Оптический микросферометр для измерения радиуса закругления подпятников

 

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ, ВЫДАННОМУ НАРОДНЫМ КОМИССАРИАТОМ ТЯЖЕЛОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ

Зарегистрировано в Государственном бюро нос.ведуюи1ей регистрации изобретений ври Госплане CCC p

Г. и, Кул ьбуш, Оптический микросферометр для измерени закругления подпятников.

Заявлено 26 мая 19;1б гола за M 1!11821.

Опубликовано Зп апреля 1937 гола.

Предлагаемый микросферометр служит для измерения радиуса закругления каменных подпятников измерительных приборов. Для этого используется известный метод измерения величины получаемого отражением от измеряемой сферической поверхности действительного изображения какого - либо объекта. Согласно изобретению, последнему придана форма тонкого кольца с шлифованной закругленной кромкой, жестко скрепленного с объективом микроскопа.

Этим достигается уменьшение изменения постоянной микросфер о метра при изменении положения осветителя.

На чертеже фиг. 1 изображает схему образования действительного изображения объекта, отражающегося в вогнутом зеркале, и фиг. 2 схематически изображает осевой разрез микросферометра.

Измерение радиуса закругления подпятника основано на измерении величины действительного изображения, полученного отражением от вогнутого зеркала. Если освещенный объект ЛВ (фиг. 1), отражаясь в сферическом зеркале D с центром в точке С, дает изображение Л В, то значение радиуса 1 этого сферического зеркала без практически заметной погрешности может быть определено

2а по формуле r = — . у, где а — расУ стояние отражаемого объекта до зеркала, у — величина отражаемого объекта и у — величина его действительного изображения.

В предлагаемом мпкросферометре осветительная лампа (фиг. 2), расположенная под объективным столиком 2, служит для яркого освещения тонкого кольца 3 с полированной закругленной кромко"; кольцо 3 образовано краем металлического колпачка 4, укрепленного на объективе 5 микроскопа. Освещаемому краю кольца 3 придают малый радиус кривизны (порядка 0,5 ял) для того, чтобы размер отражающегося светлого кольца не зависел от изменения положения осветительной нити, что может иметь место, например, при замене одной лампы другою.

: ., Освещенное кольцо 3 отражается от измеряемой сферы подпятника 6, установленного на предметном столике 2, и величина действительного изображения этого кольца измеряется микроскопом.

При указанном устройстве вели2а чины а и у, а следовательно и

У могут считаться практически постоянными и, следовательно, величина радиуса г подпятника является функцией только измеренной величины у действительного изображения диаметра кольца 3.

Приведенная выше формула применяется при измерениях умеренной точности и при малых радиусах кривизны подпятников, когда у мало сравнительно с у. При больших значениях радиуса (например, 2 л л при а = 30 люле и у = 25 лсл) рекомендуется применение формулы r = 21= - = — —, где F — расстояние действительного изображения от отражающей свет поверхности кольца, а прочие буквы имеют прежнее значение.

Для упрощения подсчетов по этой формуле можно пользоваться таблицей, дающей значение постоянной микросферометра для различных значений величины у в известных пре делах.

Предмет изобретения.

1. Оптический микросферометр для измерения радиуса закругления подпятников, отличающийся тем, что, с целью уменьшения изменения постоянной микросферометра при изменении положения осветителя, освещенному объекту, служащему для создания получаемого отражением от измеряемой сферы действительного изображения, придана форма тонкого кольца с полированной закруглен кромкой.

2. Форма выполнения оптического микросферометра по и. 1, отличающаяся тем, ITo, с целью сохранснпя постоянства расстояния от действительного изображения до освещенного кольца при наводке микроскопа на ясную видимость действительного изображения, освещаемое кольцо жестко скреплено с объективом микроскопа.

Оптический микросферометр для измерения радиуса закругления подпятников Оптический микросферометр для измерения радиуса закругления подпятников Оптический микросферометр для измерения радиуса закругления подпятников 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к устройствам для измерения радиуса сферических полированных поверхностей, и может быть использовано при контроле оптических деталей

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерферометрии, и может быть использовано для контроля радиуса кривизны оптической поверхности

Изобретение относится к области нанотехнологий и наноэлектроники, а более конкретно к сканирующей зондовой микроскопии

 // 157789

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при сравнительном анализе объектов, в частности для идентификационных исследований в области криминалистики

Изобретение относится к бесконтактным способам измерения линейных размеров, износа, а также к устройствам для их осуществления
Наверх