Способ определения размера дефекта в направлении просвечивания

 

Сова Соввтеннх

Сбцфйлнстнмвсинх

Рвс убпнк

О П И С А Н И Е ()в77442

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДВТЮЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. санд-ву „ (22) Заавлено21.06.76 (21) 2373569/25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет (43) Опубликовано25.10.77.Бюллетень № 39 (46) Дата опубликования описания 52.11.77 (51) М. Кл.

2 (т 01 М 23/04

Гаоударотвонный ноинтот

Совата Инннотроо СССР оо долам нзоорвтоннй

N открытнй (53) УДК 620.192 (088.8) Н. И. Загайнов и Д. Д. Михалипын

r „ (72) Авторы изобретения, (Т1) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРА ДЕФЕКТА

В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ

А

= соттв .

ЦР

Изобретение относится к неразрушаюшим методам контроля качества материалов и может использоваться для определения размера дефекта в направлении просвечивания.

Известны способы определения размере дефектов в материале или изделиях, основанные на сравнении почернения радиографической пленки в участке, соответствующем месту расположения дефекта, с почернением на снимке. канавок дефектометра путем визуальной оценки или фотометрирования fig, 123, Е33

Наиболее близким техническим решением является способ определения, размера, дефекта в направлении просвечивания, заключающийся в сравнении изображений дефекта и канавок дефектометра при просмотре рент генограмм в проходящем свете 4 .

Недостатком известного способа является трудоемкость радиографирования и недостаточная производительность, так как для получения желаемого. результата необходимо сделать 4-5 просвечиваний.

Бель изобретения - повышение экспрес си ости.

Достигается это тем, что создается до полнительный световой поток переменной мощности в направлении наблюдателя и, плавно повышая его интенсивность до исн чезновения изображения дефекта и соответствующей канавки дефектометра, устанавливают размер дефекта по размеру наибо лее глубокой канавки дефектометра, иэображение которой пропадает при тех же условиях наблюдения.

При постоянной глубине дефекта контрастность радиографического снимка при обычном рассматривании на просвет можно определить как отношение интенсивности све1> та, прошедшего через изображение дефекта (3 ), к интенсивности света, прошедшего через пленку вблизи дефекта (2, ). Эта величина для данного снимка постоянна, т. е.

Если добавить к прошедшему через пленку световому потоку совпадающий с ним по ф направлению равномерный световой поток3, 577442 го отношение суммарных интенсивностей света будет стремиться к единице при 9- и изображение дефекта сольется с фоном.

Аналогичным образом уменьшается конч растность изображения канавок дефектомеч ра. Это позволяет заменить многократное радиографирование с последова1ельно умень. шающимися экспозициями рассматриванием одного первоначального снимка. При атом точность определения глубины дефектов ð возрастает, а трудоемкость снижается..

Определение глубины дефекта производится путем радиографирования дефектного учасг ка изделия и дефектометра таким образом, чтобы просвечиваемая толщина материала в 1к месте расположения дефекта и в месте расположения дефектометра была одинаковой. После

) отообработки готовый снимок изделия и дефектометра (или поочередно) помещают перед основным источником света при выкгпо- gp ченном дополнительном источнике и находят иэображение дефекта. Включив дополнительный источник света, постепенно увелинивают его яркость, добиваясь исчезновения иэображения дефекта. Отсчитывая номер наиболее глубокой канавки дефектометра, которая также на видна, находят размер дефекта, равного известной глубине атой канавки.

Введение дополнительного светового потока между пленкой и наблюдателем (см. Зр чертеж) осуществляют, например, с помощью прозрачного стекла 1, отражающего световой поток 2 от бокового источника света в сторону наблюдателя 3 и пропускающего основной световой поток 4, прошедший че- 35 рез пленку 5. Угол наклона и расположение стекла выбирают такими, чтобы изображения источников в точке наблюдения совпадали. Это позволяег уменьшить влияние неравномерности световых потоков на точность определения размера дефектов.

Яркость дополнительного и основного источников света регулируют, например, с помощью реостата.

Формула изобретения

Способ определения размера дефекга в направлении просвечивания, заключающийся в сравнении изображений дефекта и канавок дефектометра при просмотре рентгенограмм

h проходящем свете, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения акспрессности, создаюсь дополнительный световой поток. переменной мощности в нагцзавлении наблюдателя и, плавно повышая его интенсивность до исчезновения иэображения дефекта и соответствующей канавки дефектометра, устанавливают размер дефекта по размеру наиболее глубокой канавки дефекто. метра, изображение которой пропадает при тех же условиях наблюдения.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе. о

1. Румянцев С. В. Применение радиоаи.тинных изотопов в дефектоскопии, М. Госатомиэ дат, 196О.

2. Румянцев С. В., Радиационная дефекто скопия, Атомиздаг, 1968, с. 263.

3. Токмаков В. С.,Мойш 1Q В. Рентгенсьскопия в металлургии, М., Металлургий, 1976, с. 53.

4. Авторское свидетельство СССР

N 458744, М. кл. С 01 К 23/04, 1974.

577442

Составитель Е. Сидохин

Редактор Е. Гончар Техред, 3. Фанта Корректор С. Патрушева

Заказ 3674/33 Тираж 1101 Подписное

UHHHllH Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

11303S, Москва, Ж-36, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП: Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4