Устройство для измерения статического коэффициента передачи тока транзисторов

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДВТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистимеских

Республик (61) Дополнителвиое к авт свид-ву— (22) Заявлено 19.12.77 (21) 2556008/18-25

1 с присоединением заявки №вЂ” (51) М. Кл.

G 01 R 31/26

Государственный квинтет

СССР по делам нзобретеннй н открытнй (23) Приоритет—

Опубликовано 05.05.79. Бюллетень № 17

Дата опубликования описания 15.05.79 (53) УДК 621.382..3 (088.8) (72) Автор изобретения

А. А. Выменец (71) Заявитель (54) УСТРОИСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СТАТИЧЕСКОГО

КОЭФФИЦИЕНТА ПЕРЕДАЧИ ТОКА ТРАНЗИСТОРОВ

Изобретение относится к электронной технике и может быть применено для измерения параметров транзисторов.

Известно устройство для измерения статического коэффйциента передачи тока транзисторов на постоянном токе (1), содержащее источники питания и измерительные приборы в цепях эмиттера, базы и коллектора испытуемого транзистора.

Недостатком устройства является нагрев испытуемого транзистора, приводящий к искажению результатов измерений.

Известно также устройство (2), содержащее источники коллекторного напряжения, измерители тока коллектора и тока базы регулируемый генератор импульсов и измерительный резистор, соединенный через экранированную линию связи с базовым зажимом испытуемого транзистора.

Это устройство не позволяет достаточно точно измерить параметры транзисторов при 20 дистанционном измерении, что обусловлено влиянием собственной емкости экранированной линии связи, которая искажает форму импульсов, подаваемых на испытуемый транзистор.

Цель изобретения —. повышение точности измерений путем устранения искажений формы испытательных импульсов.

Указанная цель достигается тем, что в устройство введен операционный усилитель, в цепь отрицательной обратной связи которого включен измерительный резистор. Точка соединения резистора с экранированной, линией связи подключена к инвертирующему входу операционного усилителя, неинвертирующий вход которого соединен с выходом регулируемого генератора импульсов и с экраном линии связи. Измеритель тока базы выполнен в виде дифференциального усилителя, входы которого соединены с выходом и неинвертирующим входом операционного усилителя.

На чертеже изображена функциональная схема предложенного устройства для измерения статического коэффициента передачи тока транзисторов.

661440

Устройство содержит операционный усилитель 1, дифференциальный усилитель 2, регулируемый генератор импульсов 3, измерительный резистор 4, резисторы 5 — 8, линию связи 9 с экраном 10, измеритель II тока коллектора, источник 12 коллекторного напряжения.

Неинвертирующий вход операционного усилителя 1 подключен к выходу регулируемого генератора импульсов 3 и экрану 10 линии связи 9. Один вывод измерительного резистора 4 подключеи к инвертирующему входу операционного усилителя 1 и к линии связи 9. Второй вывод измерительного резистора 4 подключен к выходу операционногоо усилителя 1.

Измеритель тока базы выполнен в виде дифференциального усилителя 2, входы которого через резисторы 5 и 7 соединены с выходом и неинвертирующим входом операционного усилителя 1.

Устройство работает следующим образом.

На коллектор испытуемого транзистора подается необходимое напряжение от источника 12 коллекторного напряжения, ток коллектора измеряется измерителем 11.

Импульсное напряжение на линии связи

9 равно импульсному напряжению на выходе регулируемого генератора импульсов 3, так как операционный усилитель 1 охвачен отрицательной обратной связью через измерительный резистор 4, что приводит к равенству потенциалов на обоих входах операционного усилителя 1. Так как разность потенциалов линии связи 9 и экрана 10 равна нулю, это эквивалентно нулевой эффективной емкости линии связи 9, поскольку нулевое напряжение не вызывает токов перезарядки емкости «линия связи — экран».

Ток базы транзистора протекает через измерительный резистор 4, импульсное падение напряжения на котором остается неискаженным и соответствует по форме напряжению на выходе генератора 3.

Защитное действие экрана 10 при таком включении сохраняется практическй полйостйб, так как экран Соединен одновременно также с выходом регулируемого генератора импульсов 3, низкоомное выходное сопротивление которого шунтирует источник наводки. Для измерения статического коэффициента передачи тока регулируют напряжение генератора импульсов 3 до тех пор, пока ток коллектора испытуемого транзистора не примет заранее заданного значения, что отмечается измерителем 11 тока коллектора, после чего измеряют амплитуду входных импульсов на измерительном резисторе 4 с помощью измерителя тока базы.

Один из входов измерителя тока базы подключен не к выводу измерительного резистора 4, соединенному с инвертирующим входом операционного усилителя 1, а к эквипотенциальному неинвертирующему входу операционного усилителя 1. Подобное включение позволяет исключить шунтирующее влияние входного сопротивления измерителя тока базы. Коэффициент усиления дифференциального усилителя 2 определяется соотношением сопротивлений 5, 6 и 7, 8.

Таким образом, описываемое устройство обеспечивает неискаженную передачу измерительных импульсов на вход испытуемого транзистора при дистанционных измерениях, тем самым повышается точность измерений.

15 го

Формула изобретения

1. Устройство для измерения статического коэффициента передачи тока транзисторов, содержащее источник коллекторного напряжения, измерители тока коллектора и тока базы, регулируемый генератор импульсов и измерительный резистор, соединенный через экранированную линию связи с базовым зажимом испытуемого транзистора, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, в него введен операционный усилитель, в цепь отрицательной обратной связи которого включен измерительный

30 резистор, точка соединения которого с экранированной линией связи подключена к инвертирующему входу операционного усилителя, неинвертирующий вход которого соединен с выходом регулируемого генератора импульсов и с экраном линии связи.

2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, 4о что измеритель тока базы выполнен в виде дифференциального усилителя, входы которого соединены.с выходом и неинвертирующим входом операционного усилителя.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Бергельсон И. Г. Транзисторы. Параметры, методы измерений и испытаний, М., «Сов. Радио», 1968, с. 44, рис. 2, 7.

2. ГОСТ 18604.2 — 73. Транзисторы. Методы измерения статического коэффициента передачи тока.

661440

Составитель И. Музанов

Редактор Т. Орловская Техред О. Луговая Корректор Е. Папи

Заказ 2454 45 Тираж 1089 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал П П П «Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для измерения статического коэффициента передачи тока транзисторов Устройство для измерения статического коэффициента передачи тока транзисторов Устройство для измерения статического коэффициента передачи тока транзисторов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх