Емкостной преобразователь

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕПЬСТВУ

<п1 453558

Союз Соеетооа

С04иалмстимюскйи

Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 17.01.72 (21) 1737920!25-28 с присоединением заявки № (32) Приоритет

Опубликовано 15.12.74. Бюллетень № 46

Дата опубликования описания 27.01.75 (51) М. Кл. 6 Olb 7, 08

Государственный комитет

Совета Иинистраа СССР оо делам изобретений и открытий (53) УДК 531.7(088.8) (72) Авторы изобретения

А. Д. Никифоров, С. В. Сейнов, А. И. Гошко, Г. П. Шлыков и

Н. Т. Халястов

Московский институт химического машиностроения (71) Заявитель (54) ЕМКОСТНОЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ

Предмет изобретения

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для контроля отклонений геометрических параметров второго порядка, в частности плоских кольцевых поверхностей.

Известен емкостной преобразователь для контроля отклонении геометрических параметров второго порядка, содержащий корпус и расположенную в корпусе кольцевую эталонную поверхность, образованную торцовыми поверхностями сегментов, изолированных один от другого и от корпуса.

Однако влияние эксцентриситета при базировании эталонной поверхности приводит к недостаточной точности измерения.

Предлагаемый преобразователь отличается от известных тем, что боковые стороны торцовых поверхностей сегментов выполнены параллельно радиусу окружности, проходящему через центр эталонной поверхности.

Такое выполнение преобразователя повышает точность измерения.

На фиг. 1 представлен предлагаемый преобразователь, общий вид; на фиг. 2 — то же, вид сверху.

Преобразователь содержит несущий корпус

1, наружное кольцо 2 и расположенную между ними с зазором эталонную поверхность, образованную сегментами 3.

Зазор заполняют клеевым материалом, являющимся диэлектриком, и получают моноли1ную плиту, опорнои поверхностью которои являются торцы сегментов.

Преобразователь работает следующим образомм.

Эталонную поверхность преобразователя накладывают на контролируемую кольцевую поверхность 4 и измеряют величину емкости конденсаторов, обкладками которых являются сегменты 3 и контролируемая поверхность

4. При этом выходной сигнал практически не зависит от наличия эксцентриситета при базировании эталонной поверхности на контроли15 руемую.

Емкостной преобразователь для контроля

20 отклонений геометрических параметров второго порядка, содержащий корпус и расположенную в корпусе кольцевую эталонную IIOверхность, образованную торцовыми поверхностями сегментов, изолированных один от дру25 гого и от корпуса, отл ич а ющи йс я тем, что, с целью повышения точности измерения, боковые стороны торцовых поверхностей сегментов выполнены параллельчо радиусу окружности, проходящему через центр эталон30 ной поверхности.

Фиг т

Составитель P. Старцева

Техред 3. Тараненко

Корректор О. Тюрина

Редактор Л. Василькова

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 43l8 Кзд. М 1942 Тираж 760 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, К-35, Рауц1ская наб., д. 4/5

Емкостной преобразователь Емкостной преобразователь 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх