Способ очистки поверхности
пйт ", с А
Оп И -НИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Союз Советских
Социалистических
Республик
<>698494
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 23, 06, 78 (21) 2635122/29-33 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет—
Опубликовано 30.1182. Бюллетень ¹ 44
Дата опубликования описания 3012В2 И М.К .
С 03 С 23/00
Государственный комитет
СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 666.1. .037 98(088.8) (72) Авторы изобретения
М.М,Децловский и Н.П.Хаблак
Ордена Трудового Красного Знамени институт радиотехники и электроники АН СССР (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОЧИСТКИ ПОВЕРХНОСТИ
Изобретение относится к лазерной технике и может найти применение для очистки лазерных зеркал или любых полированных поверхностей с диэлект5 рическим покрытием.
Известен способ очистки поверхности путем нанесения слоя клея, например БФ-2, толщиной 0,2-0,3 мм и удаления его 1 1.
Этот способ предназначен для очистки непокрытых оптических элементов (линз, призм и т.п.).
Оптические элементы, например зеркала, особенно лазерные, клеем чистить нельзя, так как клей снимает и отражающее покрытие.
Наиболее близким к изобретению является способ очистки поверхности от пыли путем перемещения пленки, -обладающей статическим электрическим зарядом. Этот способ используют.для очистки граммпластинок(2)Однако этот способ не пригоден для очистки полированных поверхностей, так как пыль особенно прочно сцепляется с указанной поверхностью, Целью изобретения- является повышение качества очистки.
Это достигается тем, что передвигают пленку из фторполимерных материалов, обладающую статическим электрическим з арядом, толщиной О, 0 50,2 мм на расстоянии 0,2-0,3 мм от очищаемой поверхности.
Фторсодержащие полимеры (например, фторопласт-4) в виде пленки обладают силь ой анизотропией рассеяния света и свойствами накопления статического электричества. Последнее свойство определяется упорядоченным расположением макромолекул в длинные линии с сильным межмолекулярным взаимодействием и нарушением нейтральности молекулярной структуры. Это приводит к нарушению электрической нейтральности полимера. Он становится электрически заряженным, причем достаточно высокой напряженности. Фотопласты толщиной выше 0,5 мм электрически нейтральны. С уменьшением толщины нейтральность снижается. Хорошими свойствами обладают пленки толщиной 0,2 мм.
Пример. Оптические зеркала имеют способность "конденсировать" пыль на отражающей поверхности. 3еркала, покрытые пылью, рассеивают свет. Рассеянный свет при измерениях повышает погрешность измерений в зна698494
Формула изобретения
Редактор П. Горькова Техред Л.Пекарь
Корректор H. Король Заказ 10505/5 Тираж 508 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35,. Раушская наб., д. 4/5
Филиал ППП "Патент", г. ужгород, ул, Проектная, 4 чительных пределах, например на порядок.
Пленку толщиной 0,2 мм слегка растягивают, чтобы не было провисания.
Пленку проводят над очищенной поверхностью со скоростью 8 мм/с. Крупная 5 пыпь, находящаяся на поверхности зеркала, притягивается к пленке, имеющей высокий статический диэлектрический заряд. Использование пленки позволяет очищать поверхность от доволь-10 но больших соринок в виде крупного вогса н т.д., при этом царапин не наблюдается. ПОсле очистки зеркала степень очистки 1.
Пленки должны быть не более 0,2 мм 5 по толщине. Работать с ними"удобно, так как они легко моются, обладают гибкостью, не оставляют собственной пыли.
Весь процесс очистки не требует затраты электроэнергии, создает условия быстрой и надежной очистки.Выигрыш по времени очистки зеркал, просто-. те исполнения, а глалное хорошее качество очистки являются достоинствами описываемого способа.
Способ очистки поверхности, преимущественно лазерных зеркал, путем передвижения пленки, обладающей статическим электрическим зарядом, над поверхностью, о т л и ч а ю щ и и с я тем, что, с целью повышения качества очистки, передвигают пленку из фторполимерных материалов толщиной
0,05-0,2 мм на расстоянии 0,2-0,3 мм оТ очищаемой поверхности.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1. Авторское свидетельство СССР .Р 617410, кл. С 03 С 23/00, 1976.
2. Патент США Р 3945647,кл.274-47, опублик. 1976.
