровней воспроизведенного сигнала в дискретных точках, например, путем квантования
30 указанных уровней по оси времени. Уровни, 419957
Сосгавитсль А. Ходжаев
Текред 3. Тараненко
Корректор В. Жолудева
Редактор С. Хейфиц
Заказ 1868/17 Изд. № 1363 Тираж 591 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 симметрично отстоящие от центра симметрии, попарно сравниваются друг с другом и далее определяют их разность. Сигнал разности подвергается спектральному анализу с целью определения его фазового спектра. Разность фазовых спектров входного и выходного сигналов и определяет искомую собственную фазово-частотную характеристику.
Предмет изобретения
Способ измерения фазово-частотных характеристик запоминающих устройств, использующих в качестве элемента памяти магнитные носители, основанный на записи единичных импульсных сигналов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений и уменьшения влияния на них эффекта
5 задержки сигналов между процессами записи и воспроизведения, первоначально измеряют мгновенные значения уровней воспроизведенного сигнала, симметрично отстоящих от точки его перехода через нуль, а далее попарно
lO сравнивают измеренные уровни, определяют их разность, а затем — искомую характеристику путем анализа фазового спектра полученного разностного сигнала.
