Ослабитель излучения

 

всесоюзная

ПАТЕНТ, 0- .;;„" ;„-::,.у,ли о п и с4к- мм-.е

ИЗОБРЕТЕНИЯ (1п 459687

Союз Советских

Социалистических

Респчблик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 15.06.72 (21) 1798656/26-25 с присоединением заявки № (32) Приоритет

Опубликовано 05.02.75. Бюллетень № 5

Дата опубликования описания 13.03.75 (51) М. Кл. 6 01j 1/00

Гасударственный комитет

Совета Министров СССР (53) УДК 535.241.6 (088.8) по делам иэобретений и открытий (72) Авторы изобретения

В. К. Вертушкин и Г. П. Осокин (71) Заявитель (54) ОСЛАБИТЕЛЬ ИЗЛУЧЕНИЯ а (1+0 5tgq) tgV — t028(3+tg p) 20

Изобретение относится к квантовой электронике и может найти применение при фотометрических измерениях.

Известные ослабители, в которых используется отражение излучения от поверхности раздела двух сред, содержат оптические элементы в виде последовательно расположенных тонких пленок. Эти ослабители излучения искажают форму распределения энергии излучения и изменяют направление поляризациии.

Целью изобретения является создание ослабителя излучения с заданной величиной ослабления, сохраняющего первоначальную поляризацию излучения и пространственную структуру пучка.

Эта цель достигается благодаря тому, что ослабитель выполнен в виде блока из нескольких оптических элементов, например четырех, представляющих собой клинья. Каждый клин ориентирован по отношению к направлению излучения так, что проекция направления излучения проходит через вершину клина, перпендикулярно к его ребру, а плоскости падения излучения на первый третий, второй и четвертый клинья попарно взаимно перпендикулярны, при этом направления излучения в указанных плоскостях попарно противоположны.

На фиг, 1 представлена схема ослабителя, на вход которого падает излучение под углом rp. Ослабитель из четырех оптических клиньев 1 — 4.

На фиг. 2 показан ослабитель в сечении через центры отражающих граней второго, третьего и четвертого клиньев для произвольного угла падения. В качестве отражателей также могут быть использованы призмы.

I0 Острый угол при вершине клина (призмы) рассчитывается из уравнения: а = /, агсз1п (/„sin р), где n — показатель преломления материала

15 клина.

Расстояния между клиньями L (см. фиг. 1) равны между собой и определяются по формуле; где d — диаметр пучка света;

20 — угол расходимости лазерного излучения.

25 При падении излучения ОКГ на клин 1 (все клинья — отражатели прозрачны для падающего излучения) большая часть энергии излучения проходит через отражатель; часть излучения, определяемая плотностью мате30 риала, отражается от клина. Отраженное из3 лучение проходит последовательно на второй, третий и четвертый клинья. Излучение, полученное от клина 4, используется в измерительных целях.

Общий коэффициент ослабления излучения после прохождения блока составляет:

1общ = 3 (9)i где р — коэффициент отражения при угле падения на отражающую поверхность,rp.

Излучение, прошедшее через ослабитель, сохраняет первоначальную поляризацию и форму сигнала благодаря принятому расположению клиньев.

При необходимости получения большого коэффициента ослабления ослабитель составляется из нескольких аналогичных блоков.

Ослабитель может быть использован при измерении параметров ОКГ, особенно таких

459687 как расходимость излучения и распределение энергии в поперечном сечении излучения.

Предмет изобретения

Ослабитель излучения с оптическим элементом, отличающийся тем, что, с целью сохранения первоначальной поляризации излучения и пространственной структуры пучка, он выполнен в виде блока из нескольких оп10 тических элементов, например четырех, представляющих собой клинья, причем каждый из клиньев ориентирован по отношению к направлению излучения так, что проекция направления излучения проходит через вершину

15 клина, перпендикулярно к его ребру, а плоскости падения излучения на первый, третий, второй, четвертый клинья попарно перпендикулярны, при этом направления излучения в указанных плоскостях попарно противопо20 ложны.

Составитель М. Дедловский

Редактор Т. Орловская Техред А. Дроздова Корректор В. Брыксина

Заказ 573/14 Изд. Мв 359 Тираж 740 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Ослабитель излучения Ослабитель излучения Ослабитель излучения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к радиационным измерениям и, в частности, к измерениям дозы ультрафиолетового (УФ) излучения на основе использования явления фотохромизма

Изобретение относится к устройствам регистрации видимого и ультрафиолетового (УФ) излучения средней и низкой интенсивности, в частности, может быть использовано для измерения дозы ультрафиолетового излучения в медицине, в научных исследованиях и экологии, при измерении УФ-излучения Солнца, а также для определения интенсивности светового излучения в лабораторных и производственных условиях

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для регистрации и измерения потока ИК-излучения

Изобретение относится к приборостроению, а именно к технике измерения фотометрических параметров, и может найти применение на аэродромах для измерения оптических характеристик атмосферы при определении видимости световых ориентиров взлетно-посадочной полосы (ВПП) в ходе метеорологического обеспечения действия авиации на аэродроме

Изобретение относится к технике регистрации слабых световых сигналов и может быть использовано в светолокации, оптической связи, астрофизике, биофизике, ядерной физике, сцинтилляционной технике и т.п

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников
Наверх