Способ контроля поля анизотропии цилиндрических тонких магнитных пленок по длине

 

Оп ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (11) 468200 (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 15.06.73 (21)1930204/18-10 (51) М. Кл.

G 01д 33< 00 с присоединением заявки .",.

Гасударственный иамитет

Совета Министров СССР во делам изобретений и открытий (32) Приоритет

Опубликовано 2 5. 04. 75, Бюллетень № 5

Дата опубликования описания 30.05.75 (53) УДК 621 317.4 (088.8) (72) Авторы изобретения

Л. Т. Лысый и M. С. Штельмахов (71) Заявитель (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПОЛЯ АНИЗОТРОПИИ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ

ТОНКИХ МАГНИТНЫХ ПЛЕНОК ПО ДЛИНЕ

Изобретение относится к неразрушаюшим-. методам контроля качества и свойств ферромагнитных материалов, а именно к определению магнитных характеристик цилиндрических тонких магнитных пленок, и может быть использовано в производстве их образцов.

Известные способы контроля поля анизотропии тонких пленок, основанные на перемагничивании до насышения участков пленки переменным синусоидальным полем вдоль трудной оси намагничивания и использовании для измерения третьей гармоники вторичной э. д. с., характеризуется зависимостью результатов контроля от разброса магнитных свойств испытуемого материала по длине 15 магнитной пленки.

Цель изобретения — повышение точности контроля поля анизотропии.

Для этого по предлагаемому способу контроль поля анизотропии участков образ- 20 ца тонкой магнитной пленки ведут по амплитуде намагничиваюшего поля и регистрируют его значение в момент появления в составе вторичной э. д. с. высших гармонических составляющих, из которых выделяют 25 третью гармонику, и фиксируют начало непрерывного роста амплитуды ее текушего значения.

Ъ

На чертеже изображена кривая намагничивания участка образца и график изменения намагничиваюшего поля.

Если кривую намагничивания вдоль трудной оси представить в виде ломаной линии, первый участок которой проходит через начало координат под некоторым углом, а второй параллелен оси абсцисс, то пересечение обоих участков происходит в точке с координатами, соответствующими полю анизотропии (Нк) и индукции насыщения (Bg ) ..

При воздействии на участке пленки синусоидального намагничивания поля индукции в пленке будет изменяться по гармоническому закону только на линейном участке кривой намагничивания. На втором участке кривой в ее составе появляются нечетные высшие составляющие, из которых максимальной амплитудой обладает третья гармоника. В составе вторичной э, д. с, намагничивающего тока также появляются гармонические составляющие.

468200

Составитель 5 Сергеев

РедакторТ.Иванова Текред И.Карандашова Корректор Л.Царькова

Изд. M /$6 Тираж 802 Подписное

Заказ

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР ло делам изобретений и открытий

Москва, 113035, Раушская наб., 4

Предприятие «Патент>, Москва, Г-59, Бережковская наб., 24

ФКМП Зак.14874 Тир.802

Таким образом, момент появления гармониче ских составляющих в индукции участка пленки и во вторичной .э. д. с. при перемагничивании синусоидальным полем свидетельствует о величине намагничивающего поля, соответствующего полю аниз отропии.

Для регистрации этого поля в момент появления гармонических составляющих при перемагничивании из состава вторичной 1Q э. д. с. выделяют третью гармонику и фиксируют начало непрерывного роста амплитуды ее текущего значения.

Предмет и з о б р е т е н и я

Способ контроля поля анизотропии цилинд-15 рических тонких магнитных пленок по длине, основанной на перемагничивании до насыщения участков пленки переменным синусоидальным полем, направленным вдоль труд,— ной оси намагничивания и использовании для целей контроля третьей гармоники вторичной э. д. с., отличающийся тем, что, с целью повышения точности, контроль ведут по амплитуде намагничивающего поля. регистрируя его значение в момент появления в составе вторичной э. д. с. гармонических составляющих, из которых выделяют третью гармонику, фиксируя начало непрерывного роста амплитуды ее текущего значения.

Способ контроля поля анизотропии цилиндрических тонких магнитных пленок по длине Способ контроля поля анизотропии цилиндрических тонких магнитных пленок по длине 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к магнитометрам и может быть использовано для измерения напряженности магнитного поля и вектора магнитной индукции в науке, промышленности, медицине

Изобретение относится к магнитометрам и может быть использовано для измерения напряженности магнитного поля и вектора магнитной индукции в науке, промышленности, медицине

Изобретение относится к магнитометрам и может быть использовано для измерения напряженности магнитного поля и вектора магнитной индукции в науке, промышленности, медицине

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в метрологии и магнитометрии при проведении поверочных и исследовательских работ

Изобретение относится к способам измерения физических свойств ВТСП-материалов

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано в устройствах для измерения параметров магнитного поля на основе феррозондов

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к индуктивным датчикам, и может быть использовано для магнитных и линейно-угловых измерений, в дефектоскопии, для обнаружения и счета металлических частиц и тому подобное

Изобретение относится к магнитоизмерительной технике и позволяет в широком диапазоне и с высокой точностью формировать на выходе устройства величину измеряемой магнитной индукции
Наверх