Способ измерения деформаций

 

пп 5022IO

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заввлено 17.09.73 (21) 1959749/25-28 с присоединением заявки № (32) Приоритет

Опубликовано 05.02.76. Бюллетень № 5

Дата опубликования описания 04.04.76 (51) Ч. Кл."- G 01В 11/18

Государственный комитет

Совета Министров СССР па делам изобретений и открытий (53) УДК 531.781.2:539.3 (088.8) (72) Автор изобретения

P. Д. Богданов

Научно-исследовательский институт строительных конструкций (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ

Изобретекие относится к технике оптических методов исследования напряженно-деформированного состояния деталей машин и строительных ко нструкций.

Известе н способ измерения деформаций с использованием фотоупругих поюрытий, заключающийся в том, что на поверхность исследуемого объекта наносят покрытие с наруж ным фотоупругим и в нутренним светоотражающим .слоем, направляют на него поляризованный световой луч, нагружают исследуемый объект и по измеренной разности фаз отраженного луча, прошедшего дважды через фотоупругое покрытие, определяют деформацию объекта с помощью тарировочной кривой.

Недостатком известного способа является его сложность, поскольку в этом случае применяются поляризатор и анализатор света и сложные компенсаторы (типа иммерсионного компенсатора, компенсатора Бабине-Солейля и т. д.). Кроме того, известный способ не позволяет измерять деформации в любой точке поверхности исследуемого объекта.

Цель изобретения — упрощение процесса измерения и обеспечение возможности измерения деформаций,в любой точке пове рхности исследуемого объекта.

Это достигается тем, что в качестве наружного слоя покрытия НВНосНТ светопоглощающий слой, после нагружения объекта измеряют силу света, дважды прошедшего через светопоглощающий слой, и по величине измеренной силы света с помощью тарировочной кривой определяют величину деформации.

На чертеже изображена общая схема измерения деформаций.

Луч света 1 от источника света 2, пройдя дважды через светопоглоща1ощнй слой 3 и

10 отразившись от светоотражающего слоя 4, нанесенных на .поверхность исследуемого объекта 5, попадает на фотоэлемент 6, измеряющий силу света. Последняя зависит от плотности светопоглощающего слоя 3, которая в

15 свою очередь зависит от величнны,деофрмации в данной точке поверхности объекта.

Суть изобретения состоит .в следующем.

На поверхность объекта наносят двухслойное покрытие с внутренним светоотражаю20 щим и наружным светопоглоща|ощнм слоем, освещают его лучом света и нагружают исследуемый объект, что приводит к деформнрованию светопоглощающего слоя. Затем с помощью фотоэлемента измеряют силу света, 25 прошедшего дважды через светопоглощающий слой, и по измерен ному значению с помощью тарировочной кривой определяют величину деформаций. Компактность оптической схемы, реализующей данный способ, по30 зволяет использовать его для измерения дс502210

Предмет изобретения

Составитель Е. Подпалый

Техред В. Рыбакова

Корректор О. Тюрина

Редактор H. Петрова

Заказ 934/2 Изд, Ма 255 Тираж 864 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 формаций практически в л1обой точке поверхности объекта.

Способ измерения деформаций, заключающийся в том, что на поверхность исследуемого объекта наносят двухслойное покрытие с внутренним светоотражающим слоем, направляют на него луч света, нагружают исследуемый объект и IIQ измервнному состоянию отраженного луча с помощью тарировочной кривой определяют величину деформации, отличающийся тем, что, с целью упроще ния процесса измерения и обеспечения возможности измерения деформаций в лю5 бой точке поверхности иоследуемого объекта, в качестве наружного слоя покрытия наносят светопоглощающий слой, после нагружения объекта измеряют силу света, д важды прошедшего через светопоглощающий слой, и по

10 величине измеренной силы света с помощью тарировочной кривой определяют величину деформации.