Способ контроля однородности двупреломляющих пленок

 

Класс 42 1, 3„

X 555L8

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зарегистрировано е Бюро последующей регистрации илобретений Госплана при СНК СССР пленОк, В. В. Аршинов.

Способ контроля однородности двупреломля

I y. 1

Заявлено 25 сентября 1938 года в НКХП за M 19

Опубликовано 31 августа 1939 года, Согласно настоящему изобретению, предлагается оптический способ контроля однородности двупреломляющих пленок.

Этот способ основан на пропорциональности физической величины, называемой разностью хода лучей света, и произведении другой физической величины, называемой силой двупреломления, на величину пути луча в двоякопреломляющем веществе, т. е. на толщину слоя последнего и ри вертикальном прохождении луча через ограничивающие этот слой параллельные плоскости. Разность хода лучей, приобретаемая в двоякопреломляющем веществе, может быть определена довольно точно по интерференционному цвету вещества при его рассматривании между николями или поляроидами.

Весьма точно разность хода лучей может быть определена на поляризационном микроскопе при помощи специальных приборов, которые называются компенсаторами, Сила двупреломления измеряемая в определенном направлении, является для однородных двупреломляющих веществ постоянной величиной и для каждого вещества в отдельности может быть измерена на пластинках, листочках и пленках известной тонины при помощи измерения разности хода лучей.

Целофановые и другие двупреломляющие пленки, при одном и том же способе их изготовления и одном и том же составе, должны иметь в направлении, перпендикулярном к плоскости пленки, одинаковые оптические свойства, в частности и одинаковую силу двупреломления.

Для контроля по интерференционному цвету пленки ее однородности можно рекомендовать следующий способ. Пленку, получаемую с последнего сушильного вала, передвигают между двумя стеклянными пластинками шириной в 2 — 3 сл и длиной, равной длине вала (около 1,5 м).

К стеклянным пластинкам прикрепляются поляроидные пленки. Вместо стеклянных пластинок с прикрепленными или приклеенными к ним поляроидными пленками, или стеклянных же пластинок с защемленными между ними поляроидными пленками, можно применять более толстые поляроидные пленки или пластинки второго типа поляроидов. Одна такая пластинка с поляроидными пленками находящаяся за испытуемой двоякопреломляющей пленкой, служит поляризатором световых лучей и освещается обычными электрическими лампами или дневным светом при помощи зеркал; другая, находящаяся спереди испытуемой двоякопреломляющей пленки, служит анализатором прошедших сквозь пленку поляризованных лучей и приводит два возникших в пленке луча к одной плоскости поляризации и к интерференции.

Направления колебаний, пропускаемых поляризатором и анализатором поляризованных лучей, следует иметь взаимно перпендикулярными. Для получения максимальной яркости интерференционных цветов в испытуемой пленке направления колебаний поляризованных лучей, пропускаемых пленкой, должны составлять угол в 45 с направлениями колебаний поляризованных лучей, пропускаемых поляризатором и анализатором.

По однородности наблюдаемого интерференционного цвета можно судить об однородности получаемой пленки, а, возможно, и об одинаковости ее тонины.

Предмет изобретения.

Способ контроля однородности двупреломляющих пленок, отличающийся тем, что исследуемую пленку пропускают между поляризатором и анализатором, например, в виде поляроидов и наблюдают интерференционные цвета пленки, по которым определяют однородность последней.

Тип. арт. «Сов. Печ.». Зак. № 7532 — 600

Способ контроля однородности двупреломляющих пленок Способ контроля однородности двупреломляющих пленок 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к техническим средствам, уменьшающим фоновую составляющую изображения при использовании электромагнитного излучения в широком диапазоне длин волн

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения с высокой точностью показателей преломления изотропных и анизотропных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для высокоточных измерений малых угловых перемещений в специальных геодезических работах, в точных геофизических измерениях и при производстве крупногабаритных изделий в качестве контрольно-измерительной аппаратуры

Изобретение относится к вспомогательной аппаратуре для спектральных приборов и предназначен для измерения расстояний между спектральными линиями (далее СЛ) в единичном спектре и между СЛ и интерференционными полосами (далее ИП), расположенными в смежных спектрограммах, спектроинтерферограммах протяженных длин (3 м и более)

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к двухэкспозиционной голографической интерферометрии, и может быть использовано при исследовании вибраций объектов, в том числе вращающихся, и других процессов

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области волоконной оптики и может быть использовано при конструировании электронного блока обработки информации волоконно-оптического гироскопа, а также других датчиков физических величин на основе кольцевого интерферометра

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для исследования движений в микроэлектронике и машиностроении
Наверх