Способ контроля качества изготовления оптического узла электронно-лучевого прибора
па îчтно-те. yi;i:-;е,з,. б Оз1х9 Щца f g p
Союз Советских Соцмалмстмчвсних Республин (6l) Дополнительное к авт, свид-ву(22) Заявлено13,09.77 !2!) 2529335/18-25 с присоединением заявки J%— (5!) М. Кл.. Гввударственный камвтвт сссР аю делам вэаеретенее M DTKPbtTIIN (23) Приоритет Опубликовано05.02,79.Бюллетень ф 5 Дата опубликования описания 05 02 7g (5З) УДК621»5. .832(088.8/ (72) Авторы изобретения B. И, ГуляеВ и A. М. Мешков б (713 Заявитель (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ИЗГОТОВЛЕНИЯ. ОПТИЧЕСКОГО УЗЛ А ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВОГО ПР! !БОРА Изобретение относится к оптическим методам наблюдения и может быть использовано при контроле качества сочленяемых оптичеСких деталей, в частности входного узла передающей телевизионной трубки. Известен способ контроля качества оптических деталей, основанный йа визуальной оценке направляемого на специальный экран отраженного от контролируемой поверхности пучка света f j Недостатком такого способа является невоэможность определения дефектов, локализованных в объеме контролируемой детали. При этом способе контроля дефекты, присущие системе подсветки, не отделяются от дефектов, имеющихся на поверхности контролируемой оптической детали. Известен также способ -контроля качества - изготовления оптического узла электроннолучевого прибора, включающий вызуальный контроль дефектов, создающих паразитные сигналы на изображении в виде темных и светлых пятен !2 . Способ основан на опенке дефектов косвенным путем на экране видеоконтрольного устройства (ВКУ) при освещении мишены исследуемого электроннолучевого прибора равномерным светом. Недостатками этого способа являются невозможность предварительного контроля дефектов оптического узла до его монтажа в прибор и относительно низкая чувгтвител ьн ость. Цель изобретения — обеспечение предварительного контроля дефектов оптического узла до его монтажа в прибор и увеличение 4у вств ител ьност и. Указанная цель достигается тем, что визуальный контроль проводят с помощью микроскопа и системы подсветки, расположенных под углами !Π— !5 к осн входного окна, но не равными между собой, путем фокусировки микроскопа в плоскость изображения передаваемого объекта с одновременной ее подсветкой и наблюдают дефект по тени, отбрасываемой им на плоскость изображения. На фиг. показана схема расположения 20 элементов при контроле деталей приборов предлагаемым способом. Предположим, что контролируется оптический узел плюмбнкона. В этом случае . применяют микроскоп и систему подсветки 646382 из источника света 2 и линзы 3. Луч света проходит через противоореольный диск 4, имеющий непрозрачную ма овую цилиндрическую поверхность, клеевой слой 5, входное окно 6 плюмбикона, фотослой (мишень) 7. Детали 4 — 6 могут иметь дефекты 8, например йузыри. На фиг. 2 показан ход лучей, поясняющий появление теневых пятен различной формы. Предположим, что в клеевом слое 5имеются дефекты: шаровой 9 и плоский 10 пузыри. Микроскоп и система подсветки располагаются по отношению к плоскости входного окна таким образом, чтобы угол падения света и угол наблюдения были близки ми, но не равными по величине для устра " - йения "попадания в поле зрения визирного прибора зеркальной составляющей (блика) при отражении света от наружной поверхности противоореольного диска. В данном случае угол наблюдения а, и угол подсветки а выбраны экспериментально с учетом величины переднего отрезка микроскопа, обеспечивающего резкое. изображение всей контролируемой поверхности при наблюдении ее под данным углом, и толщины противоореольного диска; нрн которой его боковая цилиндрическая поверхность минимально виньетирует наблюдаемую площадь. При подсветке возможные дефекты {пу зыри, посторонние предметы в клеевом слое) дают тени на мишени плюмбикона, которые хорошо просматриваются как темные пятна на освещенном фоне. Если технология изготовления электроннолучевого прибора такова, что фотослой (мишень) наносится в последн|ою очередь, то в плоскость фокусировки можно временно ввести экран, на котором дефекты подсветки такие же, как и на мишени. Теневое йятно в зависимости от размеров пузыря будет иметь форму либо темного кольца, либо темной точки. Если пузырь имеет форму шара, т. е. если его диаметр мень"ше или равен толщине клеевого слоя, то тень от него на мишени будет видна в виде темной точки. Если пузырь имеет форму сплющенного шара. то теневое кольцо проецируется в виде темного кольца (фиг, 2), Предлагаемый способ контроля посравнению.с существующими обеспечивает: а) проведение предварительной отбраковки оптических узлов прибора до его сборки, что позволяет. получать готовые приборы без дефектов; б) более качественный контроль при низ"ких уровнях подсветки, не влияющих на светотехнические параметры прибора. Например, при контроле входного оптического узла плюмбикона при безопасных уровнях подсветки для материала его мишени (< 400 лк) обеспечивается практичес1s ки 00%-ная отбраковка. в) отбраковку оптических узлов по дефектам независимо от того, где локализован этот дефект, поскольку дефекты создают.структурную помеху в виде тени на изображении, проецируемой объективом телевизионной камеры. Формула изобретения Способ контроля качества изготовления оптического узла электроннолучевого прибора, включающий визуальный контроль дефектов, создающих паразитные сигналы на изображении в виде темных и светлых пятен, отличающийся тем, что, с целью обеспезо чения предварительного контроля дефектов оптического узла до его монтажа в прибор и увеличения чувствительности, . визуальный контроль проводят с помощью микроскопа и системы подсветки, расположенных 35 под угламн 10 — 15 к оси входного окна, не равными между собой, путем фокусировки мйкроскопа в плоскость изображения передаваемого объекта с одновременной ее подсветкой и наблюдают дефект по тени, отбрасываемой им на плоскостЬ изображе40 ния Источники информации„принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР № 257035, кл. Н 01Х 9/20, 1967. 2. Кривошевв М. И. Основы измеритель45 ной техники. M., «Связь», 1976. с. 96 — 97. Составитель В. Белоконь Редактор T. Орловская Техред О. Луговая Корректор В. Куприянов Заказ 122142 Тираж 922 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий l 13035, Москва, )К-35, Раугвская иаб.. д. 4/5 Филиал ППП <Патент>, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
