Фотоэлектрический микроскоп

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Х АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (11) 4519О2 (61) Зависимое от авт. свидетельства— (22) Заявлено 11. 12.72 (21) 1856530/25-28

-I с присоединением заявки ¹

Государственный камнтет

Соната Министров СССР

00 делам изобретений н аткрытий (32) Приоритет—

Опубликовано 30.11.74. Бюллетень № 44

Дата опубликования описания ОО.О4.75 (53) УДК 531,715. 2 (088. 8) (72) Авторы изобретения

А. М. Каган и М. Г. Богуславский (7 l) Заявитель

° ЙФ. (54) ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП

Фотоэлектрический микроскоп содержит осветитель 1, проекционный объектив 2, расположенные на оптической оси и образующие проекционную систему, призму двойного изображения 3, шелевой модулятор 4, коллектив 5, фотоприемник 6 и электронный блок регистрации 7. Объект 8 измерения располагается в плоскостипредметов проекционного объектива 2, При установке призмы двойного изображения 3 в плоскости колебаний щеря мо« дулятора 4 появляются два изображения кромки объекта 8, перемещающиеся при смещении объекта в разные стороны.

При смещении границы объекта 8 к визирной оси микроскопа кромки объекта смещаются в направлении одна к другой. В момент точной регистрации границы изображений объекта находятся встык одна к другой. При отклонении в ту или иную сторону изображения границы объекта либо не доходят одна до другой, либо накладываются одна на другую, образуя при этом штриховой знак переменной ширины. В том случае, когда граница объекта не доходит

Изобретение относится к области измерительной техники и предназначено длявысокоточной регистрации положений границы объекта при линейных и угловых измерениях. 5

Известен фотоэлектрический микроскоп, содержащий оптическую проекционную систему, щелевой модулятор, ось колебаний которого совмещена с визирной осью проекционной системы, фотоприемник и блок 10 регистрации.

Предложенный микроскоп отличается от известного тем, что он снабжен призмой двойного изображения, размещенной между проекционной системой и щелевым модулятором так, что визирная ось проекционной системы смещена с оси колебаний модулятора на величину, меньшую половины ширины его поля зрения.

Это позволяет повысить точность регистрации границы объекта на визирнойоси микроскопа.

На фиг. 1 показана принципиальнаясхема предложенного микроскопа; на фиг. 2—

25, ууафики, поясняющие работу микроскопа. (51) M Кл. 4 01 g 9/04

4519О2 до визирной оси, штрих светлый, а осталь» ное поле темное (см, фиг. 2а). В случае, когда граница объекта переходит визирную ось микроскопа, штрих темный на более светлом поле (см. фиг. 2б).

Так как формирование штриха происходит не на оси колебаний модулятора 4, то и в первом и во втором случаях возникает сигнал, в котором присутствует сигнал ос» новной частоты и при смешении объекта 8 изменяется только его амплитуда.

Кроме этого, автоматически от первого случая ко второму изменяется фаза сигнала на 380о (светлый штрих на темномполе и темный штрих на светлом поле).

Сигнал рассогласования поступает сфазочувствительного вьнтрямителя на стрелочный прибор или после усиления в исполнительный механизм блока регистрации (элем.нты блока регистрации на фиг. 1 не показаны).

В момент точного положения границы объекта на визирной оси микроскопа исче1 зает вообще переменная составляющаясигнала (глубина модуляции равна нулю}, и стрелочный прибор показывает нуль (см. фиг. 2в).

Кроме того, при работе с призмойдвой1

5 ного изображения не предъявляются жест кие требования к стабильности положения центра колебаний модулятора.

Предмет изобретения

Фотоэлектрический микроскоп, содержащий оптическую проекционную систему,шеу5 аеео6 модУпятор фотоприемник и блок реги« страции, отличающийся тем, что с целью повышения точности регистрации границы объекта, он снабжен призмой двойного изображения, размещенной между про>о екционной системой и щелевым модулятором так, ч.го визирная ось проекционной системы смещена с оси колебаний модулятора на величину, меньшую половиныширины его поля зрения.

4519О2

Составитель Я Горшков

Тех ред Корректор Т.Добровольская ехред E..Подурушина

РедактоР О. ркова

1

Москва, 113035, Раушская наб., 4

Предприятие «Патент», Москва, Г-59, Бережковская наб., 24

"-- йг/ изд. ¹ 7 88

Тираж 760 Подписное

Фотоэлектрический микроскоп Фотоэлектрический микроскоп Фотоэлектрический микроскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при сравнительном анализе объектов, в частности для идентификационных исследований в области криминалистики

Изобретение относится к бесконтактным способам измерения линейных размеров, износа, а также к устройствам для их осуществления
Наверх