Способ определения удельной поверхности материалов

Авторы патента:

G01N13 - Исследование поверхностных или граничных свойств, например смачивающей способности; исследование диффузионных эффектов; анализ материалов путем определения их поверхностных, граничных и диффузионных эффектов; исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне

(п) 4458 88

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства 290202 (22) Заявлено 09.03.70 (21) 1411468/26-25 с присоединением заявки № (51) М. Кл. G 01п 13/00

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УД К, 620.179 (088 8) Опубликовано 05.10.74. Бюллетень № 37

Дата опубликования описания 30.05.75 (72) Авторы изобретения

К. И. Саснаускас и Г. П. Эльзбутас

Каунасский политехнический институт (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УДЕЛЬНОЙ ПОВЕРХНОСТИ

МАТЕРИАЛОВ

Предмет изобретения

Государственный комитет (32) Приоритет

Изобретение предназначено для определения тонкости помола (дисперсности) сыпучих материалов (например, cTpoHTeJlbnblx) .

По основному авт. св. № 290202 известен способ определения удельной поверхности материалов путем высушивания и измерения диэлектрической проницаемости.

Цель изобретения вЂ” повышение точности измерений.

Это достигается тем, что предварительно высушенный материал увлажняют инертной жидкостью в количестве 15 вЂ” ЗОО, от веса твердого компонента, измеряют диэлектрические параметры, по которым судят о величине удельной поверхности.

Способ осуществляют следующим образом.

Некоторое количество исследуемого материала высушивают при температуре + 105 С и увлажняют определенным количеством инертной полярной жидкости. Затем помещают материал в межэлектродное пространство измерительного емкостного датчика, уплотняют до определенной степсни и измеряют диэлектрические параметры. Предварительно зная функциональные зависимости диэлектрических параметров от количества введенной инертной полярной жидкости и величины удельной поверхности высушенного твердого компонента при одинаковых прочих условиях по значениям диэлектрических параметров определяют искомое значение удельной по5 верхности.

Различие в температурах, при которой определена функциональная связь между диэлектрическими параметрами и удельной поверхностью и измерены диэлектрические naI0 раметры («a» показатель, характеризующий удельную поверхность) оценивают посредством температурных коэффициентов диэлектрических параметров.

Способ определения удельной поверхности материалов путем высушивания и измерения

20 диэлектрической проницаемости по авт. св.

¹290202, отличающийся тем. что, с целью повышения точности измерений, предварительно высушенный материал увлажняют инертной жидкостью в количестве 15 вЂ” 30%

25 от веса твердого компонента измеряют диэлектрические параметры, по которым судят о величине удельной поверхности.

Способ определения удельной поверхности материалов

Способ определения минералов ниобия // 444109

Способ определения краевого угла смачивания // 438904

Устройство для измерения поверхностного натяжения жидкостей // 436997

Способ определения капиллярной постояннойи краевого угла смачивания жидкостейили расплава // 434296

Способ измерения коэффициента звукопоглощения // 432265

Способ исследования структурных переходов в полимерах // 427271

Устройство для исследования смачиваемости твердых материалов // 425084

Устройство для определения относительной связанной поверхности волокон в волокнистыхматериалах // 424044

Устройство для определения поверхностного натяжения жидких металлов и сплавов // 423015

Экспресс-метод оценки смачивающей способности волокнистых частиц // 2100797

Способ определения молекулярно-массового распределения молекул полимера // 2105285

Изобретение относится к способам определения молекулярно-массового распределения как линейных полимеров, так и межузловых цепей сетчатых полимеров

Способ определения полярных граней полупроводниковых соединений // 2105286

Изобретение относится к технологии материалов электронной техники, в частности к способам определения полярных граней полупроводниковых соединений типа AIIIBV (InSb, GaSb, InAs, GaAs, InP и Gap) и может быть использовано для ориентации монокристаллических слитков и пластин

Способ определения профиля мениска жидкости // 2108563

Изобретение относится к оптической контрольно-измерительной технике и может быть использовано для физико-химического анализа жидкостей и поверхности твердых тел, в частности для определения смачивающей способности жидкости, изучения процессов растекания и испарения жидкостей, для определения коэффициента поверхностного натяжения жидкостей

Способ снижения поверхностного натяжения жидкостей // 2114414

Изобретение относится к области физики поверхностей

Способ исследования диффузной границы фаз // 2119654

Изобретение относится к физике и химии поверхностных явлений и может быть использовано для определения параметров двойного электрического слоя на границе фаз

Способ измерения объема адсорбированных частиц в системе электрод - электролит // 2119655

Изобретение относится к физической химии

Устройство для определения маслянистости смазочных материалов // 2125256

Изобретение относится к области исследования материалов, а именно к устройствам для испытания смазочных масел

Устройство для измерения поверхностного натяжения жидкости // 2135981

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к пневматическим устройствам для измерения поверхностного натяжения жидкостей, и может найти применение в таких отраслях промышленности, как химическая, лакокрасочная и пищевая промышленность

Способ определения относительной моющей способности поверхностно-активных веществ // 2139518

Изобретение относится к области подготовки нефтей и разрушения водонефтяных эмульсий, стабилизированных природными эмульгаторами и различными видами механических примесей