Способ определения толщины изделий

 

А

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Н АВТОРСКОМУ СВИДВТЙДЬСТВУ

Союз Советских

Соцмалмстмческмх

Рвслублмк (11) 608050 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено12 01 77(И) 244Э1З4ЮЗ 28 с присоединением заявки Рй (23) Приоритет(43) Опубликовано 25.05.78бюллетень № 19 (45) Дата опубликования описания 25.04.78 (51) М. Кл.

G 01 В 17/02

Гасударственный комнтет

Саввто Мнннотрое СССР по данам нзооретеннй н открктнй (53) УДК 531.717..1 (088.8) (72) Авторы изобретения

С. А. Шерашов и И. H. Ермолов

Центральный научноисследовательский институт технологии машиностроения и Московский энергетический институт (71) Заявители (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ИЗДЕЛИЙ

Изобретение относится к области нераэ. рушающего контроля иэделий и может быть использовано для измерения толщины изделия ультразвуковым методом, Известен ультразвуковой резонансный способ измерения толщины изделий, заключающийся в том, что систему, состоящую из контролируемого изделия, столба контак тируюшей жидкости и пьезоэлемента, возбуждают на двух фиксированных частотах, тл изменяют толш..ну слоя жидкости, добива ясь резонанса системы на каждой иэ частот, и по разности толшин слоя контактной жидкости в момент резонанса определяют толщину изделия (1).

Недостатком известного способа являет ся то, что он позволяет получить высокую точность измерений только для малых тол» щин, например меньших 0,5 мм.

Наиболее близким техническим решением 20 является способ, заключающийся в том, что в системе "контролируемое иэделие - слой контактной жидкости - пьеэопластина возбуждают с помощью пьезопластины ультразвуковые колебания переменной частоты и J 25

2 регистрируют значение резонансной часто ты, по которой определяют толщину кон1 ролируемого изделии (2).

Недостатком известного способа измерения толщины является наличие погрешпостг измерений, связанной с нестабильностью толщины слоя контактной жидкости.

Цель изобретения - повышение точности . измерений.

Эта пель достигается тем, что увеличивают толщину контактного слоя и измеряют резонансные частоты сястемы при разлионых значениях тошпин слоя, анализируют амплитуды резонансных сигналов, а толщи ну рассчитывают по частоте, соответствующей минимальной амплитуде.

На фиг. 1 показаны графики зависимости резонансной частоты f от толщины слоя контактной жидкости Д при различной толщине контролируемого изделия Cfg> пост» роенные для конкретного случая (кварпе- вый пьезопреобразователь через слой тран форматорного масла возбуждает упругие колебания в алюминиевом иэделии); на фиг. 2 показана зависимость нормирован608050

Составитель М. Иорданский

Техред А. Богдан Корректор Н. Яцемирская

Редактор .П. Старцева

Заказ 2789/27 Тираж 872 Подписное

БНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений н открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5 филиал ППП "Патент», r. Ужгород, ул. Проектная, 4 ной амплитуды резонансного сигнала от толщины слоя контактной жидкости.

Способ заключается в следующем: в системе контролируемое изделие - слой контактной жидкости - пьезопластина" при минимально допустимой толщине контактнсм го слои возбуждают ультразвуковые колебания переменной частоты. В момент, когда в .системе образуется волна, регистрируют значение частоты и амплитуды резонансного ур сигнала. После чего, увеличивая толщину слоя контактной жидкости, путем изменения расстояния от пьезопластины до контролируемого изделия, регистрйруют ряд значений частот и амплитуд резонансных сигна- р лов при различных значениях толшин слоя, добиваясь минимального значения амплитуд ды резонансного сигнала. При атом, как видно на фиг. 1 и фиг. 2 минимальное значение амплитуды резонансного сигнала соот-.70 ветствует диапазону толшин слои контактной жидкости, при котором зависимость резонансной частоты от толины контактного слоя слабо выражена.

Таким образом, использование предлагае- 25 мого способа измерения толщины позволяет повысить точность измерений эа счет уменьшения погрешности, вызванной зависимостью резонансной частоты от толщины слоя контактной жидкости.

Формула изобретении

Способ определения толщины иэделий, заключающийся в том, что возбуждают с помощью пьезопластины через контактный слой ультразвуковые. колебания в системе контролируемое изделие - контактный слой-пьезопластина", измеряют резонансную частоту етой системы и по ее значению рассчитывают толщину контролируемого изделия, о т л и ч а ю ш и и с я тем, что, с целью повышения точности измерений, увеличивают толщину контактного слоя и измеряют резонансные частоты системы при различных значениях толшин слоя, анализируют амплитуды резонансных сигналов, а толшину рассчитывают по частоте,соответ» ствуюшей минимальной амплитуде, Источники информации, принятые во внимание при акспертизе:

1. Лвторское свидетельство СССР

М 176713, кл. Я 01 В 17/02, 18.01.65.

2, Шрайбер Д. С. Ультразвуковая дефек тоскопия, М., 1965, с. 122. д,ц ops дщ o,og o. u y o ie uu ам. Г