Способ автоматического определения непараллельности граней стекла в процессе его производства

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДИТИИвсТВУ

Союз Советскии

Социалистических

Республик (l1) 492730 (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 06.06.73 (21) 1926186/25-28 с присоединением заявки №(51) М. Кл„

G 01Ь 11/06

Государственный комитет

Совета Министров СССР оо делам изабретений и открытий (23) Приоритет (43) Опубликовано25.11.75 Бюллетень № 43 (45) Дата опубликования описания 06.02 76 (53) УДК 531. 717.2 (088. 8) (72) Авторы изобретения

А. А, Бялик, С. И. Кадлец и В. Г. Подруцкий

Киевский филиал Всесоюзного научно-исследовательского и лроеткно-конструкторского института по автоматизации предприятий промышленности строительных материалов (71) Заявитель

Изобретение относится к стекольной промышленности и может быть использовано в производстве, занятом изготовлением листового стекла.

Известен способ контроля непараллельности граней стекла, заключающийся втом, что через исследуемое стекло пропускают монохроматический пучок лучей и измеряют геометрическое смещение луча после прохождения стекла, по которому затем судят о контролируемой величине.

Однако известный способ характеризуется недостаточной точностью измерений, так как при его использовании требуется обеспечить постоянство ориентации грани перемещающегося стекла. Этот способ практически неприменим для контроля непараллельности граней стекла в процессе его производства.

Целью изобретения является повышение точности измерений.

Для этого через исследуемое стекло пропускают дополнительный монохроматиче cKHH луч, co0cHbiH с 0cBoBHbJM, длина волны которого отлична от длины волны основного луча, и определяют угол между направлениями основного и дополнительного лучей, прошедших через стекло, по которому судят о контролируемой величине.

Такая последовательность операций предложенного способа повышает точность измерений, так как позволяет устранить погрешность от пространственных перемешений стекла. тр На чертеже приведена схема установки,, при помоши которой можно реализовать предложенный способ.

Установка содержит источник света 1, объектив 2, исследуемое стекло 3, двигаи тель 4, диск 5, два интерференционных светошильтоа 6 и 7, фотоприемник 8 и индикатор 9..

Предложенный способ реализуется следующим образом. рр Луч света от источника 1 при помощи объектива 2 направляется на исследуемое стекло 3. Для получения на выходе объектива монохроматических пучков света на пути луча расположен врашаемый двигате25 лем 4 диск 5 с установленными на нем (54) СПОСОБ АВТОМАТИЧЕСКОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ НЕПАРАЛЛЕЛЬНОСТИ

ГРАНЕЙ СТЕКЛА В ПРОЦЕССЕ EI0 ПРОИЗВОДСТВА

4 127ЭО светочувствительной поверхности фотоприемника 8, и„ следовательно, на выходе фотоприемника появляется переменная составляющая сигнала. Амплитуда переменной составляющей сигнала, которая зависит от разности координат точек падения лучей и

|пропорциональна степени непараллельности .граней стекла, регистрируется индикатором 9. Индикатор 9 может быть отградуирован в соответствии с заранее установленной для данного сорта стекла зависимостью угла между преломленными расходящимися лучами от степени непараллельности граней стекла.

Составитель f: .Горшков

РедакторА

Зииьковский р " И„Ка >андашова Коррек

Те еИзд. 1та /Дд,@ тир 782

Подписное ! итета Совета Министров СССР ниЙ и открытиЙ аушская наб., 4

Заказ

ЦНИИПИ Государственного ко по делам пзобре.

Москва, 113035, Предприятие Патент>, Москв Г.59, Бережковская наб. 24 t

3 интерференционными фильтрами, пропускмо- шими свет различной длины волны, напри;мер фильтром синего 6 и оранжевого 7 цветов. Благодаря вращению диска 5 синий и оранжевый лучи появляются на выходе б объектива 2 попеременно. Преломленные в исследуемом стекле 3 лучи поочередно попадают на позиционно-чувствительный фотоприемник 8, величина выходного сигнала ко. торого зависит от координаты падения све- 10 .тового луча. Сигнал с выхода позиционночувствительного фотоприемника 8 поступает на индикатор 9, измеряющий переменйую составляющую сигнала.

При параллельностигранейстекла и отсут- 15 ствии в нем искажений оба луча будут попадать B одну и ту же точку светочувстви-тельной поверхности фотоприемника и, следовательно, сигнал фотоприемника 8 будет постоянным. Так как в таком сигнале пере- 211 менная составляющая отсутствует, индикатор 9 зарегистрирует нулевое значение степени непараллельности граней стекла (угол клина равен нулю).

Когда грани стекла непараллельны друг другу, один из лучей (в рассмотренном примере — синий) преломляется сильнее другого (Оранжевого) и испытывает большее угловое смещение. Лучи расходятся под определенным углом, который для данного

30 материала полностью определяется стег енью непараллельности граней (углом клина).

При этОм лучи попадают В разные тОчки

Формула изобретения

Способ автоматического определения непараллельности граней стекла в процессе его производства, заключающийся в том, что через исследуемое стекло пропускают монохроматический пучок лучей и измеря-, ют геометрическое смещение луча после прохождения стекла, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения точно-, сти измерений, через исследуемое стекло пропускают дополнительный монохроматический луч, соосный с основным, длина волны которого отлична от длины волны основного луча, и определяют угол между направлениями основного и дополнительного лучей, прошедших через стекло, по которому затем судят о контролируемой величине.

Способ автоматического определения непараллельности граней стекла в процессе его производства Способ автоматического определения непараллельности граней стекла в процессе его производства 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости
Наверх