Способ определения максимально допустимого тока лавинно- пролетных диодов

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИЛ(=.ТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

)аеспубпик (t ) "96.89 (6l) Дополнительное к авт. свил-ву (22) Заявлеио060576 (2l) 2357011/18-25 (5!) М. Кл. (- 01 т2 3) /26 с присоелииеиием заявки Р)о (23) Приоритет (43} Оттубликовано 050378.Ьтоллегень Р) 9 (45) Дата опубликования описания 1502.78

Гоар))аротоннн)тй нонтнтот

Совета Манан)ров СССР но ))анан) наобрнтоннй н отнрытн)) (53) УДК

621.382.2 (088,8) (72) Авторы изобретения

В.Л. ApOH08 H И.И. ApYHI1зв (7а) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МАКСИМАЛЬНОГО ДОПУСТИМОГО

ТОКА ЛАВИННО- ПРОЛЕТНЫХ ДИОДОВ

Изобретение относится к способам контроля параметров полупроводниковых приборов.

Известен способ определения характеристик лавиннопролетных диодов(1), заключающийся в пропускании через диод прямого и обратного токов и регистрации напряжения на нем.

Этим способом трудно определить максимально допустимый ток лавинно- )0 пролетного диодами „ .так как необхомц кс:т ..;имо выполнить бойьшс;: объем вычислений. Кроме того, точность получаемых данных невелика.

Известен способ определениями„ „ ла- )5 винно- пролетных диодов(21, заключающийся в пропускании обратного измерительного тока через диод и скачкообразном его уменьшении, а также подаче высокочастотного тока и регистра- 23 ции падения напряжения на диоде.

Известный способ определения J и, ) . непроиэводителен из-за н.обхоР<5 димости предварительного измерения вспомогательных параметров и последую- 25 щего определения требуемых параметров путеи расчетов, Кроме того, этот способ неточен иэ-за накопления ошибок при нескольких независимых измерениях вспомогательных параметров. ЗО

Цель изобретения — повышение ск >рости и точности определ ния ),„„

Поставленная цег ь достигается тем, что високочастотний ток включают одновременно со скачкообразным уменьшением иэмери IåëüHогo тока, причем амплитуду высокочастотного тока выбирают равной скачку измерительного тока, и восстанавливают велич -:.ну первоначального пикового падения напряжения на диоде регулировкой температуры диода.

Комбинированное воздействие còóïåíчатого снижения постсянн..:о тока с одновременным вкл.с:тени .."-, висакочастогHG1 o ToKB такой же еамнли Гуди приводит к тому, что зпиковсе значение тока не отличается от величины :плавного измерительного тока, а измерение пикового значения напряжения на диоде обусловлено лишь изменением температ ры р-иперехода.

Способ осушествляетcя сяедующим образом. На контролируемый прибор подается измерительный постоянный ток в обратном направлении, при этом фиксируется постоянное напряжение на диоде. Затем задается скачок постоянного тока на испытуемом ди -де H одновременно включается высоко. астотний

596894

Формула, изобретения

Составитель Т. Дозоров

Техред А,Алатыpев, Корректор A Лакида

Редактор Орловская

Заказ 1132/44 Тираж Щх . Подписное

ЦНИИПИ Государстйенного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 ток (например, частотой 2МГц и амплитудой 5мА), после чего пиковое напряжение на диоде восстанавливается до его зафиксированного ур вня регулированием температуры корпуса диода.

Регулирование температуры проводится с помощью малоинерционного термостатирующего устройства (диапазон регулировки от 0 до 16 C). В качестве прибора, регистрирующего приращение температуры корпуса диода и имеющего градуировку в величинах максимально допустимого тока и рабочего тока, используется воль метр в цепи подогрева теплоносителя в термостатирующем устройстве.

Производительность измерений с записью значений измеренных параметров составляет около 30 измерений в час.

Способ определения максимально допустимого тока лавинно- пролетных днодов, заключающийся в пропускании обратного измерительного тока че ез диод и скачкообразном его уменьшении, а также подаче высокочастотного тока и регистрации падения напряжения на диоде, отличающийся тем, что, .с целью повышения скорости и точности измерений, высокочастотный ток включают одновременно со скачкообразным уменьшением измерительного тока, прн

10 чем амплитуду высокочастотного тока выбирают равной скачку измерительного тока, и восстанавливают величину первоначального пикового падения напряжения на диоде регулировкой температу15 ры корпуса диода.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Патент ГДР 9 89915, кл. 21 Р

31/22, 12.05.77.

QQ 2. Аронов В.Л., Федотов Я.A. Испытания и исследование полупроводниковых приборов, И., Высшая школа, 1975, с. 243.

Способ определения максимально допустимого тока лавинно- пролетных диодов Способ определения максимально допустимого тока лавинно- пролетных диодов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх