Контактное устройство для подключения микросхем с планарными выводами

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (11) 528007 (61) Дополнительное к авт. свил-ву (22) Заявлено 04,1074(21) 4072771/21 (51) М. Кл. с присоединением заявки №

Н 05 К 1/04

Гостдарстввииый иамитвт

Совета Мииистрав СССР па делам изасрвтаиий и открытий (23) Приоритет— (43) Опубликовано 05.0578, Бюллетень № 17 (53) УДК 621. 317. 752 ° .002.5(088 ° 8) (45) Дата опубликования описания 050478 (54) КОНТАКТНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОДКЛЮЧЕНИЯ МИКРОСХЕМ

С ПЛАНАРНЫМИ ВЫВОДАМИ

Измерение относится к области радиотехники, в частности, к устройствам для подключения интегральных микросхем, и может быть использовано при входном контроле радиоэлементов..

Известны контактные устройства для подключения микросхем с планарными выводами, содержащие корпус с контактными элементами и крышкой, и размещенным внутри корпуса подпружиненнжл т0 выталкивателем в виде штока.

Однако при выталкивании микросхемы после проверки в таком контактном устройстве происходит деформация выводов, приводящая к порче микросхемы и снижающая надежность работы устройства.

Цель изобретения — устранение деформации выводов при выталкивании микросхемы -.достигается тем, что предлагаемое устройство снабжено разме- 20 щенным соосно со штоком выталкивателя и взаимодействующим с корпусом микросхемы стержневым толкателем с пружиной, свободный конец которой взаимодействует с корпусом устройства. 25

На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство; на фиг. 2 — то же, вид сверху, со снятой крышкой.

Контактное устройство для подключения микросхем с планарными выводами 30 содержит корпус 1 с закрепленной в нем платой 2 с контактными элементами 3, выполненными в виде печатных проводников, подпружиненную крышку 4 с защелкой и эластичными прижимами 5, разделительную гребенку б, размещенный внутри корпуса выталкиватель 7 в виде штока, подпружиненного пружиной 8 и снабженного рычагом 9, стержневой толкатель 10, размещенный соосно со штоком выталкивателя 7 и подпружиненный пружиной 11, свободный конец которой размещен в пазу корпуса 1. Толкатель 10 служит для взаимодействия с корпусом подключаемой микросхемы 12.

Устройство работает следующим ооразом.

Подключаемая микросхема 12 устанавливается в корпусе 1 устройства при откинутой крышке 4. При закрытой крышке 4 эластичные прижимы 5 прижимают выводы микросхемы к контактным элементам 3.

После проверки параметров крышка 4 откидывается, оператор нажимает на рычаг 9, пружина 11 сжимается и микросхема 12 выходит из гребенки б.

528007

Фи8. /

Составитель Н.Блннкова

Редактор П.Горькова Техред М.Борисова Кор М.Демчик

Заказ 2457/41 Тираж 992 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССЕ по делам изобретений и открытий

11303 5 дадкдд *-35 Payulcr

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 ь

При случайном нажатии на рычаг 9 выталкивателя 7 в момент проверки микросхемы пружина 8 через шток выталкивателя 7 давит на толкатель 10 и микросхему 12. При этом сжимается лишь пру- 5 жина 8, преодолевая усилие пружины 11 и силу сопротивления корпуса микросхемы 12, у которой выводы прижаты к печатным проводникам.

При нажатии на рычаг 9 до vnopa щ усилие пружины 8 превьглает усилие пружины 11 на величину порядка 50 . При таком давлении не происходит деформации выводов и выхода из строя подключаемой микросхемы.

Формула изобретения

Контактное устройство для подключения микросхем с планарными выводами, содержащее корпус с контактными эле ментами и крышкой, и размещенным внутри корпуса подпружиненным выталкивателем в виде штока, о т л и ч а юш е е с я тем, что, с целью устрайе-. ния деформации выводов при выталкивании микросхемы, оно снабжено размещен- ным соосно со штоком выталкивателя и взаимодействующим с корпусом микросхемы стержневым толкателем с пружиной, свободный конец которой взаимодействует с корпусом устройства.

Контактное устройство для подключения микросхем с планарными выводами Контактное устройство для подключения микросхем с планарными выводами 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх