Способ измерения параметров покрытий

 

<: А Н И Е (и,аее ву

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТИЛйеСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-вуМ 526765 (51) М, Кл.

С 01 В 7/06 (22) Заявлено 14.09,76 (21)2403716/25-2 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (43) Опубликовано 25.03.78. Бюллетень №11 (45) Дата опубликования описания 09.03.78

Гооударстееиный комитет

Соаета Миииотроа СССР оо делам изобретений и открытий (53) УДК 620.179..14(088.8) (72) Авторы изобретения

Н. А. Ермолаев, А. А. Капитонов, N. И. Лернер и Н. И. Чернышев (7T) Заявитель

Пензенский филиал Всесоюзного научно-исследовательского технологического института приборостроения (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ПОКРЫТИЙ

Изобретение относится к средствам контрольно-измерительной техники и может быть использовано для исследования структуры покрытий, например, гальванических на различных изделиях. 5

Известен способ измерения параметров покрытий по авт.св. М 526765, заключаюшийся в том, что в кварцевом резонаторе с нанесенным покрытием снимают остаточные 10 напряжения, возбуждают его на резонансной частоте. и по значению последней судят о тснццине покрытия.

Однако состав покрытия, а именно относи-15 тельное соотношение компонентов, .входящих в материал покрытия, .определить этим спос об ом невозможно.

Келью изобретения является контроль состава покрытия. . 20:.

Для этого из покрытия удаляют один из его компонентов и по изменению резонансной частоты судят о,составе покрытия.

Суть способа состоит в следуюшем. На изделие с покрытием, например, из латуни (сплав меди с пинком) воздействуют физическими методамн, например нагревают в вакууме.до 212 С, при которой происходит (возгонка) удаление цинка. Медь, у коо торой температура возгонки равна 934 С, не будет удаляться. В случае, если покрытие нанесено на кварцевый резонатор, его возбуждают в процессе нагревания и регистрируют функцию .изменения частоты.

Экстремумы атой функции соответствуют возгонке (удалению) соответствуюших компонентов из состава материала покрытия на резонаторе. По значениям резонансных частот и их соотношению судят о составе компонентов в материале покрытия.

Данный способ контроля может фыть реализован в условиях, в которых в контролируемом изделии возбуждают механические колебания, воздействуют физическими методами на покрытие изделия так, что поочередно удаляются соответствукипие компоненты из состава покрытия. О составе судят аналогично вышеизложенному.

Формула изобретения.

1 Способ измерения параметров покрытий по авт.св. % 526765, о т л и ч а юm и и с я тем, что, с целью контроля состава покрытия„из покрытия удаляют один из его компонентов и ао изменению резонансной частоты судят о составе покрытия.

2. Способ по и. 1, о т л и ч а ю ш и йс я тем, что для удалении компонента из

5 делие нагревают в вакууме до определенной температуры.

Составитель А. Думании

Редактор Л. Иародная Техред 3. фанта Корректор H. Ковалева

Заказ ЪЗ96/ЗЗ Тираж 872 одннсное

БНИИПИ Государственного..комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий . 113035, Москва, Ж-ЗВ, Раушская наб„д. 4/5

Филиал ППП "Патент, г, Ужгород, ул. Проектная, 4

Способ измерения параметров покрытий Способ измерения параметров покрытий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх