Эталон прямолинейности

 

Союз Советскик

Социалистически к

Республик

Ж

// (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 2б0477(21) 2479587/25-28 с присоединением заявки М{23) Приоритет— (51) М. Кл.2

G 01 В 5/28

ГосударствеииыЯ комитет

ССС Р по делам изобретеииЯ и открытиЯ (53) УДК 531. 717 (088. 8 ) Опубликовано 0509,79. Гноллетень М 33

Дата опубликования описания 0509.79 (72) Аетор изобретения

A . .И. Битюцков (71) Заявитель магнитогорский государственный институт по проектированию металлургических заводов (54 ) ЭТАЛОН ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ

Изобретение относится к измерите льной технике, а именно к средствам для измерения отклонений от прямолинейности протяженных объектов.

Известны эталоны прямолинейности, содержащие натянутую нить и узел компенсации гравитационного прогиба нити, выполненный в виде кюветы из прозрачного материала, заполненной прозрачной жидкостью, в которую погружена нить. При равенстве плотностей нити и жидкости наступает компенсация гравитационного прогиба (1) .

15

Эти устройства сложны и неудобны в эксплуатации, особенно при значительной протяженности кюветы, требуют применения нити из органических материалов (обладающих малой плотно- 20 стью), которую трудно сделать достаточно тонкой и постоянной по сечению, что снижает точность измерений.

Кроме тогст, точность измерения снижается за счет оптической неоднородности стенок кюветы и жидкости, в которую погружена натянутая нить.

Целью изобретения является упрощение конструкции и повышение точности измерения. 30

С этой целью нить выполнена токопроводящей, а узел компенсации гравитацион ного прогиба — в виде дополнительного проводника, расположенного снизу от натянутой нити, и источника тока, подключенного к нити и дополн тельному проводнику.

На фиг. 1 изображен эталон, вид сбоку (с частичным разрезом); »а фиг. 2 — эталон, поперечное сечение.

Эталон прямолинейности содержит основание 1, на котором закреплены стойки 2 и 3, поддерживающие такопроводящую нить 4. Натяжение нити устанавливают при изготовлении эталона, оно может быть стабилизировано упругим элементом (на чертеже не показан). узел компенсации гравитационного прогиба выполнен в виде дополнительного проводника 5, раэмсщенного снизу от натянутой токопроводящей нити на изолирующей подкладке б, и источника тока (на чертежах показан символически в виде знаков + и вЂ, характеризующих полярность источника), соединенного с натянутой токопроводящей нитью и дополнительным проводником.

Подключение источника тока к натянутой токопроводящей нити и дополни684287

1 =4 1 10 а = 1

Формула изобретения

Яд %a% Ц 1 -)Я 4 gg Х +Ч з

30 координаты элементарных сечений дополнительного проводника в координатной системе, связанной с натянутой токопроводящей нитью; соответственно границы и элементарное сечение дополнительного проводникаг где х и у

Яи dS—

40 иг

Риг 2

Составитель В.Романов

Редактор A,Ìóðàäÿí Техред С.Мигай Корректор В.Бутяга

Заказ 5267/29 Тираж 866 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб.,д.4/5

Филиал ППП Патент, r.Óæãoðoä, ул.Проектная,4 тельному проводнику должно быть встречным.

Для установки эталона прямолинейности на контролируемый объект основание снабжено ножками 7-9 (см. также фиг.2),,две из которых выполнены регулируемыми. Эталон прямолинейности мо- 5 жет быть частично защищен кожухом 10.

При измерении непрямолинейности с помощью эталона его устанавливают параллельно контролируемому объекту и наблюдают натянутую нить в микро- 10 скоп, перемещая последний относительно нити по поверхности контролируемого объекта.

Для компенсации гравитационного прогиба нити по ней и дополнительному проводнику пропускают ток от источника. Встречное включение проводников обеспечивает их отталкивание и компенсацию веса нити.

Необходимые величины тока могут быть найдены экспериментально или расчетным путем, исходя из равенства гравитационных сил и сил отталкивания проводников под воздействием их магнитных полей.

Указанное выше условие эквивалент,но соотношению — магнитная постоянная; — относительная магнитная проницаемость воздуха

{вакуума);

d — диаметр натянутой нити; — плотность материала нити;

g — ускорение силы тяжести; — ток в натянутой нити;

i — плотность тока в дополнительном проводнике.

В частности,при сеченич дополни" тельного проводника 2«2мм, удалении натянутой нити от поверхности дополнительного проводника на 1 мм, диаметре токопроводящей нити 0,1 мм и выполнении этой нити из меди для гравитационной компенсации необходимо произведение токов I « iS = 7,0А

2 которое может быть обеспечено током дополнительного проводника iS = ЗОА и током натянутой нити I = 0,234А, что допустимо по условиям естественного охлаждения.

Эталон прямолинейнбсти, содержащий тонкую натянутую нить и узел компенсации гравитационного прогиба нити, отличающийся тем, что, с целью упрощения конструкции и повышения точности измерения, тонкая натянутая нить выполнена токопроводящей, а узел компенсации гравитационного прогиба нити — в виде дополнительного проводника, расположенного снизу от натянутой нити, и источника тока, подключенного к нити и дополнительному проводнику.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторсоке свидетельство СССР

9 336496, кл. С 01 В 5/28, 1971.

Эталон прямолинейности Эталон прямолинейности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к строительству и эксплуатации автомобильных дорог и предназначено для контроля несущей способности и ровности дорожных конструкций

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки несущей способности поверхностных слоев изделий из различных материалов

Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек

Изобретение относится к измерениям точности формы поверхности, а именно к способам и устройствам для контроля отклонений от плоскостности

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости поверхности в заводских условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов
Наверх