Способ измерения емкости и активной проводимости конденсаторов с потерями

 

х И вЂ” нее ;ь:, . .-,- д"- 1

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистииеских

Республик (Ц) 452790 (61) Зависимое от авт. свидетельства— (22) Заявлено 21.03.72 (21) 1761467/26-9 с присоединением заявки(51) М. Кл. QOl t 27/26

Государственный комитет роввтв Министров СССР во делам иэооретений н открытий (32) Приоритет—

Опубликовано 05.12.74 Бюллетень № 45 (ЬЗ) УДК 62). (088.8) Дата опубликования описания 3 10.07.75 (72) Автор; изобретения

E. H. Тихомиров

Всесоюзный научно-исследовательский институт аналитического приборостроения (73) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЕМКОСТИ И АКТИВНОЙ

ПРОВОДИМОСТИ КОНДЕНСАТОРОВ С ПОТЕРЯМИ

Изобретение относится к способам измерения параметров конденсаторов (емкости и активной проводимости) путем измерения полной проводимости, широко применяемым в измерительной технике и при исследовании свойств веществ электрофизическими методами.

Известны способы измерения параметров конденсаторов. Наиболее распространен- 1О ными являются мостовой, резонансный, замещения, биений, метод амперметра и вольтметра и т. и., а также способы, базирующиеся на использовании свойств цепи, модуль сопротивления которой при определенных соотношениях между входящими в нее реактивными сопротивлениями противоположного знака не зависи от ее активного сопротивления. Недостатком последнего способа является невозможность определе- gp

Вия активных потерь конденсатора; мостового метода — необходимость уравновешивания схемы измерений по активной и емкостной сосч авляющим. К недостаткам остальных методов относится трудность t З5 учета влияния активной составляющей щ результат замера.

Цель изобретения — устранить указ шные недостатки, а также повысить точность измерения. Поставленная цель достигается тем, что параллельно измеряемому конденсатору подключают образцовую меру, путем регулировки которой устанавливают заданное значение тангенса угла потерь измерительной схемы и далее определяют искомые составляющие полной проводимости измеряемого конденсатора, к 1то1рый., при заданном значении тангенс-а у ла по . терь измерительной схемы, однозначно определяются величинами модулей полной проводимости измерительной схемы и образцовой меры.

На фиг. 1 изображена векторная диаграмма, поясняющая предлагаемый способ при тангенсе угла потерь измеряемого конденсатораф,, меньшем заданного значения тангенса угла потерь измерительной схемы те ; не фнт. 2 — то же, при д >щ

Измерение параметров конденсаторов с утерями по предлагаемому способу производится следующим образом.

При фCô, rile 1 — угол(), 2угол Я > (см. фиг. 1) устанавливают заданный угол 2 путем добавления к полной проводимости 3 измеряемого конденсатора образцовой активной проводимо.-„= сти 4 (в данном случае в качестве образцовой проводимости может быть использована также индуктивная проводимость), тогда полной .проводимостью измеритель. ной схемы будет проводимость 5. Емкостная проводимость б измеряемого кон-. ! денсатора равна проекции проводимости 5 на ось ординат, а активная проводимость 7 измеряемого конденсатора равна разности проекций 8 полной проводимости 5 на ось абсцисс и проводимости 4;

ПриЬ Щ (см. фиг. 2) устанавливают за3анньй угол 2 путем добавления к полной проводимости 3 образцовой емкостной проводимости 9. И этом случае емкостная проводимость 6 измеряемого конденсатора равна разности проекции 1О полной проводимости 5 на ось ординат и проводимости 9, а активная проводимость 7 (измеряемого конденсатора равна проекции проводимости 5 на ось абцисс.

При использовании последовательной эквивалентной схемы измеряемого конденсатора рассуждения аналогичны приведенным выше, только в качестве образцовых мер вместо активной и емкостной проводимостей исполу.зуют соответственно активное и емкостное сопротивление„ которые р включают иоследовательно с измеряемым конденсатором.

Предмет изобретения

Способ измерения емкости и активной

3б t проводимости конденсаторов с потерями путем измерения полной проводимости, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, к измеряемому конденсатору подключают переменную образцовую меру, регулировкой образцовой меры устанавливают заданное значение тангенса угла потерь образованного двухполюсника, фиксируют величину образцовой меры и измеряют модуль полной проводимости измерительного двухполюсника, которые и определяют искомые параметры конденсаторов.

Состав итеаь Э.Гнлинскаяг

Редактор Л.Ушакова Техред Л.Казачкоаа Корректор Л.Котова

Заказ f 806 Изд. Ж /Мф Тираж 678

Подпнсное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, ll3035, Раушская наб., 4

Предприятие «Патент», Москва, Г-59, Бережковская наб., 24