Способ регулирования пределов измерений абсорбционных анализаторов

 

О Л И С А Н И Е („) 518642

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено28.08.72 (21) 1823191/25 (51) М. Кл.

G 01 1 1/04 с присоединением заявки №

Государственный номитет

Совета 1йинистров СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет (43) Опубликовано25.06.76.Бюллетень Ме 23 (53) ДК 535.341.08 (088.8) (45) Дата опубликования описания 22.07-76 (72) Автор изобретения

Н. И. Неделько (71) Заявитель Северо-Кавказский филиал института "11ветметавтоматика" (54) СПОСОБ РЕГУЛИРОВАНИЯ ПРЕДЕЛОВ ИЗМЕРЕНИЙ

АБСОРБЦИОННЫХ АНАЛИЗАТОРОВ

Изобретение относится к анализаторам состава вещества и предназначено для регулирования пределов измерений спектрофотометрических, рентгеновских и радиоизотопных абсорбционных анализаторов, принцип действия которых основан на компенсации излучения с помощью измерительных клиньев.

Известны способы регулирования пределов измерений абсорбционных анализаторов 10 путем изменения толщины кюветы (lj Однако этим способам свойственна сложность изготовления кювет переменной толщины.

Наиболее близким является способ регулирования пределов измерений абсорбцион- 15 ных анализаторов, содержащих в измерительных схемах компенсационные клинья, путем изменения градиента оптической плотности клина. Он заключается в установке измерительных оптических клиньев с соответству- 20 ющим градиентом оптической плотности (2)

Такой способ не позволяет плавно регулировать пределы измерения и требует точного изготовления измерительных клиньев и кювет. 25

11ель изобретения — обеспечение плавного регулирования пределов измерений абсорбционных анализаторов.

Достигается это изменением угла падения луча на клин, например, в плоскости, перпендикулярной градиенту оптической плотности клина. Поскольку оптическая толщина клина обратно пропорциональна косинусу угла преломления луча, то и градиент оптической плотности клина соответствующим образом зависит от угла преломления, а следовательно и угла падения луча.

Аналогичный вывод можно сделать и для случая ослабления рентгеновского и гамма излучений измерительным и компенсационными клиньями.

Таким образом, плавное регулирование пределов измерений абсорбционных анализаторов может быть осуществлено путем изменения угла падения луча на клин.

Использование предлагаемого способа позволит упростить конструкцию инастройку абсорбционных анализаторов, повысить эффективность оперативного контроля и регулирования технологических процессов.

3 5186

Формула Qзобретения

-.Спрсоб регуиироьаЖ я пределов измерении абсорбционных анализаторов, содержаших в измерительных схемах компенсационные 5 клинья, путем изменения градиента оптической плотности клина, о т л и ч а ю ш и йс я тем, что, с целью обеспечения плавного регулирования пределов измерений, изменяют угол падения луча на клин, например, 10 в плоскости, перпендикулярной градиенту оптической плотности клина.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Авт. св. СССР, кл. G 01 1 1/00, % 138390, 1 962 г, 2, М, М. Гринштейн и др. Фотоэлектрические концентратомеры для автоматического контроля и регулирования, "Машиностроение", М., 1966, стр. 120 (прототип).

Составитель М. Кротов

Редактор Е, Гончар Техред С. Габовда Корректор Д„Мельниченко

Заказ 1849/254 Тираж 814 Подписное

Е НИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Способ регулирования пределов измерений абсорбционных анализаторов Способ регулирования пределов измерений абсорбционных анализаторов 

 

Похожие патенты:

Фотометр // 459688

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх