Приставка к металлографическому микроскопу

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (11) 535467

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 07.01.74 (21) 1996588/25 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 15.11.76. Бюллетень № 42

Дата опубликования описания 12.11.76 (51) М Кл G 01J 1/04

Государственный комитет

Совета Министров СССР (53) УДК 535.24(088.8) ло делам изобретений и открытий (72) Автор изобретения

В. В. Патрикеев

Институт органической химии им. Н. Д. Зелинского (71) Заявитель (54) ПРИСТАВКА К МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКОМУ

МИКРОСКОПУ

Изобретение относится к области металлографии, в частности к металлографическому микроскопу с приставкой, используемой для исследования коррозии металлов химических каталитических реакций, процессов диффузии.

Известна приставка, представляющая собой зеркало в виде усеченного конуса с образующей 45 (1).

Однако эти устройства не дают истинного изображения объекта и процессов, происходящих в нем.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому устройству является приставка к металлографическому микроскопу, содержащая блок для фиксации исследуемой пленки (2).

Недостатком этой конструкции является то, что при фиксировании на фотопленке различных реакций процессов коррозии, видна только одна сторона пленки, что не позволяет судить о ее химической стойкости в процессах коррозии, о влиянии на этот процесс включений, при этом эта конструкция не позволяет фиксировать диффузию металла в металл.

Для обеспечения возможности наблюдения процессов диффузии, коррозии и катализа, происходящих на обеих сторонах пленки одновременно, в предлагаемом устройстве блок для фиксации исследуемой пленки выполнен из двух частей, торцы которых со стороны пленки скошены под углом 45 и образуют между собой прямой угол, обращенный к микроскопу.

На чертеже изображена предлагаемая приставка, состоящая из двух частей 1 и 2, которые собраны в одно целое путем скрепления их винтами 3 и 4, на боковой стороне каждой части 1 и 2 сделаны скосы 5 и 6 соответственно. При сборке приставки скосы образуют полость, в которой помещается исследуемая пленка 7. В разрезе показан ход лучей и положение пленки в собранной приставке.

15 Части 1 и 2 сделаны из никеля, посеребрены и тщательно отполированы. При работе в агрессивных средах их покрывают прозрачным лаком, а приставку помещают на предметный столик металлографического микро20 скопа.

Пример 1. Наблюдение коррозии металла.

Между металлическими частями 1 и 2 при25 ставки зажимают пленку алюминия, напыленную на тонкую пластину слюды и заливают ее водой, Со стороны металла пластинка быстро тускнеет, а со стороны слюды появляются постепенно расширяющиеся мутные по30 лосы.

5354G7

Формула изобретения

Составитель А. Шеломова

Редактор И. Шубина Техред A. Камышникова Корректор Л. Денискина

Заказ 2486/11 Изд, 1Ч о 1757 Тираж 814 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

П р и и е р 2. Наблюдение каталитического процесса.

Между металлическими частями 1 и 2 приставки зажимают пленку из палладия толщиной 0,3 мм. С одной стороны пленки при прокатке добавляют медный порошок. Полость приставки заливают перекисью водорода 2 /оной концентрации. -Наблюдается выделение кислорода из меди на другой стороне в местах деформации палладия.

Пример 3. Наблюдение диффузии и каталитического процесса одновременно.

Палладиевую пленку от опыта, описанного в примере 2, прогревают в течение 3 ч при

250 в инертной атмосфере. Далее помещают в приставку и заливают перекисью водорода.

Опыт показывает, что выделение кислорода пдет на обеих сторонах пленки на участках, где за счет диффузии появляется медь. Аналогично были проведены опыты с пленками железа, никеля, титана, меди и олова.

Приставка к металлографическому микроскопу, содержащая блок для фиксации иссле5 дуемой пленки, отличающаяся тем, что, с целью обеспечения возможности наблюдения процессов диффузии, коррозии и катализа, происходящих на обеих сторонах пленки одновременно, указанный блок выполнен из

10 двух частей, торцы которых со стороны пленки скошены под углом 45 и образуют между собой прямой угол, обращенный к микроскопу.

15 Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Авт. свид. Ма 58946, М. Кл. G 01N 21 46, 1 939, 2. «Приборы для химических и физико-хи20 мических исследований», выпуск 7, тема 35, КП 60 — 64, 1960, стр. 7 — 13, статья В. В. Патрикеева и др. «Метод изучения каталитической активности сплавов» (прототип) .

Приставка к металлографическому микроскопу Приставка к металлографическому микроскопу 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх