Способ определения деформаций деталей

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (i ц 654851

Союз Советских

Социалистических

Республик (б1) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 06.10.77 (21) 2528762/25-28 с присоединением заявки №вЂ” (43) Опубликовано 30.03.79. Бюллетень ¹ 12 (45) Дата опубликования описания 30.03.79 (53) УДК 531.781,2 (088.8) по делам изобретений н открытий (72) Автор изобретения

Х. Ф. Гитерман (71) Заявитель

Горьковский филиал Всесоюзного научно-исследовательского института по нормализации в машиностроении (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ДЕТАЛЕЙ

УА Р твенный комитет (23) Приоритет

Изобретение касается измерительной техники и может быть использовано для определения деформаций детали оптическими методами.

Известен способ определения деформаций с использованием муарового эффекта, заключающийся в том, что изготавливают оптически прозрачную модель детали, наносят на нее сетку, на модель детали накладывают прозрачную пластину с идентичной 1ð сеткой, нагружают модель детали, получают при перемещении сетки на модели детали относительно неподвижной эталонной сетки картину муаровых полос, по которой определяют деформацию (1).

Наиболее близким по технической сущности к предложенному техническому решению является способ определения деформаций детали, заключающийся в том, что на исследуемую и эталонную детали наносят 20 сетки в виде нерегулярного растра, прикладывают к исследуемой детали нагрузку, фотографируют обе детали, накладывают один негатив на другой, перемещают их один относительно другого и определяют деформацию по отношению величин перемещений (скоростей) негатива сетки исследуемой детали и образующегося муарового пятна (2).

Недостатками указанных способов явля- 30 ются их трудоемкость, низкая точность и невозможность автоматизации процесса onр едел е н и я дефор м а ций.

Целью изобретения является повышение точности и упрощение процесса определения деформаций.

Указанная цель достигается тем, что после наложения негативов просвечивают их нерасширенным пучком когерентного света, сканируют этим пучком по поверхности негативов и по образующейся на экране интерференционной картине определяют деформацию.

Г1редлагаемый способ иллюстрируется чертежом.

Способ заключается в том, что на исследуемую и эталонную деталь наносят сетки в виде нерегулярного растра, прикладывают к исследуемой детали нагрузку, фотографируют обе детали и накладывают негатив 1 эталонной детали на негатив 2 исследуемой детали. Затем негативы 1 и 2 просвечивают узким пучком 3 когерентного света и сканируют этим пучком по поверхности негативов, 1 и 2. По образующейся на экране 4 интерференционной картине определяют деформацию исследуемой детали.

Определение деформ аций по данному способу производят по образующейся на

654851

Составитель В. Дмитриенко

Техред А. Камышникова Корректоры: Е. Хмелева и Л. Орлова

Редактор Н. Суханова

Заказ 314/13 Изд. № 258 Тираж 865 Подписное

НПО Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 экране 4 интерференционной картине путем определения вектора перемещения /r/ в исследуемой точке

j Ы = в зависимости от длины волны источника когерентного света л„расстояния от негативов до экрана L, масштаба фотографирования т и периода интерференционных полос Т.

Деформация по всей исследуемой детали определяется при сканировании лучом источника когерентного света по всей поверхности негативов. Поскольку требования к системе сканирования существенно ниже, а база усреднения значительно меньше, то тем самым процесс определения деформаций упрощается, а его точность повышается, Процесс определения деформаций можно автоматизировать при использовании фотоэлектронной системы анализа интерференционной картины, например фотодиодной матрицы.

Данный способ может быть использован для исследования напряженно-деформированного состояния элементов конструкций и деталей машин и может дать при его реализации существенное упрощение и повышение точности определения деформаций, что особенно важно для диагностики технического состояния эксплуатируемых конструкций и при серийном производстве от5 ветственных деталей.

Формула изобретения

Способ определения деформаций деталей, заключающийся в том, что на исследуемую и эталонную детали наносят сетки в виде нерегулярного растра, прикладывают к исследуемой детали нагрузку, фотографируют обе детали, накладывают один негатив на другой, отличающийся тем, 15 что, с целью повышения точности и упрощения процесса определения деформаций, после наложения негативов просвечивают их пер асширенным пучком когерентного света, сканируют этим пучком по поверхности негативов и по образующейся на экране интерференционной картине определяют деформацию.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Дюрелли А. и Паркс В. Анализ деформаций с использованием муара. М., «Мир», 1974, с. 149 — 152.

2. Авторское свидетельство СССР № 373522, кл. G 01 В 11/16, 1973.