Способ исследования деформированного состояния объектов
(11) 5 2, 3 4 5 7
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свнд-ву (22) Заявлено15.01.74 (21) 1990642/28 с присоединением заявки № (23) Приоритет— (43) Опубликовано15.О7. 76. Бюллетень № 26 (45) Дата опубликования описания 24.09.76 (51) М. Кле
Cr O1 B 11/16
&О2 В 27/CG
1 кударатееенмй немнтет
Сената Мнннетреа ССР ае делам нзабретеннй н еткрмтнй (53) УДК 5 3 1. 78 1. 2 (О88.8 ) (72) Автор изобретения
А. И. Кох (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ДЕФОРМИРОВАННОГО
СОСТОЯНИЯ ОБЪЕКТОВ
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при исследовании деформированного состояния деталей машин, элементов конструкций и их моделей. б
Известен способ исследования деформированного состояния объектов, заключающийся в том, что с помощью двух интерферирующих когерентнь. х плоскопараллельных пучков света на поверхности объекта фор- 10 мируют сетку, нагружают объект, освещают
его плоскопараллельным пучком света и по интенсивности света, дифрагировавшего на различных участках поверхности, определяют величину деформацт и. Изменение интенсив- 15 ности определяется изменением направления максимума диаграммы направленности дифрагировавшего света в результате поворота или изменения периода сетки при деформировании объекта. 20
Недостатком известного способа является его сложность, поскольку для определения деформаций необходимо проводить трудоемкие замеры и пересчет измеренных величин для каждого участка поверхности исследуемо-И го объекта, а для формирования на поверхности сетки необходим мощный лавер.
Белью изобретения является упрощение процесса исследования.
Это достигается тем, что по предлагаемому способу на поверхности объекта закрепляют светочувствительный слой и двойной экспозицией формирутот на нем сетку до и после нагружения объекта.
Способ осуществляют следующим образом.
На поверхности объекта закрегляют светочувствительный слой (например, фотоэмульсионный ), формируют на нем скрытое изображение сетки с помощью двух интерферируюших когерентных плоскопараллельнь.х пучков света, затем нагружают объект,ло-торно экспонирук.т светочувствитель..::и слой, проявляют его, освещают плоскопараллельным пучком света и в дифрагировавшем на сетке свете наблюдают муаровую картину, по которой определяют деформации объекта.
52 1457
Составитель E. Подпалый
Редактор И. Шубина Техред М. Левицкая Корректор Й Мельниченко
Заказ 4 169/537 Тираж 864 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Филиал ППП "Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
Формула изобретения
Способ исследования деформированного состояния объектов, заключающийся в том, что на поверхности объекта формируют сетку с помощью двух интерферируюших когерентных плоскопараллельных пучков света, нагружают объект, освещают его «оскоиараллельным пучком света и по интенсивности света, дифрагировавшего на различных участках поверхности, определяют величину деформации, о т л и ч а ю m и и с я тем, что, с целью упрошения процесса исследования, на поверхности объекта закрепляют светочувствительный слой и двойной экспозицией формируют на нем сетку до и после нагружения объекта.