Способ измерения вторичноэмиссионных параметров материалов

Авторы патента:

H01J43 - Приборы, использующие вторичную электронную эмиссию, электронные умножители (динамические электронные умножители H01J 25/76; детекторы вторичной эмиссии для измерения ядерного или рентгеновского излучения G01T 1/28)

О П И ©А..Н И И

ИЗОБРЕТЕН ИЯ (11), 445944

Союз Советскин

Сонреакистическик

Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено08. I0.7Х (21) 7704209/ с присоединением заявки (32) Приоритет

Опубликовано05Л0.74 Бюллетень № 37 (45)! Дата опубликования описания Х5, I0,7 (5l) М Кл.

Н 0I j 43/00

Гасударственный маиитет

Совета инннстров СССР ао делан нзеоретеннй и открытий

УЗ) УД1(,621.383.,292 (088.8) (72) Авторы изобретения

А.С.Черкасов, Р.P.Èáðàãèìoâ и АЛЛачин (71) Заявитель Московский институт электронного машиностроения (54) СПОСОЬ И8МЕРЕБИ ВТОРИЧНОЭМИССИОННЫХ

ПАРАМЕТРОВ МАТЕРИАЛОВ

ПРЕДМЕТ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Известны импульсные способы измерения вторичноэмиссионных параметров материалов с помощью импульсов первичного электронного потока, длительность и частоту которых выбирают такими, чтобы обеспечить минимальный заряд на мишени. При этом не достигается высоная точность измерения, поснольну не учитываются паразитные импульсы, навЂ” примр третичные с ноллейтора, четверичные с мишени и т.д.

С целью увеличения точности измерений путем выделения паразитных импульсов длительность импульса первичного электронного потока выбирают меньшей, чем время пролета первичного электронного потона до мишени, выделяют во времени импульс втоичного электронного потока без паразитных импульсов ) и

Г затем вычисляют коэффициент вторичной эмиссии.

Разделение во времени импульсов

5 возможно благодаря тому, что основной импульс вторичного йотона является первым, а паразитные импульсы сдвинуты на экране осциллографичесного устройства .

Способ измерения вторичноэмиссионных параметров материалов, ы включающий измерение параметров импульсов первичного элентронного потока и вторичного потока с мишени, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности

20 измерения, длительность импульса первичного электронного потона выбирают меньше, чем время пролета электронов до мйшени.

Похожие патенты:

Патент 413558 // 413558

Способ восстановления коэффициента усиления // 409317

Электронный умножитель // 402326

Вторичноэлектронный эмиттер // 357624

Динод прострелбного типа // 356717

Позиционно-чувствительное устройство // 344532

Способ изготовления подложки для полупрозрачного фотокатода // 338947

Электронный прибор с каналовым умножителем // 334919

Патент 332522 // 332522

Патент 307723 // 307723

Многоканальная вторично-эмиссионная умножительная система // 2118870

Изобретение относится к электронной технике, в частности к вторично-эмиссионным умножительным системам, используемым в многоканальных фотоэлектронных умножителях

Устройство для изготовления микроканальной пластины // 2173905

Изобретение относится к области электротехники и к электронной технике, в частности к изготовлению микроканальной пластины, и может быть использовано при изготовлении волоконно-оптических пластин

Способ изготовления микроканальной пластины и устройство для его осуществления // 2177187

Изобретение относится к электротехнике и электронной технике, в частности к изготовлению микроканальной пластины, и может быть использовано при изготовлении волоконно-оптических пластин

Способ восстановления микроканальной пластины // 2189662

Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению, в частности к технологии изготовления микроканальных пластин (МКП), и может быть использовано в электронно-оптических преобразователях

Способ изготовления микроканальной пластины // 2198957

Изобретение относится к технологии изготовления микроканальных пластин (МКП) с повышенными коэффициентом усиления, отношением сигнал/шум, разрешающей способностью и может быть использовано в производстве МКП

Усилитель электронного потока // 2221309

Изобретение относится к электронной оптике и может быть использовано в электронно-оптических преобразователях (ЭОП)

Усилитель электронного потока // 2222072

Изобретение относится к вакуумной электронике и может быть использовано в электронно-оптических преобразователях (ЭОП)

Способ коррекции частотной характеристики фотоэлектронного умножителя // 2263368

Изобретение относится к области измерительной техники

Генератор электромагнитных импульсов // 2361313

Изобретение относится к технике генерации мощных широкополосных электромагнитных импульсов (ЭМИ) субнаносекундного диапазона длительностей и может быть использовано при разработке соответствующих генераторов

Способ восстановления микроканальной пластины // 2361314