Компаратор

Авторы патента:

G01B11 - Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения (измерительные устройства как таковые G01B 9/00)

я», 1еитч эн

kcO

ОПИС Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Сеюз Советскик

Социалистических

Республик (11) 619788.

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6т) Дополнительное к авт. свил-ву (22) Заявлено ХЬЛ .7б(Я) 2426168/25-28 (51) М. Кя.

q 01 .В 11УО0 с присоединением заявки Эй (23) Ириоритет

Государственный комитет

Совета Мнннстров СССР по делам изобретений н открытий (43) Опубликовано 1М873, Бюллетень % 30 (53) УЛК 531.717 (088.8 } (45) Дата оаублииоваиия описании О607.78

P2) Автори изобретения

Е.Н. Новиков и Ю.Д. Иалаацкии

Институт электронных управляющих маяанн (54 ) КОМАРА 1 ОР

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для линейных измерений по одной координате.

Известен компаратор, содержащий подвижный предметный стол, пластину и визириый и отсчетиий микроскониЯ .

Недостаток такого ксмпараторав его низкой нроизводительностй из-эа необходимости многократного выставления пластины.

Наиболее близким но своей технической сущности к предлагаемому йзобретению является комнаратор, содержащий предметный стол, установленные над ним отсчетный и визирный микроскопы, образцовую шкалу, размещенную на столе в поле зрения отсчетного микроскопа, и пластину, раэме20 щенную на столе в поле зрения визирного микроскопа, установленную с возможностью перемещения в плоскости стола в двух взаимно перпендикулярных направлениях и поворота вокруг оси, перпендикулярной плоскости сто-. ла 121 .

Недостаток t данного устройствав его низкой производительности из-эа необходимости установки измеряемого объекта таким образом, чтобы измеряемая линия находилась на одной прямой с осью образцовой шкалы.

Цель изобретения вЂ” повышение производительности контроля.

Поставленная цель достигается тем что предлагаемый компаратор снабжен двумя дополнительными пластинами, расположенными между поверхностью предметного стола и основной пластиной. Все пластины установлены с воэможностью одновременного поворота относительно оси, параллельной оптической оси визирного микроскопа и проходящей через продолжение образцовой шкалы. Одна из дополнительных пластин вЂ” с воэможностью поворота совместно с основной пластиной.

На чертеже представлен описываемый компаратор. Он содержит предметный стол 1, три пластины 2, 3, 4, виэирный и отсчетный микроскопы 5, 5, образцовую шкалу 7, ось 8 поворота пластины 3, ось 9 поворота пластины 2 измеряемый объект 10, пряжимы 11, первая и вторая точки 12, 13 измеряемой линии, направляющая 14 перемещения пластины 4.

Компаратор работает следующим образом. Перемещая предметный стол 1,

Оптико-электронный датчик углового рассогласования // 616531

Способ измерения прямолинейности и плоскостности объекта // 615359

Способ определения порогов разрушения оптических материалов // 615358

Устройство для контроля перпендикулярности измерительной поверхности микровинтов микрометров // 615357

Фотоэлектрическое устройство для автоматического измерения перемещений // 614319

Устройство для контроля проката колесных пар подвижного состава // 612605

Устройство для измерения угловых смещений объектов // 612149

Способ контроля линейных размеров микрообъектов // 612148

Оптико-электронный преобразователь угла // 611109

Способ управления клеймением площади кож // 2100439

Устройство для бесконтактного измерения воздушного зазора синхронной электрической машины // 2100818

Изобретение относится к измерительной аппаратуре, применяемой в электротехнике, и, в частности, может быть использовано для контроля воздушного зазора синхронной электрической машины, например гидрогенератора

Способ определения координат точек поверхности и устройство для его осуществления // 2102701

Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок // 2102702

Устройство для задания вертикального направления // 2102703

Изобретение относится к области строительства при осуществлении контроля смещения подвижного объекта при строительстве высотных зданий

Звездный интерферометр майкельсона // 2103662

Способ оптического измерения поперечного размера металлургического проката // 2104479

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в металлургии для измерения размеров и формы горячих и холодных изделий, а также в машиностроении и других областях промышленной технологии, связанной с необходимостью бесконтактного контроля линейных размеров

Устройство для определения качества поверхности // 2104480

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Способ определения геометрических параметров детали и устройство для его осуществления // 2105265

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения геометрических параметров объектов и оптическим устройствам для осуществления этих способов

Устройство для контроля линейных размеров // 2106599

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении, черной и цветной металлургии при производстве проката, в резино-технической и химической промышленности при производстве трубчатых изделий без остановки технологического процесса