Устройство для измерения обратных токов полупроводниковых диодов

 

г

О П И С А Н И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Уеспублик (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 29.03.74(21) 2010037/26-25 y1) г1 1<л . 01 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 25.12.75Бюллетень № 47 (45) Дата опубликования описания 27.02.76

Гасударственный комитет

Соввта Министров СССР по делам изобретений н открытий

1 (53) УДК 621.382,2 (088.8 ) Е. Ф. Калекин и А. А. Ермолаева (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОБРАТНЫХ ТОКОВ

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДИОДОВ

Устройство, касается промышленной электроники и может использоваться при производстве полупроводниковых приборов, в частности при их контроле.

Известны устройства для измерения обратных токов полупроводниковых диодов, содержащИе источник переменного тока, накопительный конденсатор, разрядную цепочку, измерительный прибор, разделительные диоды и переключатель. Однако измерение гп малых токов в таких устройствах невозможно.

Для расширения диапазона измерений устройство содержит формирующую и ограничительную цепочки и источник постоянно- И го тока, а разрядная: цепочка состоит из последовательно соединенных полевого транзистора и резистора, причем выходы источников питания через переключатель соединены с одной из клемм, а другая клемма 20 соединена с разделительными диодами, IIQ следовательно с которыми включен на1 копительный конденсатор, параллельно которому включена разрядная цепочка, с резистором которой соединен измеритель напряжения, а с затвором полевого транзистора соединен выход формирующей цепочки, вход которой соединен с источником переменного тока, при этом ограничивающая цепочка подключена к источнику постоянного тока, накопительному конденсатору и корпусу.

На чертеже дана схема предлагаемого устройства.

Устройство содержит клеммы 1 для подключения испытуемого прибора, источник 2 переменного тока, источник 3 постоянног о тека, переключатель 4, разделительные диоды 5 и 6, накопительный конденсатор 7, разрядную цепочку, содержащую полевой транзистор 8, резистор 9, ограничительную цепочку, состоящую из диода 10, резистора 11р стаби

I литрона 12, формирующую цепочку, состоящую из резисторов 14гг19 диодов 15 и

16 и стабилитрона 17, и измерительный прибор 20.

Работа устройства в динамическом режиме происходит следующим образом.

Обратное напряжение, совпадающее по фа--

il !

498 516! зе с положительной полуволной напряжения питания сети, поступает через пе-, реключатель 4 на измеряемый диод 1. Обратный ток, протекающий через конденсатор

7 заряжает его. При этом амплитуда напряжения на конденсаторе пропорциональна среднему значению обратного тока за один периОд напряжения питающей сети. Когда конденсатор заряжается, полевой транзистор закрыт положительным напряжением, р подаваемым на его затвор с формирующей цепочки. В интервале времени, составляю« щем 2 10 330 периода питающей сети, полевой транзистор 8 открывается отрицательным напряжением с формирующей цепи 15 и интегрирующий конденсатор разряжается через ограничительный резистор 9. Напряжение через резистор 9, пропорциональное среднему значению обратного тока, посту» пает на измерительное устройство 20, Так 20 как в закрытом состоянии сопротивление цепи исток-сток полевого,транзистора велико, то щунтирующее действие транзистора уже при измерении обратных токов порядка

0,05 мка незначительно, Величину резистора 9 выбирают равной 10 50 ком, иэ расчета, что за половину периода питающей сети интегрирующий конденсатор 7 полностью разряжается. Так как сигнал на измерительное устроиство снимается с ре30 зистора 9, равного 10 50 ком, входное сопротивление измерительного устройства может быть 100+ 500 ком,, 4

Работа устройства при измерении обратных токов в статическом режиме происходит аналогичным образом, прп этом переключатель 4 находится в нижнем положении.

Формула изобретения

Устройство для измерения .обратных токов полупроводниковых диодов, содержащее источник переменного тока, накопйтельный конденсатор, разрядную цепочку, измери.тельный прибор, разделительные диоды,, переключатель, о тли чаю щ ееся тем, что, с целью расширения диапазона измерений, оно содержит формирующую и ограничительную цепочки, и источник постоянного тока, а разрядная цепочка состоит из последовательно соединенных полевсго транзистора и резистора, причем выходы источников питания через пере ключатель соединены с одной из клемм для подключения испытуемого диода, а другая клемма соединена с разделительны ми диодами, последовательно с которыми включен накопительный конденсатор, па -. ,раллельно которому включена разрядная цепочка, с резистором которой соединен измерительный прибор, а с затвором полевого транзистора соединен выход формирующей цепочки, вход которого соединен с источником постоянного тока, при этом ограничительная цепочка подключена к источнику постоянного тока, накопительному конденсатору и корпусу.

49о 516

Составитель 3. Ченнокова

Редактор р.щат,ова Техред И.Карандашова «Ррек»р П.Брахнина

Заказ g g Изд. « и /ЯЯ Тираж 902 Подписное

Ц!!!!И!!!! Государственного комитета Сонета Министров СССР но делам изобретений и открытий

Москва, !И035, Раушская наб., 4

Предприятие «!!атент», Москва, Г.59, Бережковская наб., 24

Устройство для измерения обратных токов полупроводниковых диодов Устройство для измерения обратных токов полупроводниковых диодов Устройство для измерения обратных токов полупроводниковых диодов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх