Способ измерения длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электроннолучевых трубок

 

ОЛ MCAHMK

И ЗОБРЕ7Е Н ЙЯ

Союз Советскик

Социвлистическик

Республик (11699487

i !

tj,:,, -; - :: е (51) М. Кл.

G04 F 13/00 (6l ) Дополнительное к авт, свид-ву— (22) Заявлено 08.02.78(21) 25775 10/18-10 с присоединениеы заявки,% (23)приоритет

Опубликовано 25.11.79. Бюллетень И 43

Дата опубликования описания 28. 11.79

Геерррстеенньй ееиетет

СССР ее делам еэебретеиел в етлрмтей (gg) ygy 681.11 (О 88. 8) (72) Авторы изобретения

A. М. Кубипис и 10. И. Попесский (7I ) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИТЕЛЬНОСТИ ПЕРЕХОДНЫХ ПРОЦЕССОВ

B. СИСТЕМАХ УПРАВЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОННЫМИ ПУЧКАМИ

ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВЫХ ЧРУБОК

Изобретение относится к измеритепьной технике и может быть использовано при исспедовании процессов отклонения и фокусировки.

Известен способ опредепения дпитепьности переходных процессов в эпектромагнитной откпоняюшей системе, основанный на напожении изображений, высвечиваемых при прямом и обратном ходе пуча (11.

Недостатками этого способа являются сравнитепьно низкая точность и спожность измерения. Эти недостатки вызваны сложностью опредепения точки пересечения линий прямого и обратного хода луча.

Бель изобретенФ - повышение точ» ности измерений и расширение функционапьных возможностей.

Дпя этого по предлагаемому способу предварительной регулировкой величин управпяюших сигналов в статическом режиме устанавпивают требуемые значения параметров следа эпектронного пучка на экране эпектроннопучевой трубки, после чего подают в исспедуемые цепи управпяюшие сигнапы в виде периодических импульсов прямоугольной формы, причем

S длительность импульсов устанавливают больше ожидаемой дпитепьности переходного процесса, а амппитуду — равной значению, установленному в статическом режиме, электроннолучевую трубку отпирают периодическими импульсами, дпитепьность которых меньше длительности импульсов управляющих сигналов, периодические импульсы формируют синхронно с импульсами управпяюших сигналов с задержкой относнтепьно их передних фронтов, На чертеже изображена структурная схема установки, реапизуюшей предпагаемый способ.

Установка содержит эпектроннопучевую трубку 1, откпоняюшую систему 2, системы динамической фокусировки 3 и статической фокусировки 4, генератор прямоугольных импульсов 5, перекпю3 699 чатели 6, 7 и 8, электронные ключи 9, 10 и 11, регулируемые источники тока

12-15, регулируемый эпемент задержки

16, формирователь импульсов подсвета 17, микроскоп 18, механизм 19 пе.ремещения микросюпа, шины нулевого потенциала 20 и опорного напряжения 21

Способ осуществляют следующим образом.

Переключателями 6, 7 и 8 подкпючают t0 входы ключей 9, 10 и 11 к шине 20 ну,левого потенциала. При атом выходы источников тока 12, 13 и 14 отключаются от отклоняющей системы 2 и системы диНамической фокусировки 3. Регупиров- 15 кой источника тока 15 фокусируют неотклоненный луч, после чего переключателями 6, 7 и 8 подключают входы кпючей

9,10 и ll к шине опорного напряжения.

При этом кпючи 9„10 и 11 подключают источникит тока 12, 13 и 14 к катушкам отклоняющей системы 2 и системы динамической фокусировки 3. Регулировкой тока источников 12 и 13 обеспечивают отклонение луча в заданную точку экрана ЗЛТ, а регулировкой тока источника 14 фокусируют откпоненный луч. Отпирание

ЭЛТ осуществляют периодическими импульсами, формируемыми формирователем им ул и под та 17, pa6oTa rmmporo 30 синхронизирована генератором прямоугопьных импульсов 5. Механизмом перемещения 19 устанавливают микроскоп 18 так, чтобы световое пятно, формируемое на экране ЗПТ, оказалось (приблизительно) в центре поля зрения микроскопа. Отмечают положение светового пятна. После этого переключателями 6 и 7 подсоединяют входы кпючей 9 и 10 к выходу ге40 нератора 5 прямоугольных импульсов.

Световое пятно занимает положение, соответствующее началу переходного процесса. Увеличивая задержку при помощи элемента задержки 16, наблюдают пе45 ремещение светового пятна в поле зрения микроскопа. Определяют положение регулятора элемента задержки 16, при котором пятно с заданной точностью устанавпивается в попожение, определенное

50 в статическом режиме, и отклонение от этого гЬложения не увеличивается при дальнейшем увеличении задержки.

По показаниям шкалы элементе задержки 1 6 опредепяют дпительность переходного

55 процесса отклонения. Аналогичным образом определяют длительность переходного процесса в системе динамической фокусировки.. Переключателями 6, 7 и 8I

487 4 подкпючают входы ключей 9, 10,11 к шине 20 нулевого потенциала и регулировюй тока источника 15 фокусируют луч. После этого переключатепями 6,7 и 8 подключают входы кпючей 9, 10. и

11 к шине опорного напряжения 21 и регулировкой тока источника 12, 13 и

14 обеспечивают требуемое положение и размер светового пятна. Затем переключателем 8 подключают источник тока

14 к генератору 5 и, увепичивая задержку, добиваются размеров пятна, установленных в статическом режиме. Нлитепьность переходного процесса определяют по показаниям шкалы элемента задержки.

Способ применим также для определения длительности переходных процессов в системах динамической коррекции астигматизма.

Формула изобретения;

Способ измерения длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электроннолучевых трубок, основанный на формировании периодических импульсов управляющих сигналов в исследуемых цепях фокусируюше-отклоняющей системы и наблюдении за величиной соответствующего параметра следа электронного пучка на акране электроннолучевой трубки, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности и расширения функциональных возможностей, предваритепьной регулировкой величин управпяюшнх сигналов в статичесюм режиме устанавливают требуемые значения параметров следа алектронного пучка - положения, размеров, формы - на экране электроннолучевой трубки, после чего подают в исследуемые цепи управляющие сигналы в виде периодических импульсов прямоугольной формы, причем длительность импульсов устанавливают бопьше ожидаемой длительности переходного процесса, а амплитуду — равной значению, установленному в статичесюм режиме, электроннолучевую трубку отпирают периодическими импульсами, длительность юторых устанавпивают меньше длительности импульсов управляющих сигналов в исследуемых цепях, периодические импульсы формируют синхронно с импульсами управпяющих сигналов в исследуемых цепях с задержкой относительно их передних фронтов.

Источники информации, принятые во внимание при акспертизе

1. Вопросы радиоэлектроники, серия Техника телевидения", вып. 3, 1 970, с. 53-5 5.

699487

Составитель Г. Виноградова

Редактор Т. Иванова Техред О. Андрейко корректор Е. Папп

Заказ 7225/51 -Тираж 502 Подписное

UHHHHH Государственного комитета СССР по делам,изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент, г. Ужгород,. ул. Проектная, 4