Способ многопараметрового электромагнитного контроля

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (11} 550523 (61) Дополнительное к авт. свид-ву 339856 (22) Заявлено 23.06.75 (21) 2147227/28 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 15.03.77. Бюллетень № 10

Дата опубликования описания 04.04.77 (51) М. Кл.з G OIB 7/06

Государственный комитет

Совета Министров СССР ло делам изобретений и открытий (53) УДК 620.179.14 (088.8) (72) Авторы изобретения

В. С. Фастрицкий и Е. Н. Дерун (71) Заявитель

Рижский ордена Трудового Красного Знамени политехнический институт (54) СПОСОБ МНОГОПАРАМЕТРОВОГО ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО

КОНТРОЛЯ

Изобретение относится к средствам, не изменяющим структуру объектов контроля, и может быть использовано в электромагнитной толщинометрии вихретоковыми преобразователями.

Известны способы вихретоковой толщинометрии, заключающиеся в том, что в поле взаимодействия с контролируемым объектом создают возвратно-поступательное перемещение вихретокового преобразователя по нормали относительно поверхности указанного объекта и при этом регистрируют сигналы преобразователя (1, 2).

Однако известные способы относительно сложные и для реализации их дополнительно используют емкостной преобразователь.

Известен также способ по авт. св. № 339856, в котором регистрируют сигналы вихретоковых датчиков, включенных по дифференциальной схеме. В этом способе минимизируют выходной сигнал указанной схемы в процессе перемещения датчика по нормали относительно контролируемого объекта и тем самым снижают влияние зазора между преобразователем и изделием на точность контроля, Однако дальнейшее повышение точности контроля толщины изделий может быть достигнуто при фиксации максимальных значений сигналов датчиков.

С целью повышения точности контроля толщины изделий по предлагаемому способу фиксируют максимальные значения сигналов датчиков.

5 Сущность способа заключается в том, что при сближении вихретокового датчика с контролируемым объектом по нормали к его поверхности фиксируют максимальное значение сигнала датчика и определяют корреляцион10 ную зависимость этого сигнала от свойств контролируемого объекта.

При реализации этого способа, например, с накладным вихретоковым датчиком, его возбуждают от генератора тока соответствующей

15 частоты и при сближении с контролируемым объектом фиксируют максимальное значение напряжения на нем. При этом влияние вносимой составляющей напряжения за счет изменения зазора между датчиком и объектом бу20 дет минимальным.

Формула изобретения

Способ многопараметрового электромагнитного контроля по авт. св. № 339856, о тл и ч а25 ю шийся тем, что, с целью повышения точности контроля толщины изделий, фиксируют максимальные значения сигналов датчиков.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

Составитель А. Духанин

Корректор А. Степанова

Техред И. Карандашова

Редактор Н. Аристова

Заказ 614/5 Изд. № 293 Тираж 899 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

1. Авторское свидетельство № 322602, М. Клг G 01В 7/06 1970

2. Авторской свидетельство № 336299, М, Кл г G 01В 7/06, 1970.

Способ многопараметрового электромагнитного контроля Способ многопараметрового электромагнитного контроля 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх