Способ определения величины обратного напряжения на элементах вентиля

 

О П И С А Н И Е (ii) 446855

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскик

Социалистических

Республик. Ф»""" ф 4 (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 05.07.71 (21) 1678935. 24-7 с присоединением заявки № (51) М. Кл. G Olr 31, 26

ГосУдвРственный комитат (32) Приоритет

Совета Министров СССР но делам изобретений и открытий

Опубликовано 15.10.74. Бюллетень № 38

Дата опубликования описания 18.06.75 (53) УДК 621.317.326 (088.8) (72) Авторы изобретения (71) Заявитель

А. К. Куницын и Э. Н, Разуваев

Особое конструкторское бюро при Ташкентском заводе электронной техники им. В. И, Ленина (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ ОБРАТНОГО

НАПРЯ)КЕНИЯ HA ЭЛЕМЕНТАХ ВЕНТИЛЯ

Известен способ определения величины обратного напряжения на элементах вентиля, состоящего из последовагельно соединенных диодов или столбов, при подаче на вентиль постоянного или импульсного обратното напряжения.

Недостаток известного способа состоит в том, что измерительный прибор оказывает шунтирующее влияние, нарушая тем самым действительное распределение напряжения и снижая точность определения.

С целью повышения точности по предлагаемому способу фиксируют величину заряда или тока, протекающего в измерительной це- 15 пи, включенной последовательно вентилю, и соответствующего рабочей величине обратного напряжения, чередуют закорачивание элементов вентиля, начиная с первоro, с установлением соответствующей величины обратного 20 напряжения так, чтобы заряд или ток, протекающий в измерительной цепи, оставался

:I, ежпим, и по величине изменения обратного напряжения определяют обратное напряжение на соответствующем элементе. 25

На чертеже показана схема измерения, включающая источник 1 обратного напряжения, прибор 2 для измерения величины обратного напряжения, приложенного к вентилю, элементы 3 вентиля (диоды или столбы), уст- 30 ройство 4 для фиксации тока или заряда, протекающего в цепи вентиля.

С источника 1 на вентиль, состоящий из диодов или столбов, подают рабочую величину обратного напряжения, которая в точках а и б измеряется прибором 2. Для фиксации тока, протекающего через вентиль 3, последовательно вентилю включено устройство 4, например микроампер. В случае постоянного обратного напряжения потенциалы в точках в, г, д, е, ж относительно точки б будут определяться обратными сопротивлениями соответствующих элеме lTQB, которые могут достигать нескольких тысяч мегаом, и прибор 4 зафиксирует постоянный обратный ток.

При импульсном обратном напряжении потенциалы точек в, г, д, е, ж определяются барьерными емкостями р — п переходов, которые могут быть менее 1 пф, и прибор 4 покажет среднее значение обратного тока. Зная потенциалы точек а, в, г, д, е, ж можно определить величины обратных напряжений на экземплярах, которые будут равны разности потенциалов между точками а и в, в и г, г и д, д и е, е и ж соответственно. Для определения потенциала в точке в замыкают накоротко с. помощью перемычки элемент, подключенньш к точкам а и в. Величину обратного напряжения, подводимого от источника 1, изменяют

446851

3 р3 3

Составитель В. Самвелов

Техред И. Карандашова

Корректор Н. Учакина

Редактор В. Новоселова

Заказ 1395/11 Изд. № 1307 Тираж 678 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 так, чтобы показание прибора 4 осталось прежним. Вновь установленная величина обратного напряжения, измеренная прибором 2, соответствует потенциалу точки в в исходном состоянии, а разность показаний прибора 2— обратному напряжению на первом элементе.

В исходном состоянии могут возникать паразитные утечки между общим проводом и точками в, г, д, е, ж, влияющие на характер распределения обратного напряжения, Чтобы не нарушать исходного распределения, определение потенциалов производят последовательно, начиная с первой точки и не снимая установленной перемычки, производят предыдущие операции для последующих точек. Если паразитных утечек нет или они не влияют на распределение, что практически невозможно, то определение обратного напряжения можно начинать с любого элемента и вести в любой последовательности. В этом случае разность показаний прибора 2 до и после закорачивания измеряемого элемента определит величину обратного напряжения на нем.

Предмет изобретения

Способ определения величины обратного напряжения на элементах вентиля, состоящего из последовательно соединенных диодов или столбов, при подаче на вентиль постоянного или импульсного обратного напряжения, отл и ч а ю щи и с я тем, что, с целью повышения точности, фиксируют величину заряда или тока, протекающего в измерительной цепи, включенной последовательно вентилю, и соответствующего рабочей величине обратного напряжения, чередуют закорачивание элементов вентиля, начиная с первого, с установлением соответствующей величины обратного напряжения так, чтобы заряд или ток, протекающий в измерительной цепи, оставался прежним, и по величине изменения обратного напряжения определяют обратное напряжение на соответствующем элементе.

Способ определения величины обратного напряжения на элементах вентиля Способ определения величины обратного напряжения на элементах вентиля 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх