Двухлучевой фотометр
ОП ИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
К АВТОРСКОМХ СВИДЕТВЛЬСТВХ (61) Дополнительное к авт. свид-ву» (22) Заявлено 03.10.75(21) 2178261/25 с присоединением заявки №(23) Приоритет (43) Опубликовано 25.05.776юллетень № 19
Союз Советских
Социалистииеских
Республик (11) 589127 (51) М. Кл т.й 01 т 1/20
1 осудврственный коинтвт
Совета Иннвотров СКР по долам нзооретеннй и открытий (Sa) уды 535.24 (088.8) (45) Дата опубликования описания29.07.77
М. М. Назаренко и В, Q. Попов (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) ДВУХЛУЧЕВОИ ФОТОМЕТР
1
Изобретение относится к области оптических измерений, а более конкретно для измерения коэффициентов пропускания раз личных обьектов посредством двух лучевых фотометров.
Известны двухлучевые фотометры для измерения коэффициентов пропускания различных обьектов„содержащие источник света, делитель светового пучка, отражающие зеркала, фотоприемник, фотометрическнй кЛин, 1О регистрирующее устройство.
Недостатком известного устройства является низкая точность.
Известен двухлучевой фотометр, содержащий источник поляризованного света, делитель светового пучка, отражатель, оптический клин диафрагмы, обьектив, фотоприемник, индикатор нуля.
Недостатком известного фотометра является его сложность и низкая точность измерения малых коэффициентов пропускания.
Целью изобретения является упрощение конструкции и повышение точности двухлучевого фотометра. 25
Это достигается тем, что делитель светового пучка выполнен в виде плоскопараллельной пластины и образует с отражателем двугранный угол, ребро которого совпадает с осью вращения основания, на котором жестко установлены делитель и от» раиатель, причем одна нз диафрагм жестко связана с отражателем.
На чертеже изображена схема, двухлу-. чевого фотометра
Фотометр состоит из источника поляризационного излучения, например оптического квантового генератора 1, помещенных последовательно по ходу луча поляризатора 2 плоскопараллельной пластины 3 с отражателем 4, закрепленных на основании 5, причем отражатель установлен на пути отраженного от пластины луча, диаф рагм 6, измерительного устройства 7, состоящего из собирающей просветленной линзы 8, фотоприемника 9, механического прерывателя 10, установленного перед ф отоприемником, и индикатора нуля 1 1.
559127
Измеряемый образец 12 помещен после плоскопараллельной пластины 3 соосно с лучом, прошедшим плоскопаваллельную пластину. Одна из диафрагм б ..жестко связана с плоскопараллельной пластиной 3. фотометр работает следующим образом.:
Излучение источника 1 после прохождения поляризатора 2 падает на плоскопараллельиую пластину 3, которая выполняет роль р калиброванного расщепителя луча. Прошедший луч, пройдя измеряемый образец, попадает через линзу на фотоприемник. Отраженная от плоскопараплельной пластины часть луча падает на отражатель 4.. Пластина и р отражатель жестко укреплены на основании 5. Прошедший луч является измерительным, а отраженный - эталонным. Эталонный и измерительные лучи, пройдя диафрагмы 6, попадают на измерительное устройство 7. 20
Измеряемый образец помещается на пути измерительного луча. Основание 5 выполнено с возможностью доворота в плоскости падения эталонного и измерительного лучей. При повороте основания 5 меняется. угол падения лучей на плоскопараллельную пластину и отражатель, что в соответствии с формулами Френкеля изменяет интенсивности прошедшего и отраженного лучей.
Измерение пропускания на фотометре про-80 изводится следующим образом. В измерительном луче устанавливается измеряемый образец 12 и, вращая основание 5, которое снабжено механизмом отсчета угла, добиваются равенства интенсивностей обоих лучей. При этом выполняется следующее где За -интенсивность падающего света, Rnaий .- коэффициенты отражения по ин40 тейсивности от пластин и отражателя соответственно.
Из формулы Х определяют коаффициент пропускания.
\ пл отр. 45 (1 3„„)
При измерении малых коэффициентов пропускания выгоднее использовать диэлектрический отражатель, например; из кристаллического кварца, Тогда коаффициент про50 пускания, в соответствии с формулой II слабо зависит от угла поворота основания
5, при этом снижаются требования к точности поворота основания и расходимости
55 выходного излучения источника света. Кроме того, для получения больших ослаблений эталонного, луча при измерении малых коэффициентов пропускания, плоскость поляризации выходного луча источника света должна лежать в плоскости падения, а угол падейия света на плоскопараллельную пластину или диэлектрический отражатель должен быть близок к углу Брюстера
Лля поглощения многократно отраженных лучей от плоскопараллельной пластины установлены диафрагмы, при этом для лучшего разделения измерительного луча от побочных, вызванных многократными отражениями в пластине, диафрагму в этом луче удобнее связать с оправой пластины.
Градуировочной кривой фотометра (зависимость.коаффициента пропускания от угла разворота основания) можно управлять в широких пределах, меняя угол между светоделительной плоскопараллельной пластиной и отражателем. В качестве устройства для сведения эталонного и измерительного лучей используют просветленную фокусирующую линзу. При этом незначительные смещения измерительного луча не приведут к перемещенитб его по поверхности фотоприемника, поскольку он устанавливается в фокусе линзы.
Когда делитель и отражатель установлены под углом друг к другу, ось вращения совмещают с ребром двугранного утла, образованного поверхностями пластины и отражателя. При этом при развороте основания, эталонный луч будет неподвижен. формула изобретения
Лвухлучевой фотометр, содержащий источ. ник поляризованного света, делитель светового пучка, отражатель, оптический клин диафрагмы, обьектив, фотоприемник, индикатор нуля отличающийся тем, что, с целью упрощения его конструкции и повышения точности, делитель светового пучка выполнен в виде плоскопараллельной пластины и образует с отражателем двугранный угол, ребро которого совпадает с осью вращения основания, на котором жестко установлены делитель и отражатель, причем одна из диафрагм жест» ко связана с отражателем.
559127
Составитель М. Дедловский
Редактор И. Рогова Техред И. Асталош Корректор П. Макаревич
Заказ 1485/94 Тиращ 865 Подписное
БНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж35, Раушскан наб., д. 4/5 филиал ППП Патент, г. Укгород, ул. Проектная, 4
