Состав для шлифования полупроводниковых структур

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

I I l) 5450! 7

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Доно IHIIiåëüíîå к авт. свид-ву (22) Заявлено 02.06.75 (21) 2139649, 25 с присоединением заявки ¹

Гасударственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений н открытий (23) Приоритет

Опубликовано 30.01.77. Бюллетень ¹ 4 (53) УДК 621.382(088.8) Дата опубликования описания 11.02.77 (72) Авторы изобретения

Я. М. Пинчук и В. М. Рюмшин (71) Заявитель (54) СОСТАВ ДЛЯ ШЛИФОВАНИЯ

ПОЛУПРОВОДН ИКОВЫХ СТРУКТУР кую скорость шлифования трудно регулироI33TI временем, поэтому возможна псреш lllфовка.

Цель изобретения — повышение прочности и снижение электрического сопротивления контакта.

Поставленная цель достигается тем, что в состав введен глицерин при следующем соотношении компонентов в вес.

Абразивньш порошок N-28 20 — 30

Глицерин 20 — 40

Вода Остальное

П р» м е р. Полупроводниковые пластины п — типа проводимости после операций диффузии акцепториой примеси, термического окисления, фотолитографии, диффузии донорной примеси и фшшшной фотолитографии подвергают гидромеханической обработке в водной суспензии состава (вес. % ):

Глицерин 20 — 40

Аоразивный порошок М-28

Вода

20 — 30

Остальное

После o0p30()T суспензией полупроводниковые структуры отмывают в водной ультразвуковой ваипс и они поступают иа операцию металлизаиип методом осаждения из раст30 вора.

Изобретение относится к технологии изготовления полупроводниковых приборов, преимущественно при получении контактных покрытий на многослойных полупроводниковых структурах со сложным рельефом.

Известен травитель для обработки поверхности полупроводниковой структуры перед операцией нанесения контактов, содержащий насыщенный раствор бихромата калия в плавиковой кислоте и травитель, содержащий натриевую и калиевую щелочь.

К недостаткам известного травителя относится следующее.

Раствор бихромата калия в плавиковой кислоте воздействует на поверхность кремния и на разделительные окисные слои, он также полирует поверхность полупроводника, ограничивая предельную толщину осаждаемого покрытия.

Обработка в смеси натриевой и калиевой щелочей (тактике как и предыдущий травитель) снижает концентрацию легирующих примесей в приконтактной области и полирует поверхность структуры.

Наиболее близким техническим решением является состав для шлифования полупроводниковых структур со сло киым рельефом, например, окисным, содержащий абразивный порошок и воду. Однако состав требует постоянного иеремешивания, кроме того, высо(51) М. Кл.- "Н 01L 21 306

545017

Формула изоорстеиия

Составитель Е. Бычков

Текред Е. Петрова

Корректор Л. Деиискина

Редактор Н, Коляда

Заказ 112/13 Изд. ¹ !67 Тира>к 1019 Подписное

Ц!1ИИПИ Государственного ком(!тета Сонета Министров СССР во дел ))l изобретений и с гкрытнй

113035, Москва, )К-35, 1 аугнская иаб., д 415

Типография, пр. Сапунова, 2

Рса (иаациЯ !!Peg,(oil(cllllol o clloco()3 пО3130iIIIÒ IlOI3(>ICII J I IJPOJ(CJIl !3Ь(:(ОД3, НВДСЖИОСТ(> II

ЦИК, IОС J Oiп;ОСТЬ IIO. J ÷ ((PОВОДНИКОВ1>1:: ПРИОО )OJ3, С И I! 311 T I> П Р Я (> 0 С И 3 Д L И I I С П ЬI П Р )1 Ж С(! I! и И ТЕ ИЛ 0вое сопротивление.

Состав для шлифования полупровод!3иковык структур со сложным рельефом, например

oI(JIcJJ((»I, содер)каи(ий оорааивиый порошок и (3O, (>t, О 1, I II Ч cl IO II(JI И С )! С)1, 1 !О, С Ц(., !1>10 II()131>(И! СИ И Я !)()О I IIOCTII II СН ИЖСJI JI Ë ЭГ(С(СТ() И>!ССКОго сои!)Отивлс!!и)1 коитакга, В соста13 Ввсдсll глицерин при следу!Ощи): соотношенияк ингРаДиситов в вес. )о: . (О ) 3 3 (1 В Н Ы (3 (I O P Oшок М-28 20 — 30

Глицерин 20 — 40

Вода Остальное

Состав для шлифования полупроводниковых структур Состав для шлифования полупроводниковых структур 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на повышение технологичности процессов механической обработки, выхода годных пластин, в частности, из материалов группы A3B5 в случае получения пластин с допуском диаметра 0,3 мм и менее

Изобретение относится к области микроэлектроники, в частности, к технологии изготовления полупроводниковых структур, являющихся элементной базой функциональной микроэлектроники и может быть использовано в технологии изготовления интегральных газовых датчиков с тонкими мембранами /1- 5 мкм/, а также мембран для рентгеновских фотошаблонов

Изобретение относится к полупроводниковой электронике и может быть использовано в производстве полупроводниковых лазерных диодов и светодиодов

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано при изготовлении полупроводниковых структур, получаемых:- путем механического утонения структур с нерабочей стороны структур до фиксированной толщины, например до толщины 6-20 мкм;- путем термического соединения (сварки через окисел) двух пластин разной проводимости, легирования и кристаллографической ориентации и механического утонения одной из пластин до фиксированной толщины, например до толщины 6-10 мкм;- путем механической или химико-механической доводки структур для выравнивания планарного рельефа, удаления дефектов с использованием Stop-процесса

Изобретение относится к способам термохимического травления тугоплавких химически стойких материалов, в частности к методам локального травления их поверхности, например, с использованием локального лазерного облучения

Изобретение относится к технике полупроводникового производства и может быть использовано для формирования многоуровневых межсоединений СБИС, в частности, для планаризации поверхности межслойного диэлектрика, межуровневого диэлектрика, для получения вертикальных проводников, диффузионно-барьерных слоев и адгезионных слоев на операциях подготовки поверхности пластин, например, при химико-механической полировке с последующей отмывкой их (гидромеханической, мегазвуковой и др.)

Изобретение относится к электронной промышленности, а именно к фотошаблонным заготовкам (ФШЗ), предназначенным для формирования рисунка микроизображения при изготовлении интегральных схем

Изобретение относится к области оптоэлектроники и может быть использовано при изготовлении пластин из слитков или булей монокристаллов, например, сапфиров

Изобретение относится к производству изделий электронной техники и может быть использовано, например, на операциях очистки полупроводниковых пластин с помощью щеток и мегазвука
Наверх